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Epsilon Xline kombiniert unsere fortschrittliche energiedispersive RFA-Technologie (EDRFA) mit Inline-Funktionalität. Diese fortschrittliche Lösung ermöglicht die Überwachung und Prozesssteuerung von Materialien in Echtzeit bei Rolle-zu-Rolle-Beschichtungsverfahren (R2R).
Durch eine direkte Analyse ist eine kontinuierliche Optimierung der Materialzusammensetzung und -Aufbringung möglich. Dadurch werden Produkte außerhalb der Spezifikationen minimiert und die Kosteneffizienz maximiert.
Der anpassbare Epsilon Xline ermöglicht eine präzise und genaue Prozesssteuerung über eine Vielzahl von Oberflächen und Elementen hinweg.
Vollständige Inline-Automatisierung: Profitieren Sie von der kontinuierlichen R2R-Produktion dank der nahtlosen Integrationsoptionen des Epsilon Xline, die für eine Reihe von Dünnschicht- und Beschichtungsanwendungen geeignet sind.
Einfach und sicher: Der Epsilon Xline ist im Gegensatz zu tragbaren oder älteren Geräten vollständig röntgensicher und benutzerfreundlich und liefert hochgenaue Analysedaten.
Lebenslange Erfahrung: Mit mehr als 70 Jahren Erfahrung im Bereich der Elementaranalyse hat Malvern Panalytical den Epsilon Xline in Zusammenarbeit mit unseren Industriepartnern entwickelt, um ihren aktuellen Anforderungen gerecht zu werden und gleichzeitig gemeinsam in die Zukunft der Branche zu blicken.
Maximaler Ertrag: Erzielen Sie eine kostengünstige Produktion mit Echtzeitüberwachung und ohne Unterbrechungen. So erhalten Sie direkte Einblicke und die Kontrolle, die Sie benötigen, um das Beste aus Ihrem Betrieb herauszuholen.
Optimale Materialeffizienz: Beseitigen Sie Inkonsistenzen, verschwenden Sie keine wertvollen Materialien und garantieren Sie ein hochwertiges Produkt mit unserer Lösung nach Industriestandard.
Bewährte und patentierte Genauigkeit: Der Epsilon Xline wurde zusammen mit Kunden entwickelt und getestet und verfügt über eine patentierte Höhenkorrektur-Technologie für eine stabile Analyse und genaue Ergebnisse.
Da Platin-Katalysatoren mehr als 20 % Ihrer Gesamtkosten für Brennstoffzellen ausmachen, ist es unerlässlich, die Katalysatorbeschichtung durch gleichmäßige Dispergierung und Schichtung zu optimieren. Und eine schnelle, genaue Prozessüberwachung ist dafür die ideale Lösung! Der Epsilon Xline erleichtert Ihnen die effiziente Betriebssteuerung und bietet folgende Vorteile:
Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA) ist eine zerstörungsfreie Elementanalysetechnologie, die eine Inline-Überwachung während der Beschichtungsprozesse katalytischer Membranen ermöglicht – ohne Probenentnahme und ohne chemische oder physikalische Veränderungen.
Diese Online-Analyse ermöglicht eine schnelle Optimierung vieler Prozessparameter und Produkteigenschaften in Echtzeit.
Die bewährte und robuste Technologie im Epsilon Xline und in unseren Epsilon-Geräten basiert auf den neuesten Fortschritten in der Anregungs- und Detektionstechnologie.
Der ausgeklügelte Strahlengang, eine Vielzahl an Anregungsoptionen für leichte und schwerere Elemente und das schnelle, hoch auflösende SDD-Detektorsystem machen den Epsilon Xline einzigartig. Diese Innovationen sorgen für höchst reproduzierbare und genaue Ergebnisse bei niedrigem Wartungsaufwand.
| Proben-Typen | Beschichtungslinie |
|---|---|
| Coating types | Durchgehend, Spuren, Patches
|
| Line speed continuous coating | Maximal 30 m/min |
| Line speed patch coating | Maximal 11 m/min
|
| Type | Metall-Keramik, 50 µm (Be) Seitfenster
|
|---|---|
| Anode material | Ag |
| Tube setting | Softwaregesteuerte, anwendbare Spannungen 4–50 kV, max 3 mA, max Röhrenleistung 15 W
|
| X-Ray filtering | Sechs, per Software auswählbar (Cu 300 µm; Cu 500 µm; Al 50 µm; Al 200 µm; Ti 7 µm; AG 100 µm
|
| Type | Hochauflösender Si-Driftdetektor SDD10
Fenster: 8 µm (Be) |
|---|---|
| Auflösung | < 145 eV bei 5,9 keV/1000 cps
Typischerweise 135 eV bei 5,9 keV/1000 cps
|
| Radiation levels | < 1 µSv/h bei 10 cm von der Außenfläche
|
|---|
Integrieren Sie Epsilon Xline nahtlos in Ihre Produktionslinien mit integrierter OPC-Konnektivität. Und mit dem dedizierten Softwarepaket wird die Einrichtung Ihres Epsilon Xline bei verschiedenen Materialien und Messmodi noch erleichtert. Durch die direkte Eingabe von Befehlen in das Gerät, oder über eine Fernbedienung, zeigt die benutzerfreundliche Oberfläche einen Überblick über die vollständigen Tracking-Daten an.
Bitte wenden Sie sich an den Support, um die neuesten Benutzerhandbücher zu erhalten.
Bitte kontaktieren Sie den Support um die neueste Software Version zu bekommen.
Um den einwandfreien Zustand und die höchstmögliche Leistung Ihres Gerätes zu gewährleisten, bietet Malvern Panalytical eine große Bandbreite an Dienstleistungen an. Unser Know-how und unsere Support-Dienstleistungen gewährleisten einen optimalen Betrieb Ihres Geräts.
Lebenslanger Kundendienst
Wertschöpfung für Ihre Prozesse
Epsilon Xline kombiniert unsere fortschrittliche energiedispersive RFA-Technologie (EDRFA) mit Inline-Funktionalität. Diese fortschrittliche Lösung ermöglicht die Überwachung und Prozesssteuerung von Materialien in Echtzeit bei Rolle-zu-Rolle-Beschichtungsverfahren (R2R).
Durch eine direkte Analyse ist eine kontinuierliche Optimierung der Materialzusammensetzung und -Aufbringung möglich. Dadurch werden Produkte außerhalb der Spezifikationen minimiert und die Kosteneffizienz maximiert.
Der anpassbare Epsilon Xline ermöglicht eine präzise und genaue Prozesssteuerung über eine Vielzahl von Oberflächen und Elementen hinweg.
Vollständige Inline-Automatisierung: Profitieren Sie von der kontinuierlichen R2R-Produktion dank der nahtlosen Integrationsoptionen des Epsilon Xline, die für eine Reihe von Dünnschicht- und Beschichtungsanwendungen geeignet sind.
Einfach und sicher: Der Epsilon Xline ist im Gegensatz zu tragbaren oder älteren Geräten vollständig röntgensicher und benutzerfreundlich und liefert hochgenaue Analysedaten.
Lebenslange Erfahrung: Mit mehr als 70 Jahren Erfahrung im Bereich der Elementaranalyse hat Malvern Panalytical den Epsilon Xline in Zusammenarbeit mit unseren Industriepartnern entwickelt, um ihren aktuellen Anforderungen gerecht zu werden und gleichzeitig gemeinsam in die Zukunft der Branche zu blicken.
Maximaler Ertrag: Erzielen Sie eine kostengünstige Produktion mit Echtzeitüberwachung und ohne Unterbrechungen. So erhalten Sie direkte Einblicke und die Kontrolle, die Sie benötigen, um das Beste aus Ihrem Betrieb herauszuholen.
Optimale Materialeffizienz: Beseitigen Sie Inkonsistenzen, verschwenden Sie keine wertvollen Materialien und garantieren Sie ein hochwertiges Produkt mit unserer Lösung nach Industriestandard.
Bewährte und patentierte Genauigkeit: Der Epsilon Xline wurde zusammen mit Kunden entwickelt und getestet und verfügt über eine patentierte Höhenkorrektur-Technologie für eine stabile Analyse und genaue Ergebnisse.
Da Platin-Katalysatoren mehr als 20 % Ihrer Gesamtkosten für Brennstoffzellen ausmachen, ist es unerlässlich, die Katalysatorbeschichtung durch gleichmäßige Dispergierung und Schichtung zu optimieren. Und eine schnelle, genaue Prozessüberwachung ist dafür die ideale Lösung! Der Epsilon Xline erleichtert Ihnen die effiziente Betriebssteuerung und bietet folgende Vorteile:
Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA) ist eine zerstörungsfreie Elementanalysetechnologie, die eine Inline-Überwachung während der Beschichtungsprozesse katalytischer Membranen ermöglicht – ohne Probenentnahme und ohne chemische oder physikalische Veränderungen.
Diese Online-Analyse ermöglicht eine schnelle Optimierung vieler Prozessparameter und Produkteigenschaften in Echtzeit.
Die bewährte und robuste Technologie im Epsilon Xline und in unseren Epsilon-Geräten basiert auf den neuesten Fortschritten in der Anregungs- und Detektionstechnologie.
Der ausgeklügelte Strahlengang, eine Vielzahl an Anregungsoptionen für leichte und schwerere Elemente und das schnelle, hoch auflösende SDD-Detektorsystem machen den Epsilon Xline einzigartig. Diese Innovationen sorgen für höchst reproduzierbare und genaue Ergebnisse bei niedrigem Wartungsaufwand.
| Proben-Typen | Beschichtungslinie |
|---|---|
| Coating types | Durchgehend, Spuren, Patches
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| Line speed continuous coating | Maximal 30 m/min |
| Line speed patch coating | Maximal 11 m/min
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| Type | Metall-Keramik, 50 µm (Be) Seitfenster
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|---|---|
| Anode material | Ag |
| Tube setting | Softwaregesteuerte, anwendbare Spannungen 4–50 kV, max 3 mA, max Röhrenleistung 15 W
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| X-Ray filtering | Sechs, per Software auswählbar (Cu 300 µm; Cu 500 µm; Al 50 µm; Al 200 µm; Ti 7 µm; AG 100 µm
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| Type | Hochauflösender Si-Driftdetektor SDD10
Fenster: 8 µm (Be) |
|---|---|
| Auflösung | < 145 eV bei 5,9 keV/1000 cps
Typischerweise 135 eV bei 5,9 keV/1000 cps
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| Radiation levels | < 1 µSv/h bei 10 cm von der Außenfläche
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Integrieren Sie Epsilon Xline nahtlos in Ihre Produktionslinien mit integrierter OPC-Konnektivität. Und mit dem dedizierten Softwarepaket wird die Einrichtung Ihres Epsilon Xline bei verschiedenen Materialien und Messmodi noch erleichtert. Durch die direkte Eingabe von Befehlen in das Gerät, oder über eine Fernbedienung, zeigt die benutzerfreundliche Oberfläche einen Überblick über die vollständigen Tracking-Daten an.
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