X선 계측학은 층 구조의 종류가 다양한 마이크로 및 광전자 소자의 개발 및 대량 생산 시 박막 분석에 이상적인 도구입니다. XRD, XRR, XRF 등 X선 방법 기반의 측정 도구는 초박 단층부터 복잡한 다층 스택까지 매우 중요한 매개변수를 신속하고 비파괴적으로 신뢰하면서 정확하게 이용할 수 있는 것으로 입증되었습니다.

X선 계측학은 층 기반의 새로운 응용 분야와 기술 개발을 통해 산업과 함께 발전하고 있으며, 시험 생산을 통한 R&D 단계부터 반도체 소자의 대규모 자동 제조까지 기본적인 도구의 역할을 계속하고 있습니다.