2830 ZT

Der wellenlängendispersive Wafer-Analyzer (WDRFA) 2830 ZT bietet die ultimativen Möglichkeiten zur Messung der Dicke und Zusammensetzung von Schichten. Speziell für die Halbleiter- und Datenspeicherindustrie entwickelt, ermöglicht der Wafer-Analyzer 2830 ZT die Bestimmung der Zusammensetzung, der Dicke, des Dotierungsgrads und der Oberflächenbeschaffenheit von Schichten bei Wafern von bis zu 300 mm.

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Produkte:: Crystal orientation range, 2830 ZT, X'Pert3 range
Technologie:: Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA), Dynamische Lichtstreuung, Wellenlängendispersive Röntgenfluoreszenzanalyse (WDRFA), Röntgendiffraktometrie (XRD)
Industrie:: Halbleiter/Elektronik

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