As an essential part of numerous chemical processes, many catalysts contain valuable materials such as precious metals and nanomaterials. Catalyst dosing and activity tuning are essential for achieving the best product quality using minimum reaction time and process energy. XRD, XRF and NIR are essential tools for monitoring and controlling the fabrication and use of catalytic materials.

Typical applications include

  • In situ catalytic activity measurements
  • Phase analysis of heterogeneous catalysts
  • Nanoparticle size and shape analyses
  • Elemental composition of the catalysts during production and usage
  • Trace element analysis of doped catalysts
  • Catalyst poisoning
  • Fines and attrition determination

Characterization of catalysts and nanomaterials

Malvern Panalytical’s Empyrean XRD platform can be equipped with an Anton Paar high-pressure chamber for in situ activity measurements of catalysts, allowing catalyst optimization under the widest range of process conditions saving you time and money. Along with small-angle X-ray scattering (SAXS), this combination of platforms is perfectly suited for analyzing nanoparticle sizes and shapes. The pre-aligned fast interchangeable PreFIX modules can modify a typical XRD setup to a SAXS setup for nanomaterials analyses in approximately 5 minutes.

Zetium XRF systems provide accurate elemental analysis of both hetero- and homogenous catalysts. For example the determination of heavy metal concentrations by Zetium provides a cost-effective and efficient alternative to fire assay determination of precious metals. 

マスターサイザーシリーズ

マスターサイザーシリーズ

世界で最もよく利用される粒度測定装置

詳細
測定 粒子サイズ
測定範囲 0.01µm - 3500µm
技術 レーザ回折
分散タイプ 湿式, 乾式, 湿式・乾式

Empyreanシリーズ

Empyreanシリーズ

分析ニーズに対応する多目的ソリューション

詳細
測定 粒子形状, 粒子サイズ, Crystal structure determination, 相同定, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Epitaxy analysis, Interface roughness, 3D structure / imaging
ゴニオメータ構成 試料水平型ゴニオメータ
技術 X-ray Diffraction (XRD)

Zetium

Zetium

卓越した機能

詳細
測定 薄膜測定, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification
元素範囲 Be-U
分解能(Mg-Ka) 35eV
LLD 0.1 ppm - 100%
サンプル処理 160per 8h day - 240per 8h day
技術 Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)

マスターサイザーシリーズ

マスターサイザーシリーズ

世界で最もよく利用される粒度測定装置

Empyreanシリーズ

Empyreanシリーズ

分析ニーズに対応する多目的ソリューション

Zetium

Zetium

卓越した機能

詳細 詳細 詳細
測定 粒子サイズ 粒子形状, 粒子サイズ, Crystal structure determination, 相同定, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Epitaxy analysis, Interface roughness, 3D structure / imaging 薄膜測定, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification
測定範囲 0.01µm - 3500µm    
ゴニオメータ構成   試料水平型ゴニオメータ  
元素範囲     Be-U
分解能(Mg-Ka)     35eV
LLD     0.1 ppm - 100%
サンプル処理     160per 8h day - 240per 8h day
技術 レーザ回折 X-ray Diffraction (XRD) Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
分散タイプ 湿式, 乾式, 湿式・乾式    

マスターサイザーシリーズ

Empyreanシリーズ

Zetium

マスターサイザーシリーズ Empyreanシリーズ Zetium

世界で最もよく利用される粒度測定装置

分析ニーズに対応する多目的ソリューション

卓越した機能

詳細 詳細 詳細
技術
レーザ回折
X-ray Diffraction (XRD)
X-ray Imaging
X-ray Fluorescence (XRF)
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)