RFA Spektrometer Preis

Wie viel kostet ein RFA Spektrometer?

Auf dem Markt gibt es eine breite Palette an Röntgenfluoreszenzspektrometer (RFA), die von kleineren Hand- und Tischgeräten bis hin zu größeren Standsystemen reichen. Alle Systeme unterscheiden sich hinsichtlich Funktionalität und Leistung. Alle wurden jedoch entwickelt, um die grundsätzlichen Aufgaben zu erledigen, mit denen sich die Benutzer konfrontiert sehen. Obwohl Handgeräte immer die wirtschaftlichste Lösung darstellen, gibt es tragbare Tischgeräte wie das Epsilon 1, die in einem vergleichbaren Budgetbereich – in der Regel zwischen 23.000 und 45.000 Euro– liegen. 

Preisvergleich zwischen tragbarem RFA-Tischgerät und RFA-Handgerät, was bringt mir einen echten Mehrwert? 

Wenn Tischgeräte also zu einem ähnlichen Preis wie ein Handgerät zu haben sind, worin liegt dann der entscheidende Unterschied? Sollte ich mich für die einfache Bedienung eines RFA-Handgeräts entscheiden, um ein Ergebnis zu erhalten? Oder gibt es weitere Aspekte, die bei der richtigen Entscheidung zu berücksichtigen sind? Zu den Hauptvorteilen des tragbaren RFA-Tischgerät Epsilon 1 gegenüber einem Handgerät gehören:

  • Einfacher Wechsel zwischen verschiedenen Probentypen und -zusammensetzungen
  • Zuverlässigere und präziserer Messungen
  • Automatische Korrektur von Umgebungstemperatur- und Druckschwankungen
  • Kosteneinsparung durch Vermeidung unnötiger Folgeanalysen
  • Vollständige Röntgenabschirmung für einen sicheren Betrieb

Investition für ein RFA Spektrometer

Wie wähle ich die passende Lösung für meine Aufgabe aus und welches Budget sollte ich einplanen? Unsere Experten können gemeinsam mit Ihnen Ihre Proben und Anforderungen besprechen und Ihnen anschließend ein entsprechendes RFA Spektrometer empfehlen. Um Kontakt aufzunehmen, klicken Sie bitte auf Verkauf kontaktieren.

Revontium

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Kompakte Brillanz, leistungsstarke Analyse, unendliche Möglichkeiten

Zetium

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Elementare Leistung

Epsilon-Serie

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Schnelle und genaue Elementaranalyse – vor Ort und online

Epsilon Xflow

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Direkter Einblick in Ihren Produktionsprozess

2830 ZT

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Fortgeschrittene Lösung für die Halbleiter-Dünnschicht-Messtechnik

Axios FAST

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Hoher Probendurchsatz

Typ der Messung
Dünnschicht-Messtechnik
Elementaranalyse
Erkennung und Analyse von Verunreinigungen
Quantifizierung von Elementen
Chemische Identifikation
Technologie
Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA)
Wellenlängendispersive Röntgenfluoreszenzanalyse (WDRFA)
Energiedispersive Röntgenfluoreszenzanalyse (EDRFA)
Elementbereich Na-Am Be-Am F-Am Na-Am B-Am B-Am
LLD 0.1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100%
Auflösung (Mg-Ka) 145 eV 35eV 145eV 135eV 35eV 35eV
Probendurchsatz 200pro 8 Std. Tag 160pro 8 Std. Tag - 240pro 8 Std. Tag Up to - 160pro 8 Std. Tag on-line up to 25 wafers per hour 240pro 8 Std. Tag - 480pro 8 Std. Tag
Format Compact Floorstanding WDXRF Benchtop EDXRF Realtime Semi Floorstanding WDXRF