SciAps Z-70

高速で正確な金属分別

  • 材料識別試験用に設計された頑丈なハンドヘルド空気燃焼式LIBS装置
  • 6 mJ/パルスのレーザは、LIBS分別市場で最高レベルに強力
  • 単一基材または複数基材に対してキャリブレーション
  • 試験結果の「汚染」を防ぐ独自のエアポンプ設計

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強力な組み合わせ:SciAps は Malvern Panalytical グループの一員です

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Z-70の紹介

SciAps Z-70の紹介: 高速で正確な金属分別、経済的なハンドヘルドLIBS装置、最小限の規制要件。 

Z-70は、材料識別試験に特化して設計された頑丈なハンドヘルド空気燃焼式LIBS装置で、SciApsの業界をリードする技術を純粋な分別ツールに搭載しました。使いやすい「ポイントアンドシュート」分析装置が必要な基本的なスクラップ分別および金属加工工場向けに設計されており、数百種類の合金をグレードや化学物質で識別します。正確で高速な合金識別と化学分析を経済的な価格で提供します。 

電源を入れて数秒で試験を開始できます。ドリフト補正やキャリブレーションは不要です。

強力なレーザ(市場の「micro-LIBS」より約40倍強力)により、表面の汚染物質、オイル、グリース、陽極酸化被膜に加え、塗料も燃焼させます。推測頼みの作業は不要になりました。

Z-70の特長

  • 強力なレーザ: 高分解能と広範囲に対応する高度な分光計設計

  • 内部カメラ: 分析場所を正確にターゲティング、切削くずには不可欠

  • マクロカメラ: サンプルの写真記録、バーコードとQRコードの読み取り

  • 独自のエアポンプ: 分析ウィンドウをきれいに保ち、最良の結果が得られる設計

  • 細いノーズ: 溶接部やアクセスが困難な試験位置に適したテーパー形状

  • レーザ安全センサ: 特許取得済みのサンプルセンサにより、LSOの承認に基づきクラス1の動作が可能

  • 直感的なAndroidオペレーティングシステムにアプリベースのソフトウェアを搭載

  • 高解像度ディスプレイ: 見やすい背面ディスプレイ

  • 頑丈な金属製ボディ: 耐久性を最大限に高め、サービスコストを最小化

Z-70を使用した金属識別(スクラップ分別およびスクラップ加工業者向け)

グレードのカスタマイズ

Z-70は、LIBS分別市場で最も汎用性の高い装置です。カスタマイズしたグレードを入力し、試験のニーズに合わせて調整できるため、フォーマットも使いやすく高い柔軟性を備えています。

Z-70は、単一基材または複数基材に対してキャリブレーションできます。Z-70では、基材がキャリブレーションされていなくても、基材材料を容易に区別できます。誤りを招く結果は提供しません。

「強力」の定義を塗り替える

SciAps Z-70は、市場で入手可能な他の材料識別装置よりも約50倍強力な6 mJのレーザを備えています。スクラップ回収所の環境では多くの場合、マイクロLIBS材料識別装置で汚れたサンプルを分析するために研磨が必要ですが、この環境でも試験の速度と性能が向上します。

従来の材料識別装置では、繰り返し率が高い150 μJ/パルスを使用しますが、これは汚れた表面を適切にきれいにするには弱すぎます。これが識別の誤りにつながり、サンプル表面の準備に余分な時間がかかります。

Z-70は、実際の現場のサンプルを試験するために設計されています。内蔵エアポンプにより、ウィンドウが長時間きれいに維持され、正確なデータが得られるようになります。

不要な汚れの侵入を防止

クリーンな結果、クリアな利点。

SciAps Z-70独自のエアポンプフィルタにより、不要な汚れのテストチャンバへの侵入を効果的に防ぐので、チャンバの清掃頻度が減ります。

エアポンプが残った汚れの粒子をテストウィンドウから一掃します。これは、試験結果を「汚染」から守るための最良のソリューションです。 

仕様

重量
4.19 lb/ 1.9 kg (電池を含む)
寸法
10.73 x 3.35 x 10.24インチ / 270 x 260 x 85 mm
表示
3.5インチ高輝度カラータッチスクリーン、あらゆる照明条件で読みやすい
背面ディスプレイで結果を簡単に表示
電源
内蔵充電式リチウムイオン電池、装置内充電式または外部充電器つき、AC電源
Processing electronics and host processor
ARM Quad Cortex -A53 1.2 GHz
メモリ: 2 GB LPDDR3、16 GB eMMC
Data storage
結果の保存先: 32 GB SD
Data Transfer
GoogleのAndroidプラットフォーム上に構築されており、リアルタイムデータエクスポートを実現。Wi-Fi (IEEE 802.11b/g/n)、Bluetooth (BR/EDR+BLE)、GPS、USB-Cなどを内蔵し、実質的にあらゆる情報管理システムに接続可能
サンプルインターフェイス
一体型カメラとレーザ式ターゲットインジケータで、分析前および分析中にサンプルを適切に配置
QRコード/バーコードのスキャン、写真記録、レポート作成用に2つ目の「マクロカメラ」を搭載
Laser raster
内蔵Yステージで、ばらばらな位置へレーザをラスタリングしてターゲット分析や平均化を実行
Environment
SciAps独自のOpti-Purgeは、エアポンプとフィルタを備え、試験中ウィンドウをきれいに維持
Security
パスワード保護、マルチユーザーサポート、アクセスを設定可能。
Calibration check
自動キャリブレーションおよび波長スケール検証用の316ステンレス鋼標準物質
許容ドリフト
自動ドリフト補正ソフトウェアを内蔵し、工場出荷時のキャリブレーションを使用
スペクトル帯域幅
190~625 nm
校正手法
アルミニウム: Li、Be、Mg、Al、Si、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Ni、Cu、Zn、Zr、Pb、Bi、Ag、Sn  
銅: Be、Al、Si、Cr、Mn、Fe、Ni、Cu、Zn、Se、Ag、Sn、Pb、Bi
マグネシウム: Mg、Al、Mn、Cu、Zn  
チタン: Al、Ti、V、Cr、Fe、Cu、Zr、Nb、Mo、Sn  
鉄: Al、Si、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Cu、Ni、Nb、Mo、W、Pb  
ステンレス鋼: Al、Si、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Ni、Cu、Nb、Mo、W ニッケル: Al、Si、Ti、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Nb、Mo、W
規制試験
CE、RoHS、USFDA登録済み。クラス3bレーザ
内蔵サンプルセンサで、現地のLSO承認に基づきクラス1条件での動作が可能

アクセサリ

分析を強化

OneBox

業界をリードする当社のXRFユニットにZシリーズを組み合わせることで、周期表のすべての元素とサンプルタイプで最適な分析結果が得られます。同一のバッテリー、ケーブル、充電器、その他のアクセサリを使用できます。

  • LIBS: XRFでは測定できない次の元素を分析: Li、Be、B、C、F、Naなど。XRFと比べてMg、Ca、Kの分析性能が向上。レーザースポットサイズ100 umで微量分析を実施。  
  • XRF: 遷移金属や重金属に最適。特にバルク材料、土壌や鉱石類の材料で簡単に使用可能。
詳細
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高速で正確な金属分別。

高速で正確な金属分別。

業界をリードするZシリーズの技術により、すばやく材料を識別します。金属とスクラップの分別が簡単です。

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