Dünnschicht-Messtechnik
Verbesserung der Schichtqualität durch Dünnschicht-Messtechnik
Verbesserung der Schichtqualität durch Dünnschicht-Messtechnik
Malvern Panalytical bietet Ihnen die optimale Messtechnik für die Entwicklung und Produktionskontrolle von schichtbasierten Mikro- und optoelektronischen Bauteile an.
X-ray Diffraction (XRD)
Vielseitiges Röntgendiffraktometer für Forschung und Entwicklung
X-ray Diffraction (XRD)
Vielseitiges Röntgendiffraktometer für Forschung, Entwicklung und Qualitätskontrolle
Die auf Röntgentechnologie basierenden Dünnschicht-Messtechniken wie XRD, XRR und RFA sind schnelle und zerstörungsfreie Verfahren. Sie haben sich als besonders leistungsfähig erwiesen für die Ex-Situ-Untersuchung kritischer Materialparameter von Dünnschichten, Heterostrukturen und Übergittersystemen bis in den Nanometer-Bereich.
Die Ergebnisse sind für die Optimierung der Schichtqualität essenziell, denn sie erhöhen die Produktionseffizienz und reduzieren Kosten.
Fortgeschrittene Lösung für die Halbleiter-Dünnschicht-Messtechnik
Vielseitiges Röntgendiffraktometer für Forschung und Entwicklung
Vielseitiges Röntgendiffraktometer für Forschung, Entwicklung und Qualitätskontrolle
