さらに詳しい情報をお探しですか?
見積もり、詳細情報をリクエストするか、パンフレットをダウンロードするには、以下のオプションを選択してください。
お客様は、生産場所に関係なく、ポリマー性能の優れた一貫性と消費者の安全を求めています。 Epsilon 4は、エネルギー分散型蛍光X線分析装置(EDXRF)のベンチトップ分光計です。優れた再現性と精度を持つ元素分析を実行できるため、お客様が満足する一貫性を提供できます。
簡単な測定手順と限られた設備要件により、生産ラインの近くや、複数の生産場所で再現可能な解析を実行できます。 Epsilon 4は再キャリブレーション不要で、数か月間にわたり信頼性の高い結果を提供します。 製品品質を保証することは簡単ではありません。
強力なベンチトップXRF: 最新の励起/検出技術とスマートなデザインが組み合わされたEpsilon 4の分析性能は、強力な床置き型分光計に匹敵します。 選択励起と、検出システムの機能へのX線管出力の慎重な適合がシステムの卓越した性能の基盤となっています。
高速で高感度: 非常に高い散乱強度を生成する最新のシリコンドリフト検出器を使用して高速測定を実現します。 独自の検出器エレクトロニクスにより、線形カウントレート容量を1,500,000 cps (50%の不感時間)以上にして、カウントレートの独立分解能を通常135 eV以上にすることで、スペクトル内の分析ラインを適切に分離することができます。 これにより、Epsilon 4分光計を全出力で実行でき、従来のEDXRFベンチトップ装置よりもサンプルスループットが大幅に向上します。
維持費の削減: Epsilon 4では、高価な酸、ガス、 ドラフト(ICPおよびAAS)を使用する必要がありません。 電気の商用電源さえあれば使用できますが、サンプル中の軽元素の感度を高めるためにヘリウムを使用する場合があります。 また、XRF分光計の個々のコンポーネントは、摩擦や熱にさらされることはないため、何年間も使用できます。
非破壊分析: Epsilon 4を使用した測定では、サンプル調製がほとんど必要なく、粉末や最終製品で直接実行されます。 XRFは非破壊的な技術であるため、必要に応じてサンプルは他の分析技術で後から測定することもできます。
Epsilon 4は、ポリマー、プラスチック、塗料メーカーにその価値を直接提供します。 生産プロセス全体、または生産プロセスに近い場所での高速な直接分析により、完全なトレーサビリティを実現します。
入荷する原材料の質を検証し、最終製品中の添加物、触媒残渣、有毒物質を分析します。 Malvern Panalytical独自のキャリブレーションソリューション(ADPOL、TOXEL、RoHS)は、消費者の安全と、一貫性のある高性能製品の品質と性能を実現するためにユーザーをサポートします。
XRFでは適切なキャリブレーションサンプルを利用できることが重要です。
当社は、プラスチック/ポリマー産業に対して独自のキャリブレーションソリューションを開発しました。このソリューションは、添加物、触媒残渣(ADPOL)、有毒物質(TOXEL)を正確に分析することができ、ASTM F2617とIEC 62321-3-1に従ったRoHSに準拠しています。
Epsilon 4分光計は、さまざまなタイプのサンプルに対応します。数ミリグラムから大量のサンプルまで計量できます。サンプルは次の要素として測定されます。
Great tool. Quick analysis, easy-to-use repeatable. Very helpful and competent assistance.
Omar Scaccabarozzi — Analyst
| サンプル容量 | 取り外し可能な10ポジションサンプルチェンジャ |
|---|---|
| サンプルサイズ | 分光計は直径52 mmまでのサンプル(粉末、液体、スラリーおよび固体)に対応できます |
| Features | スピナーが搭載されており、液体、スラリー、粉末のより正確な分析結果を得ることができます |
| Features | 金属セラミック製サイドウィンドウによる高い安定性
軽元素(Na、Mg、Al、Si)用高感度50マイクロメートル薄型ベリリウムウィンドウ |
|---|---|
| Tube setting | 最高性能のAgアノードX線管によるP、S、およびCl分析 |
| 検出器の種類: | 高分解能シリコンドリフト検出器(SDD) (通常135 eV @ Mn-Kα) |
|---|---|
| Features | 最大 カウントレート: 1,500,000カウント/秒(50%の不感時間)
高感度の薄型エントランス検出器ウィンドウ |
| ソフトウェア |
|
|---|
Epsilonソフトウェアは、XRF分析ソフトウェアのプラットフォームであり、PANalyticalのEpsilon 1およびEpsilon 4ベンチトップタイプEDXRFシステムシリーズで使用されています。このソフトウェアは、Epsilonベンチトップシステムの設定と操作に必要なすべての機能を備えています。分析プログラムの組み立ては、ソフトウェアに組み込まれた高度なインテリジェンスにより非常に容易に実行でき、ユーザーは半世紀にわたり蓄積されたアプリケーションの専門知識を活用できます。毎日実行するXRF分析は、経験の浅い作業者でも最小限のトレーニングで簡単に実行できるルーチンタスクです。ソフトウェアを簡単に使用できるようにする、多くの機能が用意されています。
Omnianを使用すると、専用の分析方法や認定済み標準物質が存在しない場合に、最良の定量結果を導き出します。 主流となりつつあるスタンダードレス分析パッケージであるOmnianには、技術に対応する最先端のソフトウェアと設定サンプルが組み込まれています。 Omnianは、Epsilon 1、Epsilon 4、およびZetium分光計で使用可能で、サンプルタイプやマトリクスに関係なく、即座に信頼性の高い結果を得ることができます。
Stratosソフトウェアモジュールは、測定から得られた化学組成と層状材料の厚さを同時に測定できるアルゴリズムを採用しています。このソフトウェアは、迅速でシンプルな非破壊的な方法でコーティング、表面層、および多層構造を分析できます。Virtual Analystは、複雑なスタック用の測定プログラムの設定時に情報を提供します。
Stratosは、Epsilon 4 EDXRF、およびZetium XRF分光計で使用可能で、サンプルタイプやマトリクスに関係なく、即座に信頼性の高い結果を得ることができます。
Enhanced Data Security (EDS)モジュールは、Zetium XRF分光計(SuperQソフトウェアを使用)およびEpsilon XRF分光計を使用しているユーザーのために、信頼性の高い測定結果を提供するソフトウェアオプションです。EDSは高度なユーザー管理、アクションログ、データ保護、アプリケーションステータスの割り当てなどの機能を備えており、監査証跡を強化し、エラー発生リスクを最小限に抑え、XRF装置が期待どおりに動作することを保証します。
Epsilon 4 EDXRFと組み合わされたFingerPrintソフトウェアモジュールは、分析速度が重要で実際の組成は重要ではない場合の材料テストに最適です。一般的にFingerPrintingは、サンプル調製をほとんど、またはまったく必要とせず非破壊的です。
最新のユーザーマニュアルについてはサポートにお問い合わせください。
最新のソフトウェアについてはお問い合わせください。
お客様の装置が最高の状態を保ち、最高レベルで機能するために、Malvern Panalyticalではさまざまなサービスを提供しています。 当社の専門知識とサポートサービスは、装置が最適に機能するよう保証します。
寿命終了までのサービス
工程に価値を付加する
