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Epsilon 1 pour la teneur en soufre ultra-faible (TSUF)

Une analyse conforme avec des coûts d'exécution faibles

  • Pré-calibré pour analyser la faible teneur en soufre des carburants
  • Analysez jusqu'à 5 ppm de soufre et de chlore
  • Pas besoin d'hélium

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Présentation

L'Epsilon 1 TSUF est la solution analytique idéale. Pré-étalonné en usine, notre instrument est une solution prête à l'emploi pour l'analyse de la faible teneur en soufre des carburants. 

Il est conforme à la norme ISO 13032 et à de nombreuses autres méthodes de test internationales relatives au soufre, notamment ASTM D4294, ISO 20847, ISO 8754, IP496, IP336 et JIS K2541-4.

L'Epsilon 1 TSUF vous fournit des données précises et exactes à partir de 5 ppm de soufre et de chlore, avec une préparation d'échantillons minime, sans besoin d'hélium, ce qui vous permet de réduire au minimum les coûts totaux d'exécution.

Quantification robuste et flexible

L'Epsilon 1 est un instrument de spectrométrie de fluorescence X de paillasse de qualité supérieure, pré-étalonné pour l'analyse de la teneur en soufre ultra-faible dans les carburants automobiles.

Il est entièrement conforme aux dernières méthodes de test internationales, y compris les plus strictes : ISO 13032. Les résultats du test de répétabilité pour le soufre se situent bien dans les limites fixées par cette norme. 

Vous souhaitez effectuer une analyse de traces de chlore dans les pétroles bruts ? Il s'agit d'une autre option de pré-étalonnage de l'instrument Epsilon 1 TSUF.  

Epsilon 1 ISO - sequence chart.jpg

Fonctionnalités

  • Sensibilité maximale au soufre et au chlore : Le nouveau tube à rayons X à anode vanadium et fenêtre fine, spécifiquement conçu et fabriqué par Malvern Panalytical, garantit une sensibilité élevée et des mesures de qualité supérieure. L'utilisation du vanadium comme matériau de l'anode est idéale pour la quantification du soufre et du chlore sans l'interférence d'éventuels recouvrements de raie dans le spectre de fluorescence X, engendrant ainsi des résultats plus fiables et précis. De plus, vous serez heureux d'apprendre que l'analyse du vanadium et du nickel est possible aux niveaux requis pour protéger vos catalyseurs. 

  • Pas besoin d'hélium gazeux : L'Epsilon 1 vous fournit des données précises et exactes, tout en bénéficiant d'une préparation d'échantillons et de coûts d'exploitation minimes. Avec la haute sensibilité des composants d'excitation et de détection, vous n'avez pas besoin d'hélium gazeux pour obtenir des résultats conformes à la norme ISO 13032. Les capteurs de pression et de température de l'air de l'instrument, associés à des algorithmes logiciels avancés, garantissent que chaque résultat de mesure est stable et indépendant des conditions environnementales. Ces innovations permettent de réduire au minimum les coûts totaux d'exécution.

  • Protection contre les déversements : Un film de protection contre les déversements est en place pour protéger le cœur fragile du système. En cas de déversement, les feuilles peuvent être remplacées facilement par l'opérateur.

  • Communication facile : Des connexions USB et réseau pour des périphériques informatiques standard permettent une utilisation prolongée, le développement d'applications et la position assise de l'opérateur.

  • Système autonome : Un ordinateur intégré exécutant Microsoft Windows 10 et équipé d'un processeur puissant et d'un disque dur de 120 Go vous offre la flexibilité de stocker et gérer des milliers de résultats. L'écran tactile LCD de 10,4 po (26,4 cm) haute résolution est idéal pour un déplacement aisé.

Applications clés

Cette configuration de l'instrument est conçue et fabriquée pour les applications pétrochimiques, en particulier pour des raffineries où le soufre et le chlore sont des éléments essentiels.

L'Epsilon 1 est conforme à de nombreuses méthodes de test internationales relatives au soufre pour les instruments EDXRF, telles que :

  • ISO 13032
  • ASTM D4294
  • ISO 8754
  • ISO 20847
  • IP 336
  • IP 496
  • JIS K2541-4

Spécifications

Manipulation des échantillons

Chargement d'échantillon Positionnement d'échantillons hautement reproductible
Taille d'échantillon Généralement liquide de 5 ml
Safety Protection contre le déversement de liquides
Tests réglementaires Analyse du soufre conforme à la norme ISO 13032
Analyse du chlore dans les pétroles bruts

Tube à rayons X

Features Fenêtre latérale en céramique à haute stabilité
Fenêtre Be fine de 50 micromètres (Be)
Anode vanadium, idéal pour l'analyse du soufre et du chlore
Alimentation Contrôlé par logiciel, tension max. de 30 kV

Détecteur

Résolution Haute résolution, généralement 135 eV
Features Fenêtre Be fine de 8 micromètres (Be)
Capacité élevée du taux de comptage

Fonctions logicielles

Logiciels

Facultatif, selon les besoins, par exemple :

  • Stratos 
  • FingerPrint
  • Omnian
  • Audit Trail
Interface
Mode opérateur avec de grandes touches pour un fonctionnement simplifié
Mode avancé comportant de nombreuses fonctionnalités

Accessoires

Étalons (matériaux de référence)

MRC

Claisse est toujours là pour répondre à vos besoins !

Claisse fournit à ses clients du monde entier des matériaux de référence certifiés (CRM) et des matériaux de référence (RM) de qualité à des prix compétitifs. Quels que soient vos besoins, Claisse s'efforce de vous fournir les services complets nécessaires pour obtenir la solution idéale pour vos analyses spectroscopiques XRF, AA et ICP.

Logiciels

Logiciel Epsilon

Progiciel EDXRF analytique pour systèmes de paillasse Epsilon

La plate-forme logicielle Epsilon d'analyse par spectrométrie de fluorescence X est utilisée dans toute la gamme des systèmes de paillasse Epsilon 1 et Epsilon 4 EDXRF de PANalytical. Le logiciel offre toutes les fonctions nécessaires à la configuration et au fonctionnement d'un système de paillasse Epsilon. L'assemblage du programme analytique est grandement facilité par le haut degré d'intelligence intégré au logiciel, ce qui permet aux utilisateurs de bénéficier d'un demi-siècle d'expertise en applications. L'analyse XRF quotidienne est une tâche de routine qui peut être facilement réalisée par du personnel inexpérimenté après un minimum d'instructions. De nombreuses fonctionnalités sont présentes pour améliorer l'ergonomie du logiciel.

Stratos

Détermination de la composition et de l'épaisseur des revêtements et multicouches

Le module logiciel Stratos est doté d'un algorithme qui permet de déterminer simultanément la composition chimique et l'épaisseur des couches de matériaux à partir des mesures effectuées. Le logiciel propose un moyen rapide, simple et non destructif d'analyser les revêtements, les couches superficielles et les structures multicouches. Virtual Analyst fournit des informations lors de la configuration des programmes de mesure pour les piles complexes. 


Disponible à la fois pour les spectromètres EDXRF Epsilon 4 et XRF Zetium, Stratos offre des résultats rapides et fiables, quel que soit le type d'échantillon ou la matrice.

Omnian

Analyse sans étalon de tous les types d'échantillons

Le système Omnian permet aux utilisateurs d'obtenir les meilleures analyses lorsqu'il n'existe aucune méthode dédiée ni d'étalon certifié. Progiciel d'analyse sans étalon avant-gardiste, Omnian intègre un logiciel de pointe et des échantillons de configuration qui transcendent les technologies. Disponible pour les spectromètres Epsilon 1, Epsilon 4 et Zetium, Omnian offre des résultats rapides et fiables, quel que soit le type d'échantillon ou la matrice.

FingerPrint

Identification instantanée des matériaux

Un module logiciel FingerPrint combiné avec un système EDXRF Epsilon 4 est idéal pour les essais de matériaux lorsque la vitesse d'analyse est importante mais que la composition réelle ne présente aucun intérêt. FingerPrint implique généralement peu ou pas de préparation d'échantillons et n'est pas destructif.

Enhanced Data Security

Sécurisation des données et satisfaction des contrôleurs

Le module EDS (Enhanced Data Security) est une option logicielle qui offre une meilleure confiance dans les résultats pour les utilisateurs du spectromètre XRF Zetium (via le logiciel SuperQ) et du spectromètre XRF Epsilon. Grâce à des fonctionnalités telles que la gestion avancée des utilisateurs, la consignation des actions, la protection des données et l'affectation de l'état des applications, EDS vous aide à renforcer votre piste d'audit, à minimiser les risques d'erreur et à prouver que votre instrument XRF fonctionne comme prévu.

Préparation des échantillons

Claisse LeNeo

Conservez une longueur d'avance grâce l'expertise de Claisse dans la fusion

L'instrument de fusion Claisse LeNeo prépare des perles pour l'analyse XRF ainsi que des solutions de borate et de peroxyde pour les analyses AA et ICP. Il s'agit d'un instrument électrique à une seule position.

Installation intelligente

Une fois installé correctement, votre nouveau système Epsilon 1 vous donnera des résultats d'analyse fiables. L'installation d'un système Epsilon 1 est simple : déballez le système, branchez-le et suivez les instructions qui vous guideront. Enfin, un simple test de rayonnement conclut l'installation et permet de confirmer que votre système fonctionne en toute sécurité. Oui, commencer à utiliser votre système Epsilon 1 n'est pas plus compliqué que ça. Et, plus important encore, soyez assuré que votre système est fourni avec la certification de sécurité nécessaire.

L'installation intelligente vous permet de mettre de nouveaux instruments en service même en cas de circonstances inattendues ou lorsqu'un établissement est trop éloigné pour qu'un ingénieur y accède. Pour l'Epsilon 1, nous proposons une installation intelligente guidée qui vous permet d'installer le système vous-même et de maintenir l'intégrité de l'instrument et de sa certification de sécurité.

Avantages de l'installation intelligente guidée :

  • Soyez opérationnel rapidement
  • Économisez sur les coûts d'installation
  • Installez le système quand cela vous convient
  • Période de garantie étendue à 15 mois

En savoir plus sur l'installation intelligente.

Manuels d'utilisation

Téléchargements de logiciels

Veuillez contacter l'assistance pour obtenir la dernière version du logiciel.

Assistance

Auto-assistance

Regardez notre série de vidéos d'instructions de base pour en savoir plus sur l'Epsilon 1 :

Équipements

Solutions pour optimiser votre retour sur investissement

Pour garantir que votre instrument reste en parfait état et qu'il fonctionne au plus haut niveau, Malvern Panalytical offre toute une gamme de services. Notre expertise et nos services d'assistance assurent un fonctionnement optimal de votre instrument.

Assistance

Service à vie

  • Assistance téléphonique et à distance
  • Maintenance préventive et contrôles
  • Contrats de service client flexibles
  • Certificat de performances
  • Mises à niveau matérielles et logicielles
  • Assistance locale et mondiale

Expertise

Ajout de valeur à vos procédés 

  • Développement/optimisation de la préparation d'échantillons
  • Méthodes analytiques 
  • Solutions clé en main pour XRD 
  • Opérations via QI/QO/QP, assurance qualité (BPL, ISO17025) ou études d'essais comparatifs/interlaboratoires
  • Automatisation des procédés de laboratoire
  • Services de conseils

Formation et éducation

  • Formation sur site ou dans nos centres de compétence
  • Large gamme de formations élémentaires et approfondies sur les produits, les applications et les logiciels

Services analytiques et matériel d'étalonnage

  • Services d'analyses d'experts (XRF)
  • Analyse d'oxydes et d'éléments traces
  • Matériel d'étalonnage personnalisé
XRF petit, puissant et portable.

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