개요

장소의 제약이 없는 Epsilon 4

Epsilon 4는 설치 인프라 요건이 까다롭지 않아 어떠한 공정에서도 생산 라인 바로 옆에서 운용할 수 있습니다. 또한, 강력한 성능으로 대부분의 응용 분야에서 대기 조건에서도 작동할 수 있어 헬륨 또는 진공 유지를 위한 비용이 절감됩니다.
장소의 제약이 없는 Epsilon 4

분석 이상의 가치

에너지 분산 X선 형광 분광기는 ppm 미만 수준부터 100wt% 범위의 농도를 가진 탄소(C)에서 아메리슘(Am)에 이르는 원소의 분석이 가능합니다. 

무표준 분석에는 Omnian을, 분석 속도가 중요한 경우 재질 테스트용으로 FingerPrint를, 코팅과 표면층 및 다층 구조에 대한 신속하고 간단한 비파괴적 분석을 수행하려면 Stratos를 사용하십시오. 또한 FDA 21 CFR Part 11과 같은 규정 준수를 지원하는 Enhanced Data Security를 사용하거나, 미사용 및 기사용 윤활유에서 연료-바이오연료 혼합물의 정량 분석에는 Oil-Trace를 사용할 수 있습니다.

분석 이상의 가치

모든 종류의 샘플 분석 가능

Epsilon 4는 고체, 압착 및 가루 분말, 액체 및 필터를 포함한 다양한 유형의 샘플을 처리할 수 있습니다. 또한 샘플 중량이 밀리그램 단위에서 킬로그램 단위이고 100%에서 ppm 미만 수준의 농도를 가진 탄소(C) 및 불소에서 아메리슘(Am)에 이르는 원소에 대해 비파괴 방식의 정량적 분석을 수행합니다.
Epsilon 4는 시멘트 생산, 채광, 광물질 선광, 철, 강철 및 비철금속, RoHS 스크리닝 및 정량화, 석유 및 석유화학, 고분자 및 관련 산업, 유리 생산, 법의학,
제약, 보건의료 제품, 환경, 식품 및 화장품 등을 포함하는 다양한 산업 및 응용 분야에서, 경원소 분석이 가장 중요한 경우에도 기존 시스템 대비 견고하고 신뢰성 있는 대안으로 활용할 수 있습니다.
모든 종류의 샘플 분석 가능

특징

유연성이 높은 구성

Epsilon 4는 연구개발에서부터 공정 관리에 이르기까지 원소 분석(F – Am)을 위해 10와트 버전에서 사용 가능한 유연성이 높은 분석 도구입니다. 더 높은 처리량 또는 더욱 다양한 경원소 분석 범위가 요구되거나 더욱 까다로운 환경인 경우 탄소, 질소 및 산소 분석도 가능한 15와트 버전도 사용할 수 있습니다.
유연성이 높은 구성

최신 기술의 적용

Epsilon 4 기기는 최신 여기 및 검출 기술에 최첨단 분석 소프트웨어가 결합된 기기입니다. 15와트 X선 선관은 높은 전류(3mA)의 최신 실리콘 드리프트 검출기 SDD30 및 소형 광 경로 설계를 결합하여 50와트 전력의 EDXRF 또는 벤치톱 WDXRF 시스템보다 우수한 분석 성능을 제공하며 전력 효율도 더욱 향상되었습니다.
최신 기술의 적용

더 빠른 분석 속도와 더 높은 감도

더욱 높은 강도를 발생하는 최신 실리콘 드리프트 검출기 기술을 사용하여 신속한 측정이 가능합니다.
검출기의 고유한 전자 장치는 1,500,000cps(50% 불감 시간(dead time)에서)를 초과하는 선형 계수율 용량 및 스펙트럼의 분석 라인의 분리 개선을 위해 일반적으로 135eV보다 더 높은 계수율 비의존성 분해능을 제공합니다. 이를 통해 Epsilon 4 분광기는 최대 출력에서 작동할 수 있으며 따라서 기존 EDXRF 벤치톱 기기보다 훨씬 높은 시료 처리량을 제공합니다.
더 빠른 분석 속도와 더 높은 감도

헬륨 소모량 감소

Epsilon 4의 강력한 성능으로 인해 많은 응용 분야에서 대기 조건에서도 작동할 수 있기 때문에 헬륨 또는 진공 시스템 유지에 추가적인 시간과 비용이 소요되지 않습니다. 공기 중에서 측정 시 나트륨, 마그네슘 및 알루미늄의 저에너지 X선 광자 특성은 대기 압력과 온도 변화에 민감합니다. 내장형 온도 및 대기 압력 센서를 통해 이러한 환경 조건의 변화를 보상하여 날씨에 상관없이 탁월한 결과를 제공합니다.
헬륨 소모량 감소

사양

샘플 처리X선관검출기소프트웨어
10개 위치의 탈착식 샘플 교체기금속-세라믹 측면 창으로 최대 안정성 제공고분해능 실리콘 드리프트 검출기(SDD), 일반적으로 135eV @ Mn-KαOmnian 무표준 분석 솔루션을 사용한 원소 스크리닝
분광기에 최대 52mm(2인치) 직경의 샘플 수용 가능경원소(Na, Mg, Al, Si) 분석에서 높은 감도를 제공하는 50마이크로미터의 얇은 베릴륨 창50% 불감 시간(dead time)에서 최대 1,500,000회/s의 계수율FingerPrint 솔루션을 통한 통과/실패 분석
공기 필터 분석의 정확도를 높이기 위해 스피너 포함P, S 및 Cl 분석에서 최상의 성능을 제공하는 Ag 양극 X선 선관높은 감도를 제공하는 얇은 입구 검출기 창규정이 까다로운 환경에 대비한 Enhanced Data Security
최대 10cm 높이의 크기가 더 큰 샘플 분석을 위한 대형 샘플 모드

다층 샘플 분석을 위한 Stratos



미사용 및 기사용 윤활유에 함유된 마모 금속에 대해 Oil-Trace를 사용한 유연성 있는 한 번의 보정

악세서리

지원팀

서비스

투자 수익 극대화를 위한 솔루션

장비가 최상의 상태로 유지되고 최고 수준으로 작동하도록 하기 위해 Malvern Panalytical은 다양한 서비스를 제공하고 있습니다. 전문적인 기술과 지원 서비스를 통해 장비가 최적의 기능을 할 수 있도록 보장합니다.

지원팀

평생 서비스

  • 전화 및 원격 지원
  • 예방적 유지보수 및 점검
  • 유연한 고객 관리 계약
  • 성능 인증서
  • 하드웨어 및 소프트웨어 업그레이드
  • 지역 및 글로벌 지원

전문 기술

공정에 가치 추가 

  • 샘플 준비 개발/최적화
  • 분석 방법 
  • XRD를 위한 턴키 솔루션 
  • IQ/OQ/PQ, 품질 보증(GLP, ISO17025) 또는 순차순환/연구실간 연구를 통한 운영
  • 연구실 공정 자동화
  • 자문 서비스

훈련 및 교육

  • 현장 또는 Malvern Panalytical 교육 센터(competence center)에서 교육
  • 제품, 응용 프로그램 및 소프트웨어에 대한 다양한 기본 및 고급 과정

분석 서비스 및 교정 물질

  • 전문가(XRF) 분석 서비스
  • 산화물 및 미량 분석
  • 맞춤형 교정 물질