Empyreanにより、Malvern Panalyticalは、粉末、薄膜、ナノ材料、および固形物を分析するための究極のX線プラットフォーム開発に新しい基準を確立しました。

これは、近年の物質研究の課題に対してMalvern Panalyticalが出した答えともいえる製品で、装置の耐用期間は、あらゆる研究プロジェクト期間の長さをはるかに超えています。

Empyreanは、完全な多目的研究用X線プラットフォームです。 他のシステムとは異なり、Empyreanは将来のニーズにも対応できるように開発されています。

Empyrean(エンピリアン)

Empyrean(エンピリアン)

多目的X線回折装置

詳細
測定 Crystal structure determination, 相同定, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Residual stress, Epitaxy analysis, Interface roughness, 配向分析, 3D structure / imaging, Reciprocal space analysis
ゴニオメータ構成 試料水平型ゴニオメータ
測定範囲 1 - 100 nm
技術 X-ray Diffraction (XRD)

Empyrean Nanoエディション

Empyrean Nanoエディション

多目的X線散乱プラットフォーム

詳細
測定 分子量, 粒子形状, 粒子サイズ, 比表面積, タンパク質凝集, Protein stability, 相同定, Phase quantification, Pore size distribution
ゴニオメータ構成 Vertical goniometer, Θ-Θ
測定範囲 1 - 100 nm
技術 X-ray Diffraction (XRD), X-ray Scattering

Empyrean Alpha 1

Empyrean Alpha 1

研究室のXRDシステムから生まれた比類のないデータ品質

詳細
測定 Crystal structure determination, 相同定, Phase quantification, 3D structure / imaging
ゴニオメータ構成 Vertical goniometer, Θ-Θ
技術 X-ray Diffraction (XRD)

Empyrean(エンピリアン)

Empyrean(エンピリアン)

多目的X線回折装置

Empyrean Nanoエディション

Empyrean Nanoエディション

多目的X線散乱プラットフォーム

Empyrean Alpha 1

Empyrean Alpha 1

研究室のXRDシステムから生まれた比類のないデータ品質

詳細 詳細 詳細
測定 Crystal structure determination, 相同定, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Residual stress, Epitaxy analysis, Interface roughness, 配向分析, 3D structure / imaging, Reciprocal space analysis 分子量, 粒子形状, 粒子サイズ, 比表面積, タンパク質凝集, Protein stability, 相同定, Phase quantification, Pore size distribution Crystal structure determination, 相同定, Phase quantification, 3D structure / imaging
ゴニオメータ構成 試料水平型ゴニオメータ Vertical goniometer, Θ-Θ Vertical goniometer, Θ-Θ
測定範囲 1 - 100 nm 1 - 100 nm  
技術 X-ray Diffraction (XRD) X-ray Diffraction (XRD), X-ray Scattering X-ray Diffraction (XRD)