レーザ回折式粒子径分布測定装置 マスターサイザーシリーズをご利用中のユーザ様対象の研修でお配りしている資料です。レーザ回折法の測定原理の説明からマスターサイザーシリーズ測定時の注意点などを詳しく記載しています。

▼PDFをダウンロードするには、ページ下部より会員登録の上、ログインしてください。

目次

  • 粒子径分布の基礎 
    粒子径の定義方法 
    「測定精度」とは 
    測定原理によって値は変わる
  • レーザ回折・散乱法 
    レーザ回折・散乱法の原理 
    レーザ回折・散乱法の演算方法 
    粒子径分布演算に使用する理論値の計算 
    フラウンフォーファ理論とMie理論の計算結果比較
  • ハードウェア・ソフトウェアの構成 
    レーザ回折・散乱式粒子径測定装置マスターサイザー3000 
    ソフトウェア-バックグラウンドの最適化 
    ソフトウェア-屈折率入力の最適化 
    サンプリングの最適化
  • レーザ回折式粒子径分布測定装置 買い替え時のデータ移行
  • レーザ回折・散乱式にありがちな「変なデータ」の原因と対処法
  • レーザ回折・散乱式の特徴 まとめ
  • 付録 -「光学特性最適化プログラム」のご紹介

動画学習コンテンツのご案内

ユーザ様研修と同等の内容をYouTubeでも公開しています。こちらも併せてご活用ください。

ログイン

初めての方

会員登録いただくと、以下のような会員様限定コンテンツを無料でご覧いただけます。

  • 録画版ウェブセミナー、プレゼン資料、動画
  • アプリケーションノート、技術資料、記事、ホワイトペーパー、ソフトウェアダウンロード

加えて、以下の情報が定期的に届くメールニュースにも任意でご登録いただけます。

  • 最新のマルバーン・パナリティカル製品情報、技術情報、分析について学べるセミナー・ウェブセミナー・イベント情報