近赤外線分析法は非常に柔軟な分析形式で、幅広い研究と産業プロセスの用途に適用できます
近赤外線(NIR)分析法は非常に柔軟な分析形式で、幅広い研究と産業プロセスの用途に適用できます。 材料を測定してプロセスを最適化し、コストを管理するため、リモートセンシングの主要技法が切望されて、NIR分析法がコスト効率の高いツールとして産業界で人気になりました。
NIRS近赤外線反射分析法は、電磁スペクトルの近赤外線領域(約700～2500ナノメートル)を使用する方法です。 サンプルから散乱したりサンプルを貫通したりした光を測定し、NIR分光反射率を使用して、サンプルを変更せずに材料の特性を素早く判断できます。
NIRでは測定データが操作可能な情報に変換され、プロセスを最適化したり研究を改善したりできるようになります。 慎重に調製したサンプルと同じ容易さで不規則表面を検討できるNIRは非破壊的で、サンプル調製はほとんどまたは全く必要ありません。 これを使用し、複数の構成要素を1回のスキャンで分析することもできます。
