
CRM
Claisseにより常にニーズが満たされます
Claisseは、世界中の高品質の認定参照資料(CRM)と、参照資料(RM)を競争力のある価格でお客さまに提供いたします。 Claisseは、お客さまのニーズに関わらず、XRF、AA、ICP分光分析に最適なソリューションを取得するため、必要なあらゆるサービスをご提供できるよう努めております。
Take your lab to the sample | Technical guide. Download now
Download nowさらに詳しい情報をお探しですか?
見積もり、詳細情報をリクエストするか、パンフレットをダウンロードするには、以下のオプションを選択してください。
イプシロン 1 ULSは理想的な分析ソリューションです。工場で事前にキャリブレーションされた当社の装置は、ISO 13032およびASTM D4294、ISO 20847、ISO 8754、IP496、IP336、JIS K2541-4など、硫黄関連の国際的テスト方法に準拠した、燃料中の低硫黄含有量を分析にすぐに役立つソリューションです。
イプシロン 1 ULSは、サンプル調製を最小限に抑え、ヘリウムを必要とせずに、硫黄と塩素5 ppmから正確で精密なデータを提供します。これにより、総ランニングコストを最小限に抑えることができます。
イプシロン1は、自動車燃料中の超低硫黄の分析用に事前キャリブレーションされた、高品質ベンチトップX線蛍光装置です。最も厳格なものを含む、最新の国際的テスト方法に完全に準拠しています。
ISO 13032。硫黄の再現性テストの結果は、この基準で設定された制限値内に十分収まっています。
原油中の塩素の微量分析をお考えですか?これは、イプシロン 1 ULS装置の、別の事前キャリブレーションオプションとしてご用意しています。
硫黄および塩素に対する最大限の感度を実現
マルバーン・パナリティカルが特別に設計、製造した新しい薄型ウィンドウのバナジウム陽極X線管は、高い感度と最高品質の測定を保証します。アノード材質としてバナジウムを選択することは、XRFスペクトルで起こりうるラインオーバーラップが干渉することなく、硫黄や塩素を定量化するのに最適であり、信頼度の高い正確な結果を得ることができます。また、触媒を保護するために必要なレベルでバナジウムとニッケルの分析が可能です。
ヘリウムガス不要
Epsilon 1は、サンプル調製とランニングコストを最小限に抑えながら、正確で精密なデータを提供します。励起および検出コンポーネントの感度が高いため、ヘリウムガスが無くても、ISO 13032に準拠した測定結果を得ることができます。装置の空気圧・温度センサは、高度なソフトウェアアルゴリズムと組み合わせることで、すべての測定結果が環境条件に左右されずに安定していることを確認します。これにより、総ランニングコストを最小限に抑えることができます。
漏出保護
システムの繊細な中心部を保護するために、漏出保護ホイルが取り付けられています。漏出が発生した場合、オペレータは簡単にホイルを交換できます。
簡単な通信方法
標準的なコンピュータの周辺機器をUSBやネットワーク接続することで、拡張使用やアプリケーション開発に使用したり、操作中のオペレータをサポートしたりします。
内蔵装置
強力なCPUと120 GBのハードドライブを搭載している内蔵コンピュータにはMicrosoft Windows 10がインストールされており、数千もの分析結果を保存して処理する柔軟性を提供します。高解像度の10.4インチLCDタッチスクリーンは、ウォークアップ操作に最適です。
本装置の構成は、石油化学用途、特に硫黄および塩素が重要な元素である製油所向けに、設計および製造されています。
イプシロン1は、次のようなEDXRF装置の硫黄関連国際試験法の多くに準拠しています。
サンプルの装填 | 高い再現性を誇るサンプル配置 |
---|---|
サンプルサイズ | 典型的な5ml液体 |
Safety | 液体の漏出保護 |
規制試験 | ISO 13032に準拠した硫黄分析
原油中の塩素分析 |
Features | 高い安定性を誇るセラミックサイドウィンドウ
50μmの薄型ウィンドウ(Be) 硫黄と塩素分析に最適なバナジウム陽極 |
---|---|
電源 | ソフトウェア制御、最大電圧30 kV |
分解能 | 高分解能(通常135 eV) |
---|---|
Features | 8μmの薄型ウィンドウ(Be)
高カウントレート容量 |
ソフトウェア | 要件に応じてオプションです。例:
|
---|---|
インターフェース | 大きなボタンを使用するオペレータモードでの簡単操作
多数の機能が使用できるアドバンストモード
|
Claisseは、世界中の高品質の認定参照資料(CRM)と、参照資料(RM)を競争力のある価格でお客さまに提供いたします。 Claisseは、お客さまのニーズに関わらず、XRF、AA、ICP分光分析に最適なソリューションを取得するため、必要なあらゆるサービスをご提供できるよう努めております。
Epsilonソフトウェアは、XRF分析ソフトウェアのプラットフォームであり、PANalyticalのEpsilon 1およびEpsilon 4ベンチトップタイプEDXRFシステムシリーズで使用されています。このソフトウェアは、Epsilonベンチトップシステムの設定と操作に必要なすべての機能を備えています。分析プログラムの組み立ては、ソフトウェアに組み込まれた高度なインテリジェンスにより非常に容易に実行でき、ユーザーは半世紀にわたり蓄積されたアプリケーションの専門知識を活用できます。毎日実行するXRF分析は、経験の浅い作業者でも最小限のトレーニングで簡単に実行できるルーチンタスクです。ソフトウェアを簡単に使用できるようにする、多くの機能が用意されています。
Stratosソフトウェアモジュールは、測定から得られた化学組成と層状材料の厚さを同時に測定できるアルゴリズムを採用しています。このソフトウェアは、迅速でシンプルな非破壊的な方法でコーティング、表面層、および多層構造を分析できます。Virtual Analystは、複雑なスタック用の測定プログラムの設定時に情報を提供します。
Stratosは、Epsilon 4 EDXRF、およびZetium XRF分光計で使用可能で、サンプルタイプやマトリクスに関係なく、即座に信頼性の高い結果を得ることができます。
Omnianを使用すると、専用の分析方法や認定済み標準物質が存在しない場合に、最良の定量結果を導き出します。 主流となりつつあるスタンダードレス分析パッケージであるOmnianには、技術に対応する最先端のソフトウェアと設定サンプルが組み込まれています。 Omnianは、Epsilon 1、Epsilon 4、およびZetium分光計で使用可能で、サンプルタイプやマトリクスに関係なく、即座に信頼性の高い結果を得ることができます。
Epsilon 4 EDXRFと組み合わされたFingerPrintソフトウェアモジュールは、分析速度が重要で実際の組成は重要ではない場合の材料テストに最適です。一般的にFingerPrintingは、サンプル調製をほとんど、またはまったく必要とせず非破壊的です。
Enhanced Data Security (EDS)モジュールは、Zetium XRF分光計(SuperQソフトウェアを使用)およびEpsilon XRF分光計を使用しているユーザーのために、信頼性の高い測定結果を提供するソフトウェアオプションです。EDSは高度なユーザー管理、アクションログ、データ保護、アプリケーションステータスの割り当てなどの機能を備えており、監査証跡を強化し、エラー発生リスクを最小限に抑え、XRF装置が期待どおりに動作することを保証します。
新しいEpsilon 1を正しく設置すれば、信頼性の高い分析結果が得られます。 Epsilon 1の設置は簡単です。システムを開梱し、プラグを差し込んで、ガイドの設置手順に従います。 最後に簡単な放射線テストを実施して設置は完了です。システムが安全に動作していることが確認できます。 はい、Epsilon 1を使い始めることは非常に簡単です。 また、必要な安全認証がシステムに付属しているため、安心してご利用いただけます。
セルフ設置により、予期しない状況や遠隔地でエンジニアを派遣できない場合でも、新しい機器を確実に立ち上げ、稼働させることができます。 Epsilon 1はガイド付きのセルフ設置が用意されており、システムを自分で設置し、装置の完全性と安全認証を維持できます。
ガイド付きセルフ設置の利点:
バージョン番号:: 1
バージョン番号:: 5
最新のソフトウェアについてはお問い合わせください。
お客様の装置が最高の状態を保ち、最高レベルで機能するために、Malvern Panalyticalではさまざまなサービスを提供しています。 当社の専門知識とサポートサービスは、装置が最適に機能するよう保証します。
寿命終了までのサービス
工程に価値を付加する