Quantifizierung von Elementen

Quantifizierung von Elementkonzentrationen mittels RFA und PFTNA

Quantifizierung von Elementen

In vielen Anwendungsbereichen ist die Kenntnis der Elementkonzentration ein entscheidender Faktor bei der Kontrolle von Materialeigenschaften oder der Einhaltung von Gesundheits- und Sicherheitsvorschriften. Daher reicht es oft nicht aus, lediglich das Vorhandensein von Elementen zu messen, sondern auch eine genaue Quantifizierung der Konzentration ist notwendig. 

Der erforderliche Genauigkeitsgrad ist abhängig vom Anwendungsbereich.

Quantifizierungstechniken

Röntgenfluoreszenz und Aktivierung mit gepulsten schnellen thermischen Neutronen sind zerstörungsfreie, stabile und einfach anzuwendende Analyseverfahren zur Bestimmung der Elementzusammensetzung verschiedener Materialien in einer Vielzahl von Anwendungen. Um mit diesen Verfahren Elementkonzentrationen zu quantifizieren, werden die gemessenen Intensitäten mit der von zertifizierten Referenzmaterialien oder mit bekannten Intensitäten interner Standards verglichen. Diese Standards sollten dem Probenmaterial so ähnlich wie möglich sein, um genaue Ergebnisse zu erzielen. Die gemessenen Konzentrationen werden auch von den physikalischen Eigenschaften der Probe beeinflusst, daher ist oft die Anwendung verschiedener Korrekturen notwendig, die von der Anwendersoftware durchgeführt werden.

Standardlose Software

In vielen Branchen ist ein schnelles Screening von Probenmaterial unbekannter Zusammensetzung ohne spezielle Standards erforderlich. 

In solchen Fällen kann eine standardfreie Analysesoftware wie Omnian eingesetzt werden, um die allgemeine Elementzusammensetzung zu bestimmen und semiquantitative Werte der Elementkonzentrationen zu erhalten.

So vergleichen Sie unsere Produkte

  • Zetium

    Hochwertige Stand-WDXRF-Spektrometer

    Zetium

    Typ der Messung

    • Dünnschicht-Messtechnik
    • Erkennung und Analyse von Verunreinigungen
    • Chemische Identifikation

    Technologie

    • Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA)
    • Wellenlängendispersive Röntgenfluoreszenzanalyse (WDRFA)
    • Energiedispersive Röntgenfluoreszenzanalyse (EDRFA)
    • Gepulste schnelle und thermische Neutronenaktivierungsanalyse

    Elementbereich

    • Be-Am

    LLD

    • 0.1 ppm - 100%

    Auflösung (Mg-Ka)

    • 35eV

    Probendurchsatz

    • Up to - 240pro 8 Std. Tag
  • Epsilon-Serie

    EDXRF-Tisch- und Online-Spektrometer

    Epsilon-Serie

    Typ der Messung

    • Dünnschicht-Messtechnik
    • Erkennung und Analyse von Verunreinigungen
    • Chemische Identifikation

    Technologie

    • Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA)
    • Wellenlängendispersive Röntgenfluoreszenzanalyse (WDRFA)
    • Energiedispersive Röntgenfluoreszenzanalyse (EDRFA)
    • Gepulste schnelle und thermische Neutronenaktivierungsanalyse

    Elementbereich

    • F-Am

    LLD

    • 1 ppm - 100%

    Auflösung (Mg-Ka)

    • 145eV

    Probendurchsatz

    • Bis zu - 160pro 8 Std. Tag
  • Axios FAST

    Hochdurchsatz-Simultan-WDXRF-Spektrometer

    Axios FAST

    Typ der Messung

    • Dünnschicht-Messtechnik
    • Erkennung und Analyse von Verunreinigungen
    • Chemische Identifikation

    Technologie

    • Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA)
    • Wellenlängendispersive Röntgenfluoreszenzanalyse (WDRFA)
    • Energiedispersive Röntgenfluoreszenzanalyse (EDRFA)
    • Gepulste schnelle und thermische Neutronenaktivierungsanalyse

    Elementbereich

    • B-Am

    LLD

    • 0.1 ppm - 100%

    Auflösung (Mg-Ka)

    • 35eV

    Probendurchsatz

    • 240-480
  • 2830 ZT

    Fortgeschrittene Lösung für die Halbleiter-Dünnschicht-Messtechnik

    2830 ZT

    Typ der Messung

    • Dünnschicht-Messtechnik
    • Erkennung und Analyse von Verunreinigungen
    • Chemische Identifikation

    Technologie

    • Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA)
    • Wellenlängendispersive Röntgenfluoreszenzanalyse (WDRFA)
    • Energiedispersive Röntgenfluoreszenzanalyse (EDRFA)
    • Gepulste schnelle und thermische Neutronenaktivierungsanalyse

    Elementbereich

    • B-Am

    LLD

    • 0.1 ppm - 100%

    Auflösung (Mg-Ka)

    • 35eV

    Probendurchsatz

    • bis zu 25 Waffeln pro Stunde
  • CNA-Produktlinie

    Online-Crossbelt-Elementaranalysatoren

    CNA-Produktlinie

    Typ der Messung

    • Dünnschicht-Messtechnik
    • Erkennung und Analyse von Verunreinigungen
    • Chemische Identifikation

    Technologie

    • Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA)
    • Wellenlängendispersive Röntgenfluoreszenzanalyse (WDRFA)
    • Energiedispersive Röntgenfluoreszenzanalyse (EDRFA)
    • Gepulste schnelle und thermische Neutronenaktivierungsanalyse

    Elementbereich

    LLD

    Auflösung (Mg-Ka)

    Probendurchsatz

  • SciAps Z-Serie

    Hochentwickelte Analyse ultraniedriger Elementkonzentrationen

    SciAps Z-Serie

    Typ der Messung

    • Dünnschicht-Messtechnik
    • Erkennung und Analyse von Verunreinigungen
    • Chemische Identifikation

    Technologie

    • Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA)
    • Wellenlängendispersive Röntgenfluoreszenzanalyse (WDRFA)
    • Energiedispersive Röntgenfluoreszenzanalyse (EDRFA)
    • Gepulste schnelle und thermische Neutronenaktivierungsanalyse

    Elementbereich

    LLD

    Auflösung (Mg-Ka)

    Probendurchsatz