ガイド：ゼータサイザーによる分子量測定
ゼータサイザーソフトウェアを使用した分子量測定？
最初にいくつかの注意事項：一般的に、分子量またはMw測定は簡単ではなく、時間がかかり、良好な試料調製技術と忍耐が必要です。Malvern ゼータサイザーを初めて使用する場合は、動的光散乱 (DLS) の迅速でユーザーフレンドリーで寛容な技術にまず慣れるのが最良かもしれません。{{経験豊富でゼータサイザーを詳しく見たい場合は、光散乱技術の進化へ進んでください}}。
さて、それでは、ソフトウェアは比較的簡単な濃度シリーズ法を使って静的光散乱を処理することができます。必要なのは以下の通りです：
- 散乱標準（通常、トルエンにデフォルトされています）
- 分散媒または溶媒（試料が分散されるもの）
- 分散媒の中での濃度の一連のもの（5つ以上の異なるものが良い数です）
傷、壁の厚さの違い、絶対散乱強度を変える可能性のある製造不良などによる逸脱を避けるために、質の高いガラスまたは石英キュベットを推奨します。
ソフトウェア内の濃度計算機（無料ダウンロード）は、分子量測定に適した濃度範囲に関するガイドを提供できます。これにアクセスするにはツール – 計算機 – 
濃度ユーティリティ。例えば、予想される分子量が75,000の試料では、0.2から2.0 g/Lの範囲の濃度が適切です。（これはあくまで推定ガイドの推奨値であり、その範囲外でも動作する可能性があります）。
SOP（標準操作手順または測定方法）のセットアップでは、「測定タイプ分子量」のほとんどの設定は自明です。サイズ測定も実行し、部分的な結果を保存する（つまり、不適切な相関関数）設定を確認することを強くお勧めします。
対象外の結果のトラブルシューティングを行うには、分子量測定法中にサイズ測定を行うと非常に簡単です。
なぜ分子量が全く合わないのか？
いくつかの原因が組み合わさって予期しない結果をもたらす可能性があります。
- 試料調製。散乱強度は、サンプル中のすべての寄与の合計であり、それが平均分子量をもたらします。凝集体、塵、デブリはすべてその平均に寄与します。フィルトレーション、遠心分離、またはクロマトグラフィーがサンプルを「クリーンアップ」するのに役立つことが多いです。DLSサイズ測定を実行して確認してください。
- 分散媒が清浄でない。最初の点と同様に、特に分散媒や溶媒の測定が不正確な場合、全体の結果に影響します。
- 不適切な散乱標準。トルエンは劣化する可能性があり、濾過が必要で、水との接触を避けるべきです。これはミセルを形成し、キュベットが清浄でない可能性があります。ゼータサイザーナノZSではトルエンのターゲットカウント率は150-350 kcps（ZSPでは400-700 kcps）であるべきです。粒子がないことを確認するためにDLS測定を行ってください。
- 不正確なdn/dc値。これは方程式の一部であり、その二乗と共に計算に入ります。dn/dcが20％誤ると、分子量は40％誤ることになります。
- 不正確な試料濃度値。試料が完全に溶解していない、濾過時に材料が失われる
これらのいずれも問題でない場合、データをお送りください。
ルーチンで分子量を測定する場合はGPCを使用してください！
静的光散乱は面倒な場合があります。この情報が定期的に必要な場合は、分離技術と併用した光散乱（SEC-MALSとして知られることが多い）を考慮する方が良いかもしれません。例えば、OMNISECのように、サンプルは常に分離メカニズムによって自動的に「クリーンアップ」されます。
以上の説明が、ゼータサイザーでの分子量測定の向上に役立つことを願っています。
ゼータサイザーとその機能のナレーション付きビデオはこちらで探せます：光散乱技術の進化。
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