Las técnicas de metrología de rayos X han seguido el ritmo del progreso en la industria a través del desarrollo de nuevas aplicaciones y tecnologías basadas en capas y siguen sirviendo como herramientas esenciales desde la etapa de I+D a través de la producción de pilotos hasta la fabricación automatizada a escala completa de dispositivos de semiconductores.
ZetiumExcelencia elemental |
Axios FASTAlto rendimiento de muestras |
2830 ZTSolución avanzada de metrología de película delgada de semiconductores |
Epsilon 4Análisis elemental en la línea rápido y preciso |
X'Pert³ MRDVersátil sistema XRD de investigación y desarrollo |
X'Pert³ MRD XLVersátil sistema XRD de investigación, desarrollo y control de calidad |
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Tipo de medición | ||||||
Metrología de película delgada | ||||||
Tecnología | ||||||
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) | ||||||
X-ray Diffraction (XRD) | ||||||
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) |