Aeris

L'avenir est compact

Vous allez être surpris par notre système XRD extrêmement précis et rapide : Aeris. Des résultats précis prêts en moins de cinq minutes. Une acquisition si rapide de données de haute qualité n'a été réalisée que par de grands systèmes XRD posés au sol. L'Aeris compact est petit, puissant et le premier en la matière. 

Le chargement de l'échantillon en une étape associé à son accès utilisateur contrôlé et la possibilité de concevoir des programmes de collecte de données hors ligne résultent en un système pratique et polyvalent pour tous les utilisateurs, des débutants aux experts.   

Que votre application soit polyvalente ou spécialisée, Aeris peut vous aider.  

Om_logo.png   Fonctionne avec OmniTrust : la solution de conformité de Malvern Panalytical pour les environnements réglementés

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Fonctionnalités et avantages

Durable

La conception modulaire du diffractomètre moderne et polyvalent* Aeris facilite les mises à niveau et ajouts optionnels. La disponibilité garantie des produits signifie une tranquillité d'esprit pour l'avenir. 

*Environnement contrôlé, réflexion, transmission, incidence rasante, diffraction 2D.

Durable

Fonctionnalité plug-and-play simple

Avec Aeris, vous n'avez pas besoin de l'expertise XRD. Son interface intuitive, ses programmes de mesure préchargés et son positionnement facile des échantillons rendent des résultats reproductibles d'excellente qualité accessibles à tous.

Fonctionnalité plug-and-play simple

Chargement facile et reproductible des échantillons

Les porte-échantillons de précision et le système de chargement externe d'Aeris permettent à tous les utilisateurs de charger correctement les échantillons à chaque fois, et ce pour tout type d'échantillon, des poudres aux solides. 

Chargement facile et reproductible des échantillons

Compatibilité avec les environnements réglementés

Grâce à un accès utilisateur contrôlé et à un logiciel de conformité, Aeris est prêt pour tous les flux de travail réglementés (conformément à la norme 21 CFR Part 11). Plusieurs utilisateurs sont gérés facilement.

Compatibilité avec les environnements réglementés

Rapide et précis

Avec son goniomètre classique et son ordinateur intégré, les composants haute performance et les supports d'échantillons de précision de l'Aeris fournissent des résultats précis en seulement cinq minutes. 

Rapide et précis

L'avenir est compact

Témoignage

Excellent rapport qualité-prix, rapide et facile d'utilisation, données excellentes : un vrai bijou !

Damian G. Research

Caractéristiques

Manipulation des échantillons
Chargement de l'échantillon Chargement externe de l'échantillon
Porte-échantillons Divers grands porte-échantillons capables de répondre à toutes les exigences
Passage d'échantillons Grand passeur d'échantillon à 6 positions
Automatisation Compatible avec l'intégration de l'automatisation
Génération de rayons X
Longueurs d'onde Cu ou Co
Réglage du tube Options de 300 W à 600 W réglé sur 30 kV ou 40 kV
Gaine de tube Conception brevetée avec technologie de trajectoire intelligente du faisceau incident résistante à la corrosion (CRISP)*.
*La technologie CRISP empêche la corrosion dans la trajectoire du faisceau incident causée par l'air ionisé par les rayons X. Brevet n°US 8437451 B2.
Goniomètre
Configuration Goniomètre vertical, couplé et découplé θ-θ, échantillons toujours horizontaux
Géométrie Bragg-Brentano, transmission, incidence rasante
Rayon 145 mm
Plage 2 θ maximale -4° < 2 θ ≤ 142° (avec détecteur à balayage et pleine longueur active)
Positionnement de l'angle Système de positionnement optique direct (DOPS3) avec précision de la position à vie
Vitesse de balayage 2,17°/s max
Résolution réalisable < 0,04° 2 θ sur LaB6 (avec fentes Soller de 0,01 de rayon)
Linéarité 2 θ < 0,04° 2 θ
Plus petit incrément adressable 0,001 degré
Supports
Tournant Divers supports tournants
Environnement contrôlé Option support chauffant (BTS-500, BTS-150)
Échange de supports Échange de supports PreFIX sans alignement
Supports spéciaux Sur demande (manuel, MPSS, in situ)
Détecteurs
Détecteur Choix entre les détecteurs PIXcel1D, PIXcel3D et 1Der
Général
Dimensions (H x L x P) 690 mm x 770 mm x 786 mm / 27 po x 30 po x 31 po
Protection contre la poussière Système fermé avec chargement externe des échantillons
Alimentation en eau de refroidissement externe Inutile
Alimentation en air comprimé Inutile
Alimentation électrique 100 – 240 V, monophasé
Ordinateur PC de l'instrument interne
Operation Interface utilisateur intuitive avec écran tactile de 10,4 po
Interfaces LAN, USB, HDMI

Solutions logicielles

Les instruments et mesures Aeris sont gérés par son logiciel de collecte de données intégré avec des programmes de mesure préchargés. Les utilisateurs peuvent également écrire leurs propres programmes. 

Pour la quantification de phase, le contenu amorphe et plus encore, le logiciel RoboRiet intégré peuvent effectuer une analyse automatisée fournissant une visualisation immédiate à l'écran et un transfert vers des bases de données de résultats. 

La mesure et l'analyse peuvent également être automatisées via X'Pert Industry. Industry offre une fonction de script unique pour personnaliser les méthodes de quantification basées sur la droite d'étalonnage et la collecte de données pour n'importe quelle application de contrôle de procédé. Le rapport des résultats est entièrement configurable pour les systèmes LIMS également. 

Vous pouvez également effectuer vos propres analyses approfondies à l'aide de nos progiciels HighScore Plus ou Stress Plus

Pour assurer la conformité réglementaire et l'intégrité des données, Omnitrust couvre vos exigences en matière de gestion des utilisateurs et d'audit des données dans un environnement réglementé.

RoboRiet

Une mise en œuvre spéciale d'exécution uniquement de la méthode Rietveld et du profil adapté à la quantification de phase XRD, à la quantification amorphe et plus encore. 

RoboRiet

Industry

Logiciel pour l'analyse de routine par diffraction des rayons X dans un environnement industriel, allant des systèmes non réglementés aux systèmes entièrement réglementés, et des systèmes contrôlés manuellement aux systèmes entièrement automatisés.

Industry

HighScore Plus

Après l'identification de toutes les phases présentes dans votre échantillon, cette suite logicielle tout-en-un continue de prendre en charge votre analyse, de la quantification avec ou sans la méthode Rietveld à l'ajustement de profil et au traitement de figure.

HighScore Plus

Stress Plus

Le logiciel Stress Plus est dédié à l'analyse par diffraction des rayons X (XRD) de la contrainte résiduelle dans les revêtements polycristallins. Le logiciel effectue une analyse sin²ψ des contraintes résiduelles à l'aide de techniques unidirectionnelles et multidirectionnelles. 

Stress Plus

Éditions expertise

Aeris facilite la caractérisation et l'analyse de tout échantillon dans les environnements de recherche et industriels. Mais parfois, votre application a besoin d'une solution spécialisée, ou vous avez besoin d'une alternative à un système XRD de paillasse étalonnée et prête à l'emploi.

Pour répondre à ce besoin, des éditions d'Aeris sur mesure et spécifiques à l'industrie sont également disponibles prêtes à l'emploi. Ces versions spécialisées pour l'industrie sont fournies avec des progiciels d'expertise personnalisables, pré-étalonnés pour vos méthodes d'analyse spécifiques ou votre matériau d'échantillonnage. Votre Aeris sera préparé pour la mesure et l'analyse automatisées grâce au logiciel RoboRiet intégré. Toujours prêt ! 

Trouvez votre édition ci-dessous :

Aeris Édition Research

Fournit des solutions d'analyse de matériaux polyvalentes et exactes pour tous vos besoins.
Aeris Édition Research

Aeris Édition Cement

Sonde directement la composition minéralogique du ciment et de ses intermédiaires.
Aeris Édition Cement

Aeris Édition Minerals

Rend l'analyse polyvalente des minerais accessible à toute l'industrie minière.
Aeris Édition Minerals

Aeris Édition Metals

Permet de procéder à une analyse rapide et fiable des agglomérés, du préréduit et de l'austénite résiduelle.
Aeris Édition Metals

Assistance

Services

Solutions pour optimiser votre retour sur investissement

Pour garantir que votre instrument reste en parfait état et qu'il fonctionne au plus haut niveau, Malvern Panalytical offre toute une gamme de services. Notre expertise et nos services d'assistance assurent un fonctionnement optimal de votre instrument.

Assistance

Service à vie

  • Assistance téléphonique et à distance
  • Maintenance préventive et contrôles
  • Contrats de service client flexibles
  • Certificat de performances
  • Mises à niveau matérielles et logicielles
  • Assistance locale et mondiale

Expertise

Ajout de valeur à vos procédés 

  • Développement/optimisation de la préparation d'échantillons
  • Méthodes analytiques 
  • Solutions clé en main pour XRD 
  • Opérations via QI/QO/QP, assurance qualité (BPL, ISO17025) ou études d'essais comparatifs/interlaboratoires
  • Services de conseils

Formation et éducation

  • Formation sur site ou dans nos centres de compétence
  • Large gamme de formations élémentaires et approfondies sur les produits, les applications et les logiciels

The instrument is desktop, easy to use, analyzes the samples very quickly and is economic.

Sacari Sacari Elisban Juani — Universidad Nacional Jorge Basadre Grohmann
Encombrement réduit, GRANDE importance.

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La XRD rapide de haute qualité, adaptée à vos besoins. Prêt pour l'automatisation et l'intégration. Compact et moderne.

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