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ASD FieldSpec® 4 Hi-Resは、高速で正確なスペクトルデータ測定を行うために設計されており、広範なリモートセンシング用途に対応する高分解能分光光度計です。
ASD FieldSpec® 4 Hi-Res分光光度計の3 nm VNIR、8 nm SWIRスペクトル分解能は、太陽放射照度の全範囲(350～2500 nm)で優れたスペクトル性能を提供します。 SWIR範囲(1000～2500 nm)で向上したスペクトル分解能は、大気分析の変質する鉱物やガスなどの長い波長内の狭いスペクトル幅の特性を持つ化合物の検出や識別に特に役立ちます。
また、8 nm分解能は、ほとんどのハイパースペクトルセンサーのスペクトル分解能を満たすか超えており、ASD FieldSpec 4 Hi-Res分光光度計はセンサーの検証や校正、地上検証測定、スペクトルライブラリの構築に最適です。
すべてのASD FieldSpec分光光度計と同様に、ASD FieldSpec 4 Hi-Resは、高分解能分光計として使用でき、非常に正確な接触反射率測定を実行できます。
最適な用途: 最高の感度を必要とするユーザー。屋外およびリモート センシング アプリケーションに最適です。
優れた信号対雑音比： TerraSpec および LabSpec の 2 倍の感度があり、日光などの限られた自然光源での作業に最適です。
永久光ファイバーケーブル： 工場出荷時に取り付けられているため、接合ポイントでの信号損失がなく、最適なパフォーマンスが保証されます。
リモートセンシングに最適: 飛行センサーの地上検証、衛星データの照合、さまざまな環境条件下での正確なスペクトル測定の確保に使用されます。
日光での使用に推奨: 自然光の下での信頼性の高いデータ収集に不可欠です。
前分散システム
内部光源を利用して、サンプルに到達する前に光を分散させます。
後分散システム
反射後に光を分散させ、太陽などの外部光源を使用できるようにします。
ASD 機器で使用されている後分散システム技術は、優れた分析機能を提供します。
衛星や航空機の各種センサーデータと正確に相関、あるいは、同等のスペクトル情報を得ることが可能です。フィールド測定でも、各種光源を使用した測定や、ジオメトリ表示の組み合わせなどで、ラボ並みの高精度データの取得が可能です。
ラボ並みの結果をフィールドで — 野外環境で、「そのまま」の物質のスペクトル特性とそれらの生物的、物理学的な関連の研究に使用されています。
ASDシステムは、疾病状態、窒素吸収に関連する栄養状態、及び水分バランスなど植物の生理学的状態の評価が可能です。
可視的な見た目は変わらなくても、化学的・物性的にことなる特性を持つもの（カモフラージュ物）あるいは、可視的に検出できない遮蔽物に隠れた物体を検出するには、その目的物とバックグラウンドの化学的・物性的なコントラストが認識できるように適切なスペクトル情報を得る必要があります。
監視対象の分類は画像由来またはフィールド測定のスペクトル情報のいずれかを使用して実行されます。
野外で、正確に植物と土壌の反射率と放射定量の測定をすることは、植物群落内の光の利用と領域の確保を理解するために非常に重要です。
大豆やその他の農作物の油分の特性評価から、バイオ燃料処理での主要なパラメーターレベルの定量化や最終製品の品質分析まで、近赤外線(NIR)分光計は理想的な測定ツールです。
The ASD FieldSpec 4 full spectral range makes it ideal for field campaigns needed to ground-truth orbital measurements, which typically extend to the longer wavelengths.
Dr. Ulyana Horodyskyj — CEO of Science in the Wild
| スペクトル性能 | 350-2500 nm |
|---|---|
| 分解能 | 3 nm @ 700 nm
8 nm @ 1400/2100 nm
|
| スペクトル帯域幅 | 1.4 nm @ 350-1000 nm
1.1 nm @ 1001-2500 nm |
| 測定時間 | 100ミリ秒 |
| 光源 | VNIR 0.02%, SWIR 1 & 2 0.01% |
| Wavelength reproducibility | 0.1 nm |
| 波長精度 | 0.5 nm |
| Maximum radiance | VNIR 2X Solar, SWIR 10X Solar |
| チャネル数 | 2151 |
| 検出器 | VNIR検出器(350～1000 nm): 512素子シリコンアレイ
SWIR 1検出装置(1001～1800 nm): 屈折率分布型InGaAsフォトダイオード、二段階TE冷却
SWIR 2検出装置(1801～2500 nm): 屈折率分布型InGaAsフォトダイオード、二段階TE冷却
|
| Input | 1.5 m光ファイバー(視野: 25°)。 狭視野光ファイバーを使用可能(オプション)。 |
| Noise Equivalent Radiance (NEdL) | VNIR 1.0 X10-9 W/cm2/nm/sr @700 nm
SWIR 1 1.4 X10-9 W/cm2/nm/sr @ 1400 nm
SWIR 2 2.2 X10-9 W/cm2/nm/sr @ 2100 nm
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| 重量 | 5.44 kg (12 lbs) |
| 校正手法 | 波長、絶対反射率、放射輝度*、放射照度*. すべての校正は、NISTトレーサブルです。 (*放射測定校正はオプションです) |
| コンピューター | Windows® 10 (64ビット) ノートパソコン(機器コントローラ) |
| Warranty | 一年間の完全保証(エキスパートカスタマーサポートを含む) |
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