Epsilon 4

Analyse élémentaire à proximité de ligne rapide et précise

  • Analyseur XRF de paillasse multifonctionnel 
  • Analyse élémentaire du fluor (F) à l'américium (Am) dans les zones de R
  • Éditions et logiciels adaptés à l'industrie

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Présentation générale

S'appuyant sur l'expérience et la réussite de la gamme éprouvée de spectromètres de fluorescence X Epsilon 3, l'Epsilon 4 est analyseur multifonctionnel de spectrométrie de fluorescence X de paillasse conçu pour tout secteur d'activité nécessitant une analyse élémentaire du fluor (F) à l'américium (Am) dans les domaines du contrôle de procédés et de la recherche et du développement. 

Alliant les dernières technologies en matière d'excitation et de détection à un logiciel éprouvé et une conception intelligente, les performances d'analyse de l'Epsilon 4 se rapprochent de celles des spectromètres de fluorescence X plus puissants et posés au sol.

Éditions industrielles

Fonctionnalités

  • Configurations modulables : L'Epsilon 4 est un outil d'analyse extrêmement modulable et disponible dans une version de 10 watts pour l'analyse élémentaire (F - Am) dans divers domaines, de la recherche et du développement au contrôle de procédés. Pour un débit d'échantillon encore plus élevé ou des capacités d'élément léger étendues et dans les environnements plus difficiles, une version de 15 watts est disponible, qui peut même analyser le carbone, l'azote et l'oxygène.

  • Derniers développements : Les instruments Epsilon 4 associent la dernière technologie en matière d'excitation et de détection à un logiciel d'analyse de pointe. Le tube à rayons X de 15 watts permettant une excitation à intensité élevée (3 mA), associé au dernier détecteur SDD30 et à un trajet optique compact, offre des performances d'analyse de loin supérieures à celles des systèmes EDXRF de 50 watts, voire même des systèmes WDRXF de paillasse. Il permet également en parallèle de réduire la consommation d'énergie.

  • Sensible et rapide : Des mesures rapides sont obtenues grâce à la toute dernière technologie de détection de dérive en silicium qui produit des intensités considérablement plus élevées. Les composants électroniques uniques du détecteur permettent un taux de comptage linéaire de plus de 1 500 000 comptages/s (à 50 % du temps mort) et une résolution indépendante du taux de comptage généralement supérieure à 135 eV pour une séparation plus efficace des lignes d'analyse dans le spectre. Cela permet au spectromètre Epsilon 4 de fonctionner à pleine puissance et d'atteindre des cadences d'analyses bien plus élevées que celles des instruments de paillasse EDXRF classiques.

  • Réduction de la consommation d'hélium : Les performances supérieures de l'Epsilon 4 permettent d'exécuter de nombreuses applications dans une atmosphère d'air, sans rallonger les délais et les frais généraux impliqués pour l'hélium ou l'entretien du système de vide. Lors de la mesure dans l'air, les photons de rayons X à faible énergie caractéristiques du sodium, du magnésium et de l'aluminium sont sensibles aux variations de la pression atmosphérique et de température. Les capteurs de température et de pression atmosphérique intégrés compensent ces variations atmosphériques, garantissant ainsi d'excellents résultats par tout temps.

Universal and reliable device.

Jakub Nowak — ComerLab Dorota Nowak

Spécifications

Manipulation des échantillons

Capacité d'échantillon Passeur d'échantillon amovible à 10 positions
Taille d'échantillon Le spectromètre peut accueillir des échantillons d'un diamètre maximal de 52 mm (2 pouces)
Features Un porte-échantillon est inclus pour une plus grande précision de l'analyse des filtres à air
Mode mesure « Gros échantillon » pour l'analyse d'échantillons plus volumineux d'une hauteur maximale de 10 cm

Tube à rayons X

Features Fenêtre latérale en métal-céramique pour une stabilité optimale
Fenêtre de béryllium fine de 50 micromètres pour une haute sensibilité des éléments légers (Na, Mg, Al, Si)
Tube setting Tube à rayons X à anode argent pour de meilleures performances de l'analyse P, S et CI

Détecteur

Type de détecteur Détecteur au silicium à diffusion (SDD, Silicon Drift Detector), généralement 135 eV à Mn-Kα
Features Taux de comptage maximal de 1 500 000 comptages/s à 50 % du temps mort
Fenêtre de détecteur à entrée fine pour une haute sensibilité

Logiciels

Logiciels
  • Criblage élémentaire avec la solution d'analyse sans étalon Omnian
  • Analyse de RÉUSSITE/ÉCHEC avec la solution FingerPrint
  • Enhanced Data Security (sécurité des données renforcée) pour les environnements réglementés
  • Stratos pour échantillons multicouches
  • Calibrage flexible unique pour les métaux d'usure dans des lubrifiants neufs et usés à l'aide d'Oil-Trace

Accessoires

Logiciels

Logiciel Epsilon

Progiciel EDXRF analytique pour systèmes de paillasse Epsilon

La plate-forme logicielle Epsilon d'analyse par spectrométrie de fluorescence X est utilisée dans toute la gamme des systèmes de paillasse Epsilon 1 et Epsilon 4 EDXRF de PANalytical. Le logiciel offre toutes les fonctions nécessaires à la configuration et au fonctionnement d'un système de paillasse Epsilon. L'assemblage du programme analytique est grandement facilité par le haut degré d'intelligence intégré au logiciel, ce qui permet aux utilisateurs de bénéficier d'un demi-siècle d'expertise en applications. L'analyse XRF quotidienne est une tâche de routine qui peut être facilement réalisée par du personnel inexpérimenté après un minimum d'instructions. De nombreuses fonctionnalités sont présentes pour améliorer l'ergonomie du logiciel.

Stratos

Détermination de la composition et de l'épaisseur des revêtements et multicouches

Le module logiciel Stratos est doté d'un algorithme qui permet de déterminer simultanément la composition chimique et l'épaisseur des couches de matériaux à partir des mesures effectuées. Le logiciel propose un moyen rapide, simple et non destructif d'analyser les revêtements, les couches superficielles et les structures multicouches. Virtual Analyst fournit des informations lors de la configuration des programmes de mesure pour les piles complexes. 


Disponible à la fois pour les spectromètres EDXRF Epsilon 4 et XRF Zetium, Stratos offre des résultats rapides et fiables, quel que soit le type d'échantillon ou la matrice.

Omnian

Analyse sans étalon de tous les types d'échantillons

Le système Omnian permet aux utilisateurs d'obtenir les meilleures analyses lorsqu'il n'existe aucune méthode dédiée ni d'étalon certifié. Progiciel d'analyse sans étalon avant-gardiste, Omnian intègre un logiciel de pointe et des échantillons de configuration qui transcendent les technologies. Disponible pour les spectromètres Epsilon 1, Epsilon 4 et Zetium, Omnian offre des résultats rapides et fiables, quel que soit le type d'échantillon ou la matrice.

Oil-Trace

Analyse précise des éléments traces

Oil-Trace est un logiciel comprenant une série d'étalons qui permettent aux utilisateurs d'effectuer des analyses élémentaires fiables et précises des liquides par WDXRF et EDXRF. Oil-Trace résout deux problèmes lors de l'analyse de liquides :

1) correction de matrice adéquate en présence d'un mélange inconnu d'éléments CHON

2) correction des erreurs dues aux variations du volume de l'échantillon analysé

En s'attaquant efficacement à ces problèmes, Oil-Trace apporte des avantages significatifs à l'analyse du pétrole.

FingerPrint

Identification instantanée des matériaux

Un module logiciel FingerPrint combiné avec un système EDXRF Epsilon 4 est idéal pour les essais de matériaux lorsque la vitesse d'analyse est importante mais que la composition réelle ne présente aucun intérêt. FingerPrint implique généralement peu ou pas de préparation d'échantillons et n'est pas destructif.

Enhanced Data Security

Sécurisation des données et satisfaction des contrôleurs

Le module EDS (Enhanced Data Security) est une option logicielle qui offre une meilleure confiance dans les résultats pour les utilisateurs du spectromètre XRF Zetium (via le logiciel SuperQ) et du spectromètre XRF Epsilon. Grâce à des fonctionnalités telles que la gestion avancée des utilisateurs, la consignation des actions, la protection des données et l'affectation de l'état des applications, EDS vous aide à renforcer votre piste d'audit, à minimiser les risques d'erreur et à prouver que votre instrument XRF fonctionne comme prévu.

Étalons (matériaux de référence)

ADPOL

Analyse élémentaire précise par spectrométrie de fluorescence X des additifs de polymère fonctionnels

Pour en savoir plus

WROXI

Analyse précise d'une large gamme d'oxydes de minéraux

WROXI CRM est un kit de matériaux de référence certifiés synthétiques de haute qualité qui couvre une large gamme de matériaux oxydés tels que les minerais, les roches et les matériaux géologiques.

Pour en savoir plus

LAS: Acier faiblement allié

Analyse des aciers faiblement alliés avec les spectromètres XRF Malvern Panalytical

Le package LAS (Low Alloy Steel) pour les spectromètres XRF séquentiels et simultanés Zetium et Axios FAST est basé sur plus de 90 CRM couvrant jusqu'à 21 éléments et 4 échantillons de contrôle pour la correction de la dérive et de la préparation des échantillons.

Pour en savoir plus

RoHS

Analyse élémentaire précise des matériaux limités par la norme LdSD

Le module d'étalonnage RoHS aide les fabricants et les laboratoires de recherche à se conformer aux exigences de la législation RoHS 2. Une analyse élémentaire précise à l’aide des normes d’étalonnage RoHS peut vous faire économiser de l’argent et garantir la conformité aux réglementations internationales telles que REACH.

Pour en savoir plus

TOXEL

Analyse précise par spectrométrie de fluorescence X des éléments toxiques dans les polymères et les plastiques

Le module TOXEL permet une analyse élémentaire simple et précise des éléments toxiques dans les polyoléfines, y compris de nombreux types de PP et PE.

Pour en savoir plus

Matériaux de référence certifiés

Matériaux de référence certifiés, y compris les modules d'étalonnage XRF et les matériaux de référence

Pour en savoir plus

Préparation des échantillons

Claisse LeNeo

Conservez une longueur d'avance grâce l'expertise de Claisse dans la fusion.

L'instrument de fusion Claisse LeNeo prépare des perles pour l'analyse XRF ainsi que des solutions de borate et de peroxyde pour les analyses AA et ICP. Il s'agit d'un instrument électrique à une seule position.

Pour en savoir plus
Claisse LeNeo

Pourquoi Epsilon 4 ?

Epsilon 4 Où vous le souhaitez

En raison de ses faibles besoins en infrastructure, l'Epsilon 4 peut être placé à côté de la ligne de production, à n'importe quelle étape de votre procédé. 

Ses hautes performances permettent à la plupart des applications d'être exploitées dans les conditions ambiantes, réduisant ainsi les coûts de l'hélium ou d'entretien du système de vide.

Une valeur ajoutée au-delà de l'analyse

Spectromètre de fluorescence X à dispersion d'énergie conçu pour la gamme d'analyse élémentaire du carbone (C) à l'américium (Am) et la gamme de concentration du niveau inférieur au ppm à 100 % en poids. 

Choisissez le logiciel Omnian pour l'analyse sans étalon, utilisez le logiciel FingerPrint pour les essais de matériaux lorsque la vitesse d'analyse est importante ou Stratos pour une analyse rapide, simple et non destructive des revêtements, des couches superficielles et des structures multicouches. 

Vous pouvez également utiliser le programme Enhanced Data Security (sécurité des données renforcée) qui garantit la conformité à des réglementations telles que la norme FDA 21 CFR Partie 11 ou utilisez Oil-Trace pour la quantification de mélanges de carburants-biocarburants et de lubrifiants neufs et usés.

Adapté à tout type d'échantillon

L'Epsilon 4 permet de gérer différents types d'échantillons tels que les solides, les poudres compactées ou libres, les liquides et les filtres. Il effectue une analyse quantitative non destructive d'éléments, du fluor de carbone (C) à l'américium (Am), à partir de concentrations de 100 % jusqu'à des niveaux inférieurs au ppm, sur des échantillons d'un poids allant de quelques milligrammes à plusieurs kilogrammes.

L'Epsilon 4 est une alternative fiable et robuste aux systèmes classiques d'une grande variété d'industries et d'applications, même lorsque l'analyse d'éléments légers est de la plus haute importance, notamment : la production de ciment, l'exploitation minière, l'enrichissement de minerais, le fer, l'acier et les métaux non ferreux, le criblage et la quantification selon la RoHS, le pétrole et les produits pétroliers, les polymères et les industries associées, la fabrication de verre, la médecine légale, les produits pharmaceutiques, les produits de santé, l'environnement, les denrées alimentaires et les produits cosmétiques.

Universal and reliable device.

Jakub Nowak — ComerLab Dorota Nowak

Manuels d'utilisation

Téléchargements de logiciels

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Assistance

Équipements

Solutions pour optimiser votre retour sur investissement

Pour garantir que votre instrument reste en parfait état et qu'il fonctionne au plus haut niveau, Malvern Panalytical offre toute une gamme de services. Notre expertise et nos services d'assistance assurent un fonctionnement optimal de votre instrument.

Assistance

Service à vie

  • Assistance téléphonique et à distance
  • Maintenance préventive et contrôles
  • Contrats de service client flexibles
  • Certificat de performances
  • Mises à niveau matérielles et logicielles
  • Assistance locale et mondiale

Expertise

Ajout de valeur à vos procédés 

  • Développement/optimisation de la préparation d'échantillons
  • Méthodes analytiques 
  • Solutions clé en main pour XRD 
  • Opérations via QI/QO/QP, assurance qualité (BPL, ISO17025) ou études d'essais comparatifs/interlaboratoires
  • Services de conseils

Formation et éducation

  • Formation sur site ou dans nos centres de compétence
  • Large gamme de formations élémentaires et approfondies sur les produits, les applications et les logiciels
Analyse élémentaire puissante en ligne.

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