Espectroscopia de fluorescencia de rayos X y aplicaciones XRF
La fluorescencia de rayos X es una técnica analítica que se puede utilizar para determinar la composición química de una amplia variedad de tipos de muestras, entre los que se encuentran sólidos, líquidos, lodos y polvos sueltos. La XRF también se utiliza para determinar el espesor y la composición de capas y recubrimientos. Esta puede analizar elementos desde berilio (Be) hasta uranio (U) en gamas de concentración de un 100 %p a niveles sub-ppm.
La XRF es un método de emisión atómica, similar en este sentido a la espectroscopia de emisión óptica (OES, del inglés "Optical Emission Spectroscopy"), al plasma de acoplamiento inductivo (ICP, del inglés "Inductive Coupling Plasma") y al análisis de activación de neutrones (espectroscopía gamma). Estos métodos permiten medir la longitud de onda y la intensidad de la "luz" (rayos X en este caso) emitida por átomos energizados en la muestra.
En la FRX, la irradiación por un haz primario de rayos X procedente de un tubo de rayos X provoca la emisión de rayos X fluorescentes con energías discretas características de los elementos presentes en la muestra.
Figura, derecha: Ejemplo del proceso de fluorescencia de rayos X (XRF): 1) Fotón entrante 2) Fotón característico.
La XRF es una técnica analítica versátil que encuentra usos en un amplio espectro de industrias y campos científicos. Su adaptabilidad y precisión la han convertido en una herramienta indispensable para comprender y manipular la composición elemental de los materiales. Desde ayudar en la identificación de materiales y el control de calidad en las industrias hasta la preservación del patrimonio cultural y el avance de la investigación científica, la XRF continúa desempeñando un papel fundamental en mejorar nuestra comprensión del mundo elemental.
La XRF se utiliza ampliamente utilizada en procesos de calidad y control. Los usuarios pueden obtener rápidamente resultados precisos y exactos con un esfuerzo limitado en la preparación de muestras, y se puede automatizar fácilmente para su uso en entornos industriales de alto rendimiento. La precisión y la naturaleza no destructiva de XRF la convierten en una herramienta invaluable para el control de calidad en varios sectores de fabricación, como los siguientes:
La XRF juega un papel fundamental en la investigación y el desarrollo de materiales:
En los campos farmacéutico y médico, la XRF también tiene diversas aplicaciones:
Desde la preparación de muestras hasta la generación de informes de resultados, le ayudamos a desarrollar su flujo de trabajo ideal para satisfacer sus necesidades de análisis elemental.
Los instrumentos de Malvern Panalytical han impulsado la innovación de la XRF en varias áreas. Con la adquisición de SciAps en el 2024, incluidos sus analizadores de XRF portátiles de la serie X y los sistemas de sobremesa PowerHouse X, mejoramos aún más nuestra capacidad de ofrecer soluciones de vanguardia para el análisis elemental en entornos de laboratorio y en terreno. Los instrumentos de análisis elemental pueden requerir mucha energía y generar desechos importantes, pero la innovación ecoeficiente de Malvern Panalytical, incluidas las capacidades portátiles de alto rendimiento de los productos de SciAps, tiene el potencial de cambiar esto.
También creemos que un instrumento no debe ser complicado de usar solo porque es poderoso, por lo que invertimos en funciones fáciles de usar que hacen que el desarrollo de método y la gestión de la calidad de los datos sean sencillos. Ya sea en el laboratorio o en terreno, con nuestros instrumentos de XRF se beneficia de la combinación óptima de avance tecnológico, flexibilidad meditada y rendimiento sostenible.
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Ofrecemos una amplia gama de soluciones de fluorescencia de rayos X y analizadores de XRF para el análisis de la composición elemental de una amplia gama de materiales y aplicaciones, y que comprende tanto soluciones de longitud de onda como de energía dispersiva. Con la adición de los productos de SciAps, incluida la serie X y el PowerHouse X, ahora proporcionamos opciones portátiles y de alto rendimiento que expanden nuestras ofertas más allá de los sistemas tradicionales de laboratorio. Estas soluciones aportan capacidades avanzadas de análisis elemental al terreno, lo que las hace ideales para aplicaciones como clasificación de metales, exploración minera y detección de cumplimiento.
Para obtener más información sobre los precios del analizador de XRF, lea nuestra página ¿Cuánto cuesta un analizador de XRF?. O descubra nuestra cartera de soluciones en la siguiente tabla:
El análisis de XRF es una técnica sólida que combina alta precisión y exactitud con una preparación fácil y rápida de muestras. Se puede automatizar fácilmente para su uso en entornos industriales de alto rendimiento; además, la XRF proporciona información cualitativa y cuantitativa de una muestra.
La tecnología que se utiliza para la separación (dispersión), la identificación y la medición de la intensidad del espectro de fluorescencia de rayos X de una muestra da lugar a dos tipos principales de espectrómetro: sistemas de dispersión de longitud de onda (WDXRF, del inglés “Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence”) y de dispersión de energía (EDXRF, del inglés “Energy Dispersive X-Ray Fluorescence”).
Obtenga más información sobre estos tipos de espectrómetros y las tecnologías detrás de ellos aquí:
Ofrecemos una amplia gama de soluciones de fluorescencia de rayos X y analizadores de XRF para el análisis de la composición elemental de una amplia gama de materiales y aplicaciones, y que comprende tanto soluciones de longitud de onda como de energía dispersiva.
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Nuestra gama de paquetes de software de XRF puede ayudarlo a extraer el máximo valor de su instrumentación de XRF. Nuestro compromiso con la excelencia significa que nuestro software está en continua evolución. Invertimos en investigación y desarrollo para mantenernos a la vanguardia de la tecnología de análisis de XRF para garantizar que tenga acceso a los últimos avances y características.
![]() RevontiumBrillo compacto, análisis potente y posibilidades infinitas |
![]() ZetiumExcelencia elemental |
![]() Gama EpsilonAnálisis elemental rápido y preciso junto a la línea y en la línea |
![]() Axios FASTAlto rendimiento de muestras |
![]() 2830 ZTSolución avanzada de metrología de película delgada de semiconductores |
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Tipo de medición | |||||
Metrología de película delgada | |||||
Análisis elemental | |||||
Detección y análisis de contaminantes | |||||
Cuantificación elemental | |||||
Identificación química | |||||
Tecnología | |||||
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) | |||||
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | |||||
Rango primario | |||||
LLD | 0.1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% |
Resolución (Mg-Ka) | |||||
Rendimiento de muestra |