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お客様は、生産場所に関係なく、ポリマー性能の優れた一貫性と消費者の安全を求めています。 Epsilon 4は、エネルギー分散型蛍光X線分析装置(EDXRF)のベンチトップ分光計です。優れた再現性と精度を持つ元素分析を実行できるため、お客様が満足する一貫性を提供できます。
簡単な測定手順と限られた設備要件により、生産ラインの近くや、複数の生産場所で再現可能な解析を実行できます。 Epsilon 4は再キャリブレーション不要で、数か月間にわたり信頼性の高い結果を提供します。 製品品質を保証することは簡単ではありません。
強力なベンチトップXRF: 最新の励起/検出技術とスマートなデザインが組み合わされたEpsilon 4の分析性能は、強力な床置き型分光計に匹敵します。 選択励起と、検出システムの機能へのX線管出力の慎重な適合がシステムの卓越した性能の基盤となっています。
高速で高感度: 非常に高い散乱強度を生成する最新のシリコンドリフト検出器を使用して高速測定を実現します。 独自の検出器エレクトロニクスにより、線形カウントレート容量を1,500,000 cps (50%の不感時間)以上にして、カウントレートの独立分解能を通常135 eV以上にすることで、スペクトル内の分析ラインを適切に分離することができます。 これにより、Epsilon 4分光計を全出力で実行でき、従来のEDXRFベンチトップ装置よりもサンプルスループットが大幅に向上します。
維持費の削減: Epsilon 4では、高価な酸、ガス、 ドラフト(ICPおよびAAS)を使用する必要がありません。 電気の商用電源さえあれば使用できますが、サンプル中の軽元素の感度を高めるためにヘリウムを使用する場合があります。 また、XRF分光計の個々のコンポーネントは、摩擦や熱にさらされることはないため、何年間も使用できます。
非破壊分析: Epsilon 4を使用した測定では、サンプル調製がほとんど必要なく、粉末や最終製品で直接実行されます。 XRFは非破壊的な技術であるため、必要に応じてサンプルは他の分析技術で後から測定することもできます。
Epsilon 4は、ポリマー、プラスチック、塗料メーカーにその価値を直接提供します。 生産プロセス全体、または生産プロセスに近い場所での高速な直接分析により、完全なトレーサビリティを実現します。
入荷する原材料の質を検証し、最終製品中の添加物、触媒残渣、有毒物質を分析します。 Malvern Panalytical独自のキャリブレーションソリューション(ADPOL、TOXEL、RoHS)は、消費者の安全と、一貫性のある高性能製品の品質と性能を実現するためにユーザーをサポートします。
XRFでは適切なキャリブレーションサンプルを利用できることが重要です。
当社は、プラスチック/ポリマー産業に対して独自のキャリブレーションソリューションを開発しました。このソリューションは、添加物、触媒残渣(ADPOL)、有毒物質(TOXEL)を正確に分析することができ、ASTM F2617とIEC 62321-3-1に従ったRoHSに準拠しています。
Epsilon 4分光計は、さまざまなタイプのサンプルに対応します。数ミリグラムから大量のサンプルまで計量できます。サンプルは次の要素として測定されます。
Great tool. Quick analysis, easy-to-use repeatable. Very helpful and competent assistance.
Omar Scaccabarozzi — Analyst
| サンプル容量 | 取り外し可能な10ポジションサンプルチェンジャ |
|---|---|
| サンプルサイズ | 分光計は直径52 mmまでのサンプル(粉末、液体、スラリーおよび固体)に対応できます |
| Features | スピナーが搭載されており、液体、スラリー、粉末のより正確な分析結果を得ることができます |
| Features | 金属セラミック製サイドウィンドウによる高い安定性
軽元素(Na、Mg、Al、Si)用高感度50マイクロメートル薄型ベリリウムウィンドウ |
|---|---|
| Tube setting | 最高性能のAgアノードX線管によるP、S、およびCl分析 |
| 検出器の種類: | 高分解能シリコンドリフト検出器(SDD) (通常135 eV @ Mn-Kα) |
|---|---|
| Features | 最大 カウントレート: 1,500,000カウント/秒(50%の不感時間)
高感度の薄型エントランス検出器ウィンドウ |
| ソフトウェア |
|
|---|
Epsilonベンチトップシステム用分析EDXRFソフトウェアパッケージ
あらゆる種類のサンプルのスタンダードレス分析
皮膜および多層膜の組成と厚さを測定
データを保護し、監査に準拠する
即時材料識別
Accurate elemental analysis by XRF of functional polymer additives
RoHS規制物質の分析用
ポリマーの有毒元素の高精度分析用
Claisseにより常にニーズが満たされます
最新のユーザーマニュアルについてはサポートにお問い合わせください。
最新のソフトウェアについてはお問い合わせください。
お客様の装置が最高の状態を保ち、最高レベルで機能するために、Malvern Panalyticalではさまざまなサービスを提供しています。 当社の専門知識とサポートサービスは、装置が最適に機能するよう保証します。
寿命終了までのサービス
工程に価値を付加する
お客様は、生産場所に関係なく、ポリマー性能の優れた一貫性と消費者の安全を求めています。 Epsilon 4は、エネルギー分散型蛍光X線分析装置(EDXRF)のベンチトップ分光計です。優れた再現性と精度を持つ元素分析を実行できるため、お客様が満足する一貫性を提供できます。
簡単な測定手順と限られた設備要件により、生産ラインの近くや、複数の生産場所で再現可能な解析を実行できます。 Epsilon 4は再キャリブレーション不要で、数か月間にわたり信頼性の高い結果を提供します。 製品品質を保証することは簡単ではありません。
強力なベンチトップXRF: 最新の励起/検出技術とスマートなデザインが組み合わされたEpsilon 4の分析性能は、強力な床置き型分光計に匹敵します。 選択励起と、検出システムの機能へのX線管出力の慎重な適合がシステムの卓越した性能の基盤となっています。
高速で高感度: 非常に高い散乱強度を生成する最新のシリコンドリフト検出器を使用して高速測定を実現します。 独自の検出器エレクトロニクスにより、線形カウントレート容量を1,500,000 cps (50%の不感時間)以上にして、カウントレートの独立分解能を通常135 eV以上にすることで、スペクトル内の分析ラインを適切に分離することができます。 これにより、Epsilon 4分光計を全出力で実行でき、従来のEDXRFベンチトップ装置よりもサンプルスループットが大幅に向上します。
維持費の削減: Epsilon 4では、高価な酸、ガス、 ドラフト(ICPおよびAAS)を使用する必要がありません。 電気の商用電源さえあれば使用できますが、サンプル中の軽元素の感度を高めるためにヘリウムを使用する場合があります。 また、XRF分光計の個々のコンポーネントは、摩擦や熱にさらされることはないため、何年間も使用できます。
非破壊分析: Epsilon 4を使用した測定では、サンプル調製がほとんど必要なく、粉末や最終製品で直接実行されます。 XRFは非破壊的な技術であるため、必要に応じてサンプルは他の分析技術で後から測定することもできます。
Epsilon 4は、ポリマー、プラスチック、塗料メーカーにその価値を直接提供します。 生産プロセス全体、または生産プロセスに近い場所での高速な直接分析により、完全なトレーサビリティを実現します。
入荷する原材料の質を検証し、最終製品中の添加物、触媒残渣、有毒物質を分析します。 Malvern Panalytical独自のキャリブレーションソリューション(ADPOL、TOXEL、RoHS)は、消費者の安全と、一貫性のある高性能製品の品質と性能を実現するためにユーザーをサポートします。
XRFでは適切なキャリブレーションサンプルを利用できることが重要です。
当社は、プラスチック/ポリマー産業に対して独自のキャリブレーションソリューションを開発しました。このソリューションは、添加物、触媒残渣(ADPOL)、有毒物質(TOXEL)を正確に分析することができ、ASTM F2617とIEC 62321-3-1に従ったRoHSに準拠しています。
Epsilon 4分光計は、さまざまなタイプのサンプルに対応します。数ミリグラムから大量のサンプルまで計量できます。サンプルは次の要素として測定されます。
Great tool. Quick analysis, easy-to-use repeatable. Very helpful and competent assistance.
Omar Scaccabarozzi — Analyst
| サンプル容量 | 取り外し可能な10ポジションサンプルチェンジャ |
|---|---|
| サンプルサイズ | 分光計は直径52 mmまでのサンプル(粉末、液体、スラリーおよび固体)に対応できます |
| Features | スピナーが搭載されており、液体、スラリー、粉末のより正確な分析結果を得ることができます |
| Features | 金属セラミック製サイドウィンドウによる高い安定性
軽元素(Na、Mg、Al、Si)用高感度50マイクロメートル薄型ベリリウムウィンドウ |
|---|---|
| Tube setting | 最高性能のAgアノードX線管によるP、S、およびCl分析 |
| 検出器の種類: | 高分解能シリコンドリフト検出器(SDD) (通常135 eV @ Mn-Kα) |
|---|---|
| Features | 最大 カウントレート: 1,500,000カウント/秒(50%の不感時間)
高感度の薄型エントランス検出器ウィンドウ |
| ソフトウェア |
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|---|
Epsilonベンチトップシステム用分析EDXRFソフトウェアパッケージ
あらゆる種類のサンプルのスタンダードレス分析
皮膜および多層膜の組成と厚さを測定
データを保護し、監査に準拠する
即時材料識別
Accurate elemental analysis by XRF of functional polymer additives
RoHS規制物質の分析用
ポリマーの有毒元素の高精度分析用
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