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Empyrean Linie

Multifunktionelle Röntgendiffraktometer

Empyrean Linie

Mit Empyrean setzt Malvern Panalytical neue Maßstäbe in der Röntgenanalyse. 

Diese modulare Mehrzweckplattform vereint Röntgendiffraktion (XRD), Röntgenstreuung, Röntgenbildgebung und nun auch Röntgenabsorptionsspektroskopie (XAS) in einem einzigen Gerät und ermöglicht so tiefere Einblicke in Materialien, ohne dass Sie ausschließlich auf Synchrotron-Anlagen angewiesen sind.

Empyrean ist auf die sich weiterentwickelnden Anforderungen der modernen Materialforschung ausgelegt, passt sich an die steigenden Anwendungsanforderungen an und bietet die Flexibilität, die Herausforderungen von heute zu bewältigen und die Fragen von morgen zu beantworten.

Unterstützte Produkte

Empyrean

Das intelligente Röntgendiffraktometer

Messung
Crystal structure determination
3D structure / imaging
Contaminant detection and analysis
Epitaxy analysis
Interface roughness
Texture analysis
Phase identification
Reciprocal space analysis
Phase quantification
Residual stress
Goniometer configuration
Vertical goniometer, Θ-Θ
Particle size range
1 - 100 nm
Technologie
X-ray Diffraction (XRD)
Empyrean

Empyrean Alpha-1

Hervorragende Datenqualität mit Hilfe eines XRD-Laborsystems

Messung
3D structure / imaging
Crystal structure determination
Phase identification
Phase quantification
Goniometer configuration
Vertical goniometer, Θ-Θ
Technologie
X-ray Diffraction (XRD)
Empyrean Alpha-1

Empyrean Nano Edition

Vielseitige Plattform für Röntgenstreuung

Messung
Molecular weight
Particle shape
Particle size
Phase identification
Phase quantification
Pore size distribution
Protein aggregation
Protein stability
Surface area
Goniometer configuration
Vertical goniometer, Θ-Θ
Particle size range
1 - 100 nm
Technologie
X-ray Diffraction (XRD)
X-ray Scattering
Empyrean Nano Edition

Empyrean XAS

Messung
Crystal structure determination
3D structure / imaging
Contaminant detection and analysis
Epitaxy analysis
Interface roughness
Texture analysis
Phase identification
Phase quantification
Reciprocal space analysis
Residual stress
Technologie
X-ray Diffraction (XRD)
Empyrean XAS