最終製品の物理的特性、化学的特性は、ポリマー原料の分子構造に密接に関連している場合があります。

ポリマー構造(ブランチング)の種類:

  • 線形
  • ランダム分岐
  • 櫛形構造
  • デンドリティックポリマー(デンドリマー)
  • コポリマー
  • 架橋

OMNISECのようなマルチ検出SECは、以下のような多くのパラメータの特定に使用できます。

  • 分岐比
  • 分岐頻度
  • 分子密度/固有粘度
  • コポリマー構造
  • 骨格改変

構造は、密度に対する感度の高い固有粘度検出器と、分子量を測定できる光散乱検出器とを組み合わせて特定できます。 これらのパラメータは、構造情報を推定するMark-Houwinkプロットを構築するために使用します。

応用例:
一般的にニトリルゴム(NBR)と呼ばれるアクリロニトリル-ブタジエンコポリマーは、接着配合剤に広く使われており、この材質の手袋は検査や洗浄に使われています。

NBRのコポリマーの構造、架橋と分岐、分子量は、NBRの柔軟性や耐穿孔性など、肉眼で見える特性に影響を及ぼします。

OmniSEC

OmniSEC

世界最先端のマルチ検出器GPC/SECシステム

詳細
測定 分子構造, 分子サイズ, 分子量
測定温度範囲 20°C - 65°C
技術 ゲル浸透クロマトグラフィー, サイズ排除クロマトグラフィー (SEC), 静的光散乱

Empyrean(エンピリアン)

Empyrean(エンピリアン)

多目的X線回折装置

詳細
測定 Crystal structure determination, 相同定, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Residual stress, Epitaxy analysis, Interface roughness, 配向分析, 3D structure / imaging, Reciprocal space analysis
ゴニオメータ構成 試料水平型ゴニオメータ
測定範囲 1 - 100 nm
技術 X-ray Diffraction (XRD)

Empyrean Nanoエディション

Empyrean Nanoエディション

多目的X線散乱プラットフォーム

詳細
測定 分子量, 粒子形状, 粒子サイズ, 比表面積, タンパク質凝集, Protein stability, 相同定, Phase quantification, Pore size distribution
ゴニオメータ構成 Vertical goniometer, Θ-Θ
測定範囲 1 - 100 nm
技術 X-ray Diffraction (XRD), X-ray Scattering

OmniSEC

OmniSEC

世界最先端のマルチ検出器GPC/SECシステム

Empyrean(エンピリアン)

Empyrean(エンピリアン)

多目的X線回折装置

Empyrean Nanoエディション

Empyrean Nanoエディション

多目的X線散乱プラットフォーム

詳細 詳細 詳細
測定 分子構造, 分子サイズ, 分子量 Crystal structure determination, 相同定, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Residual stress, Epitaxy analysis, Interface roughness, 配向分析, 3D structure / imaging, Reciprocal space analysis 分子量, 粒子形状, 粒子サイズ, 比表面積, タンパク質凝集, Protein stability, 相同定, Phase quantification, Pore size distribution
測定温度範囲 20°C - 65°C    
ゴニオメータ構成   試料水平型ゴニオメータ Vertical goniometer, Θ-Θ
測定範囲   1 - 100 nm 1 - 100 nm
技術 ゲル浸透クロマトグラフィー, サイズ排除クロマトグラフィー (SEC), 静的光散乱 X-ray Diffraction (XRD) X-ray Diffraction (XRD), X-ray Scattering

OmniSEC

ゼータサイザーアドバンスシリーズ

Empyrean Nanoエディション

OmniSEC ゼータサイザーアドバンスシリーズ Empyrean Nanoエディション

世界最先端のマルチ検出器GPC/SECシステム

あらゆる用途に対応する光散乱装置

多目的X線散乱プラットフォーム

詳細 詳細 詳細
測定タイプ
分子構造
分子サイズ
分子量
技術
ゲル浸透クロマトグラフィー
サイズ排除クロマトグラフィー (SEC)
動的光散乱法(DLS)
X-ray Diffraction (XRD)