校正用基準粒子

キャリブレーションモジュールと参照物質

分析法のキャリブレーションと検証には、トレーサブルな参照物質と適切な手法を使用する必要があります。Malvern Panalyticalは、元素分析、粒径、ゼータ電位、分子量に対応するさまざまなキャリブレーションモジュールと参照物質を提供します。キャリブレーションパッケージは、Malvern Panalyticalのシステム/ソリューションと組み合わせて使用するよう設計されています。一部のパッケージには、適切に設定し使用できるようにするための測定方法テンプレートが含まれています。

当社は特定の物質タイプに対応し、マトリックスに適合するXRFキャリブレーションを作成するためのサンプルを認証することもできます。

さらに、特別なソリューションが必要な場合、さまざまなサプライヤと密接に連携し、お客様のニーズを満たす最適な認証参照物質を見つけます。 

蛍光X線による元素分析

XRFキャリブレーションモジュールと標準物質については、下記を参照してくださいOmnian(様々な試料でのスタンダードレス元素分析用)Stratos(...
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小角X線散乱法

使用可能な小角X線散乱法のサンプルについては、下記を参照してください。 ...
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