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SediGraphはMicromeriticsの技術であり、現在も世界中の多くの研究室で粒子径分析に利用されています。過酷な生産環境の場合でも、制御されたラボ環境の場合でも、SediGraphは優れた信頼性で正確な結果を届け続けます。
粒子径分布は沈降法で測定されています。粒子の質量はX線吸収によって直接測定されます。
ストークスの法則に基づき、既知の性質を持つ液体に粒子が重力で沈降する速度を測定することで、SediGraphは0.1～300 µmの範囲にある粒子の球相当径を測定します。
新世代型SediGraph III Plusは、この実証された技術と新しい技術を組み合わせ、再現性と精度の高い粒径情報を提供し、ほとんどの分析を数分で完了させます。
粒子径の範囲と各径の質量分布は、セラミック粉末の焼結能力とその形成特性、ならびに最終製品の細孔径分布に強く影響します。粒子径分布情報は、硬化/接着手順の決定、孔構造の制御、適切な圧粉体強さの確保、また、希望する強度とテクスチャ、外観、密度を持った最終製品の生成に役立ちます。
製品密度を測定することで、APIおよび賦形剤の組成を監視、また制御します。多層性、含水性、非晶性形状の製品の違いや純度を密度測定で検出可能です。
粒度は、土壌の水分保持能力と排水速度、栄養素の保持能力に影響します。粒度は堆積物の輸送に直接関係します。
化粧品の外観、用法、包装は、タルクなどベースとなる粉の粒子径分布と着色顔料の影響を受けます。
粒子径そのものは、色の着色力に影響します。着色力が上がるにしたがって、求める色強度を得るために必要な顔料の量は減少します。粒子径は塗料の隠蔽力に影響します。また、粒子径分布は光沢、テクスチャ、色の彩度や明るさにも影響します。
粒子径は金属の構造感受性触媒反応における触媒活性に影響します。
セメントの粒子径は、硬化したコンクリート/セメントの硬化時間と強度特性に影響します。
物質の反応性は露出した表面積に依存し、粒子径分布にも依存します。
研磨粒子と粉末のバランスの取れた径分布は、材料のスラリー、ドライブラスト、または接着研磨工具への使用を決める際の基本的な検討事項です。粒子径の均一性がブラストマシンから投射する流量の正確性を保証し、研磨材をリサイクルする際の媒体管理において重要な決定事項となります。
| 粒子サイズ | 0.1～300 µm相当の球体直径に対応 |
|---|---|
| 接液／接ガス部材 | ステンレス鋼、Teflon®含浸アルマイト、ニッケルめっきアルミニウム、ナイロン、ポリプロピレン、ポリスチレン、Tygon®およびPharmed®チューブ、タングステンカーバイド、Ertalyte®、Viton®、Buna-n、エポキシ |
| サンプルサイズ | 50 mLの分散サンプル–正確な濃度は不要 |
| Suspending liquids | 試料セル材料と互換性があり、X線吸収性が高くない液体(一般的に水、グリコール、鉱油、SediSperse®、アルコールなど) |
| Power Supply | 85～264 VAC、47/63 Hz、450 VA |
| 温度（動作） | 周囲温度+10～40 °C (動作時)、-10～55 °C (保管または輸送時) |
| 湿度 | 20～80%（結露なし） |
| 寸法 | 高さ(H): 52 cm (20.5インチ)
幅(W): 50.5 cm (20インチ)
奥行き: 58 cm (23インチ)
重量43 kg (95 lbs) |
Micromeritics SediGraphは、直接質量濃度検出に基づいて、D10、D50、D90などの粒子径分布と統計を測定できます。ボタンを押すだけで、基本的なレポートと詳細なレポートを作成できます。SediGraph III PlusをオプションのMasterTechオートサンプラーと組み合わせて生産プロセスを継続的に監視し、データをネットワークやクラウドに送信してリモートでアクセスできます。
粒子情報の完全性に責任を持ち、0.1 µm未満の端数を含め、導入試料すべてについて測定内容を保証します。
他の粒子径分布測定手法のデータと統合し、レポートするデータの範囲を125,000 µm（125 mm）まで拡張できます。地質学の用途に最適です。
沈降セルを下から上にスキャンすることで、微粒子の分離に必要な時間を最小限に抑えながら、高速で沈降する粒子の正確なインベントリが可能
操作の完全な自動化により試料のスループットが向上し、オペレータの介入が少なくなるだけでなく、ヒューマンエラーのリスクも減少
分析時の温度を制御することで、分析全体で液体特性が一定に保たれ、正確で再現性のある結果が実現
統計的プロセス管理（SPC）レポートでプロセスのパフォーマンスを追跡し、変動に迅速に対応
Micromeritics SediGraph III Plusは、Windowsを基盤としたプログラムで想定される便利な機能をすべて使用可能な、多用途で使いやすいユーザーインターフェースを搭載しています。これらの機能には、ポイントアンドクリックメニュー、お使いのラボのロゴを使用したカスタマイズ可能なレポートの作成、編集可能なグラフ、カットアンドペーストできる図表、データエクスポート機能などが含まれます。
カスタムプロトコルは、分析の計画、開始、制御をサポートし、その後の分析がオペレータのスキルに関係なくすべて同じように実行されることを保証します。生データの収集、整理、アーカイブ、削減に加え、標準化された試料情報と分析条件を保存でき、後に利用する際に簡単にアクセスできます。完成したレポートは画面上や印刷物に生成でき、または様々なフォーマットでストレージ用デバイスに転送することが可能です。
300〜0.1 μmの粒子の詳細な分析データが、SediGraph III Plusに自動で表示されます。他の粒子径分布測定で収集した125,000〜300 μmのデータをSediGraphのデータと組み合わせて、125,000〜0.1 μmの粒子に関する効果的なレポートを作成できます。
表形式のデータに加え、次のような様々なグラフィックの解析プロットを使用できます。
プロットを重ねて、異なる試料の結果を比較したり、同じ試料の異なるプロットタイプと比較したりすることができます。これにより、分析結果を標準的な結果と比較できます。プロットを再スケールして、グラフィックデータを綿密に分析できます。表とグラフのx軸選択に列が追加され、φ=-log2（mm単位の粒子径）で粒子径が表示されます。また、表の沈降速度（cm/s）の列を選択できます。プロットのx軸は、粒子径または沈降速度でスケーリングできます。
