Omnian(多様な材料のスタンダードレス元素分析用)

全く未知のサンプルに出会った場合、またはキャリブレーション用標準サンプルや参照物質が容易に、またはまったく入手できない場合には、スタンダードレスXRFソリューションは貴重な解決策です。 Omnianを使用すると、専用のXRF分析方法や認定済み標準物質が存在しない場合に、最良の定量結果を導き出します。 Omnianは、Available for Zetium、Axios、またはMagiX、およびEpsilonベンチトップシリーズ分光計で使用でき、サンプルタイプやマトリックスに関係なく即座に信頼性の高い結果を得ることができます。

Omnianは、FからUまでのすべての元素に対応します。 圧粉、溶融ビーズ、ルース粉などの幅広いサンプルで、定量分析結果を得ることができます。 所定のサンプルの元素分析に加えて、Omnianは「単発」のサンプルの元素分析、スクリーニングおよび問題解析を簡単にすばやく実行できます。

迅速な評価のために、OmnianはWD XRFシステムで高速スキャンモードを使用して、わずか2分で信頼性の高い結果を生成します。 これは、特定の元素ピーク測定の時間節約方法を組み合わせて、スキャン方法でのみ生成された正確なバックグラウンド計算を使用することで可能になります。 スキャンベースのプログラムは、微量元素、および痕跡元素分析に高い精度が求められる場合、特定のチャネルを使用して拡張されます。

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Omnianモジュールは、ソフトウェアと設定サンプルの組み合わせで構成されています。 設定サンプルは、非常に難解なマトリックスでも分析できるよう綿密に設計されています。 純粋な初期材料で作られた設定サンプルは、Omnianソフトウェアを分光計の繊細な設定に合わせて微調整するために使用され、半定量化方法の制限に対処するスペクトル要素の機能を組み込むことができます。

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Omnianモジュールには、次のものが含まれます。

• 設定サンプルとドリフトモニター用サンプルのセット

• 設定サンプルの濃度、使用率、および処理に関する情報が記載された文書

• 安全に保管するためのスーツケース

Omnianモジュールと設定サンプルは、Zetium、Axios、またはMagiX、およびEpsilonベンチトップシリーズなどのMalvern Panalytical装置と組み合わせて使用するよう設計されています。 特定のハードウェア要件が適用されます。このモジュールは、新しいシステムで事前キャリブレーションされて提供されますが、SuperQソフトウェアを実行している既存の装置にも取り付けることができます。 Omnianの設定サンプルは、個別に使用することもできます。