Röntgendiffraktometer von Malvern Panalytical sind so konzipiert, dass sie Beugungsdaten in höchster Qualität liefern. Dabei bieten sie einen hohen Bedienkomfort und die Flexibilität, schnell zwischen verschiedenen Anwendungen zu wechseln.

Unsere Diffraktometer werden in zahlreichen Umgebungen eingesetzt – von Universitäten und Forschungsinstituten bis zu industriellen Prozesskontroll-Laboren. Unabhängig von Ihren Anforderungen an die Röntgendiffraktometrie (XRD) bieten wir Ihnen stets das geeignete Gerät. Dabei unterstützen wir Sie durch unsere weltweite Vertriebs- und Kundendienstorganisation.

Unsere Mehrzweckdiffraktometer sind alle mit PreFIX-Modulen ausgestattet (von engl.: Pre-aligned Fast Interchangeable X-ray modules; vorjustierte, schnell auswechselbare Röntgenmodule). Hierdurch können problemlos und schnell Änderungen am Strahlengang vorgenommen werden. Daher können wir auf einer einzelnen Diffraktometerplattform eine maximale Anzahl von Applikationen anbieten. In unserem Knowledge-Center finden Sie weitere Informationen über die vielen interessanten XRD-Anwendungen, die mit unseren Geräten möglich sind.

Empyrean

Empyrean

Die Vielzwecklösung für Ihre analytischen Anforderungen

Mehr Details
Messung Partikelform, Partikelgröße, Crystal structure determination, Phasenidentifizierung, Phase quantification, Detektion und Analyse von Kontaminationen, Epitaxy analysis, Interface roughness, 3D structure / imaging
Goniometer-Konfiguration Vertical goniometer, Θ-Θ
Technologie X-ray Diffraction (XRD)

Aeris

Aeris

XRD leicht gemacht

Mehr Details
Messung Crystal structure determination, Phasenidentifizierung, Phase quantification
Röntgenröhren-Anodenmaterial Cu /Co (option)
Technologie X-ray Diffraction (XRD)

Empyrean

Empyrean

Die Vielzwecklösung für Ihre analytischen Anforderungen

Aeris

Aeris

XRD leicht gemacht

Mehr Details Mehr Details
Messung Partikelform, Partikelgröße, Crystal structure determination, Phasenidentifizierung, Phase quantification, Detektion und Analyse von Kontaminationen, Epitaxy analysis, Interface roughness, 3D structure / imaging Crystal structure determination, Phasenidentifizierung, Phase quantification
Goniometer-Konfiguration Vertical goniometer, Θ-Θ  
Röntgenröhren-Anodenmaterial   Cu /Co (option)
Technologie X-ray Diffraction (XRD) X-ray Diffraction (XRD)

Aeris

Empyrean

X'Pert³ MRD

X'Pert³ MRD XL

Aeris Empyrean X'Pert³ MRD X'Pert³ MRD XL

Benchtop X-ray diffractometer

Die Vielzwecklösung für Ihre analytischen Anforderungen

Versatile research & development XRD system

Versatile research, development & quality control XRD system

Mehr Details Mehr Details Mehr Details Mehr Details
Technologie
X-ray Diffraction (XRD)
Typ der Messung
Partikelform
Partikelgröße
Crystal structure determination
Phasenidentifizierung
Phase quantification
Detektion und Analyse von Kontaminationen
Epitaxy analysis
Interface roughness
3D structure / imaging
Dünnschicht-Messtechnik
Residual stress