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Epsilon 1 for Small Spot Analysis

細部に焦点を当て、大局的に判断する

電子装置、玩具、貴金属、岩石、または最終製品の微小な物質や包有物の元素分析を行う必要がありますか? Epsilon 1 for Small Spot Analysisは、小型の蛍光X線分析装置で0.8 x 1.2 mmサイズのスポットを分析でき、柔軟で正確なスポットオン分析に最適な分析ソリューションです。

一体型で設置面積が小さいため、Epsilon 1はサンプルのそばに設置することができ、製造場所、採掘現場、店舗のカウンター、または犯罪現場の法医学検査でも理想的なソリューションになります。 分光計の性能は産業界のさまざまな指令や規制(電子機器用のRoHS-3や消費用のCPSIA)で必須の標準的なテスト方法に対応しています。

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概要

堅牢で柔軟な定量化

RoHS-3、WEEE、ELV、玩具、貴金属、岩石および最終製品の点検など、さまざまな用途にスポットオンの結果を得ることができます。 これは、Omnianにより実現できます。Omnianは、PANalyticalの市場をリードするスタンダードレスな分析ソフトウェアパッケージであり、高度なXRF装置でも使用されています。  

すぐに使用できるソリューションであるOmnianは、周期表のナトリウムからアメリシウムまでさまざまな元素組成を分析するために使用されています。 

周期表GENERIC MP style.jpg

専用のキャリブレーションに基づいて、ASTM F2617 (RoHS)などの国際的なテスト方法に準拠し、また、ASTM F963 (玩具)およびIEC 62123 (電子機器)の仕様に従ってスクリーニングすることができます。

RoHS-3のASTM F2617-15準拠

XRFは、有害物質や化合物のスクリーニングおよび定量化のために確立されたソリューションです。 電化製品中の有毒金属含有量は、RoHS-3、WEEE、ELV、Administration on the Control of Pollution Caused by Electronic Information Products (中国版RoHSに相当)などの国際的指令、およびその他の同様の指令により規制されています。 これらのすべての指令は範囲が多少異なりますが、カドミウム、鉛、水銀、六価クロム、および臭素化フェニル酸難燃剤を制限している点は共通しています。 ASTM F2617-15は、規制物質や化合物の濃度を定量化する一般的な方法です。 当社のデータシートでは、0.8 x 1.2 mmのスポットサイズの分析でも、Epsilon 1の機能がASTM F2617-15に準拠していることを実証しています。

RoHS-3のASTM F2617-15準拠

機能

非破壊分析

測定はサンプル自体で直接実施され、サンプル調製はほとんど必要ありません。 XRFは非破壊的な技術であるため、必要に応じてサンプルは他の分析技術で後から測定することもできます。
非破壊分析

微小な分析スポット

サンプル中の小片や微小な含有物は、平行レーザービームで簡単に分析できます。 サンプルのスポットサイズは、通常0.8 x 1.2 mmです。
微小な分析スポット

サンプルの配置

カラーカメラと写真に表示される照準線を使用して、ユーザーは装置の分析スポットに手動でサンプルを配置できます。
サンプルの配置

解析レポート

分析が終了するごとに、分析スポットの写真は内蔵コンピュータに保存されます。 ワンクリックで写真付きの解析レポートが生成されます。
解析レポート

主な用途

主な用途:

• RoHS-3 (ASTM F2617-15)
• 玩具(ASTM F963-16)
• 貴金属
• 不均質岩石
• ポリマー含有物
• 製品検査
• 法科学

仕様

サンプルハンドリングX線管球検出器ソフトウェア機能
サンプルの最大寸法: 15 x 12 x 10 cm (WxDxH)15ワットの高い安定性を誇るセミセラミックサイドウインドウ管高分解能(通常135 eV)スタンダードレス分析: あらゆるサンプルに対応可能
カラーカメラとデジタル照準線によるサンプルの位置決定最大電流: 1.5 mA、トレースの感度を最大化高カウントレート対応のSDD10検出装置カメラ画像の自動保存
粉塵および損傷からの保護銀アノード、周期系のほとんどの元素に最適高透明度の薄型ベリリウムウィンドウオペレータモードによる簡単操作
最大電圧: 50 kV、重元素の分析に最適専用用途を設定するアドバンストモード

アクセサリ

標準物質(参照物質)

RoHS

RoHS規制物質の正確な元素分析
RoHS

TOXEL

XRFを使用したポリマーやプラスチックに含まれる有害元素の正確な分析
TOXEL

CRM

Claisseにより常にニーズが満たされます
CRM

ソフトウェア

Epsilonソフトウェア

Epsilonソフトウェアは、XRF分析ソフトウェアのプラットフォームであり、PANalyticalのEpsilon 1およびEpsilon 4ベンチトップタイプEDXRFシステムシリーズで使用されています。

Epsilonソフトウェア

Stratos

このソフトウェアは、迅速でシンプルな非破壊的な方法でコーティング、表面層、および多層構造を分析できます。
Stratos

Omnian

Omnianソフトウェアは、専用の分析方法や認定済み標準物質が存在しない場合に、最良の分析手法です。

Omnian

異同識別(フィンガープリント)ソフトウェア

Epsilon EDXRFと組み合わされたFingerPrintソフトウェアモジュールは、分析速度が重要で実際の組成は重要ではない場合の材料テストに最適です。

異同識別(フィンガープリント)ソフトウェア

サポート

設備

投資利益率を最大限にするソリューション

お客様の装置が最高の状態を保ち、最高レベルで機能するために、Malvern Panalyticalではさまざまなサービスを提供しています。 当社の専門知識とサポートサービスは、装置が最適に機能するよう保証します。

サポート

寿命終了までのサービス

  • 電話とリモートサポート
  • 予防メンテナンスと点検
  • 柔軟なカスタマーケア契約
  • パフォーマンス認定書
  • ハードウェアおよびソフトウェアアップグレード
  • ローカルおよびグローバルサポート

専門知識

工程に価値を付加する

  • サンプル調製の開発/最適化
  • 分析方法論 
  • XRD用ターンキーソリューション 
  • IQ/OQ/PQによるオペレーション、品質保証(GLP、ISO17025)、またはラウンドロビン/研究所間の連携
  • ラボ工程の自動化
  • コンサルティングサービス

トレーニングと教育

  • オンサイトまたは当社の研修センターでのトレーニング
  • 製品、アプリケーションおよびソフトウェに関する広範な基本コースおよび上級コース

分析サービスとキャリブレーション材料

  • 専門(XRF)分析サービス
  • 酸化物と微量元素の分析
  • カスタマイズされたキャリブレーション材料