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Epsilon Xline

Inline-Steuerung für durchgehende Rolle-zu-Rolle-Verfahren

  • Fortschrittliche energiedispersive RFA mit Inline-Funktionalität
  • Echtzeitüberwachung bei der Rolle-zu-Rolle-Beschichtung (R2R).
  • Direkte Analyse zur kontinuierlichen Optimierung

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Übersicht

Epsilon Xline kombiniert unsere fortschrittliche energiedispersive RFA-Technologie (EDRFA) mit Inline-Funktionalität. Diese fortschrittliche Lösung ermöglicht die Überwachung und Prozesssteuerung von Materialien in Echtzeit bei Rolle-zu-Rolle-Beschichtungsverfahren (R2R). 

Durch eine direkte Analyse ist eine kontinuierliche Optimierung der Materialzusammensetzung und -Aufbringung möglich. Dadurch werden Produkte außerhalb der Spezifikationen minimiert und die Kosteneffizienz maximiert. 

Der anpassbare Epsilon Xline ermöglicht eine präzise und genaue Prozesssteuerung über eine Vielzahl von Oberflächen und Elementen hinweg.  

Features

  • Vollständige Inline-Automatisierung: Profitieren Sie von der kontinuierlichen R2R-Produktion dank der nahtlosen Integrationsoptionen des Epsilon Xline, die für eine Reihe von Dünnschicht- und Beschichtungsanwendungen geeignet sind. 

  • Einfach und sicher: Der Epsilon Xline ist im Gegensatz zu tragbaren oder älteren Geräten vollständig röntgensicher und benutzerfreundlich und liefert hochgenaue Analysedaten. 

  • Lebenslange Erfahrung: Mit mehr als 70 Jahren Erfahrung im Bereich der Elementaranalyse hat Malvern Panalytical den Epsilon Xline in Zusammenarbeit mit unseren Industriepartnern entwickelt, um ihren aktuellen Anforderungen gerecht zu werden und gleichzeitig gemeinsam in die Zukunft der Branche zu blicken. 

  • Maximaler Ertrag: Erzielen Sie eine kostengünstige Produktion mit Echtzeitüberwachung und ohne Unterbrechungen. So erhalten Sie direkte Einblicke und die Kontrolle, die Sie benötigen, um das Beste aus Ihrem Betrieb herauszuholen. 

  • Optimale Materialeffizienz: Beseitigen Sie Inkonsistenzen, verschwenden Sie keine wertvollen Materialien und garantieren Sie ein hochwertiges Produkt mit unserer Lösung nach Industriestandard. 

  • Bewährte und patentierte Genauigkeit: Der Epsilon Xline wurde zusammen mit Kunden entwickelt und getestet und verfügt über eine patentierte Höhenkorrektur-Technologie für eine stabile Analyse und genaue Ergebnisse. 

Warum Epsilon Xline?

  • Zerstörungsfreie Inline-Prozesssteuerung – keine Probenahme erforderlich
  • Verschiedene Scanmodi für kontinuierliche Patch-Beschichtung und mehrspurige Beschichtungsverfahren
  • Einfache Integration in Produktionsprozesse mit Standard-Kommunikationsprotokollen 
  • Messung aller wichtigen Elemente möglich, einschließlich Platin und Cerium 
  • Kann dünne Schichten mit herausragender Präzision messen
  • Geeignet für eine Vielzahl von Rollenbreiten
  • Einzigartiger patentierter Roboterarm, der eine optimale Abstandskontrolle ermöglicht, indem der Messkopf in alle Richtungen über die Produktionslinie bewegt werden kann

Bewältigung von Herausforderungen bei der Brennstoffzellenproduktion

Da Platin-Katalysatoren mehr als 20 % Ihrer Gesamtkosten für Brennstoffzellen ausmachen, ist es unerlässlich, die Katalysatorbeschichtung durch gleichmäßige Dispergierung und Schichtung zu optimieren. Und eine schnelle, genaue Prozessüberwachung ist dafür die ideale Lösung! Der Epsilon Xline erleichtert Ihnen die effiziente Betriebssteuerung und bietet folgende Vorteile:  

  • Minimierung von Spezifikationsabweichungen  
  • Bewahren von wertvollem Platin  
  • Herstellung kostengünstiger Endprodukte 

Elementaranalyse in Ihrem Prozess

Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA) ist eine zerstörungsfreie Elementanalysetechnologie, die eine Inline-Überwachung während der Beschichtungsprozesse katalytischer Membranen ermöglicht – ohne Probenentnahme und ohne chemische oder physikalische Veränderungen.  

Diese Online-Analyse ermöglicht eine schnelle Optimierung vieler Prozessparameter und Produkteigenschaften in Echtzeit. 

Hohe Reproduzierbarkeit und genaue Messungen bei niedrigem Wartungsaufwand

Die bewährte und robuste Technologie im Epsilon Xline und in unseren Epsilon-Geräten basiert auf den neuesten Fortschritten in der Anregungs- und Detektionstechnologie. 

Der ausgeklügelte Strahlengang, eine Vielzahl an Anregungsoptionen für leichte und schwerere Elemente und das schnelle, hoch auflösende SDD-Detektorsystem machen den Epsilon Xline einzigartig. Diese Innovationen sorgen für höchst reproduzierbare und genaue Ergebnisse bei niedrigem Wartungsaufwand. 

Spezifikation

Handhabung von Proben

Proben-Typen
Beschichtungslinie
Coating types
Durchgehend, Spuren, Patches
Line speed continuous coating
Maximal 30 m/min
Line speed patch coating
Maximal 11 m/min

Röntgenröhre

Type
Metall-Keramik, 50 µm (Be) Seitfenster
Anode material Ag
Tube setting
Softwaregesteuerte, anwendbare Spannungen 4–50 kV, max 3 mA, max Röhrenleistung 15 W
X-Ray filtering
Sechs, per Software auswählbar (Cu 300 µm; Cu 500 µm; Al 50 µm; Al 200 µm; Ti 7 µm; AG 100 µm

Detektor

Type
Hochauflösender Si-Driftdetektor SDD10
Fenster: 8 µm (Be)
Auflösung
< 145 eV bei 5,9 keV/1000 cps
Typischerweise 135 eV bei 5,9 keV/1000 cps

Sicherheitsnormen

Radiation levels
< 1 µSv/h bei 10 cm von der Außenfläche

Zubehör

Integrierte Konnektivität

Integrieren Sie Epsilon Xline nahtlos in Ihre Produktionslinien mit integrierter OPC-Konnektivität. Und mit dem dedizierten Softwarepaket wird die Einrichtung Ihres Epsilon Xline bei verschiedenen Materialien und Messmodi noch erleichtert. Durch die direkte Eingabe von Befehlen in das Gerät, oder über eine Fernbedienung, zeigt die benutzerfreundliche Oberfläche einen Überblick über die vollständigen Tracking-Daten an.  

Epsilon-Software

Analytisches EDRFA-Softwarepaket für Epsilon-Tischsysteme

Die Epsilon-Software ist eine Softwareplattform zur RFA-Analyse, die mit den EDRFA-Tischsystemen der Epsilon 1- und der Epsilon 4-Serie von Panalytical eingesetzt wird. Die Software bietet alle Funktionen, die für die Einrichtung und den Betrieb eines Epsilon-Tischsystems erforderlich sind. Die Zusammenstellung des Analyseprogramms wird durch den hohen Grad der in die Software integrierten Intelligenz erheblich erleichtert, sodass die Benutzer von einem halben Jahrhundert Anwendungserfahrung profitieren können. Die tägliche RFA-Analyse ist eine Routineaufgabe, die von unerfahrenen Mitarbeitern nach einer minimalen Einweisung problemlos durchgeführt werden kann. Zahlreiche Funktionen verbessern die Benutzerfreundlichkeit der Software.

Stratos

Bestimmung der Zusammensetzung und Dicke von Beschichtungen und Mehrfachschichten

Das Stratos-Softwaremodul verfügt über einen Algorithmus zur gleichzeitigen Bestimmung der chemischen Zusammensetzung und Dicke von Schichtmaterialien aus Messungen. Die Software gewährleistet eine schnelle, einfache und zerstörungsfreie Analyse von Beschichtungen, Oberflächenschichten und vielschichtigen Strukturen. Der Virtual Analyst liefert Intelligenz während der Einrichtung von Messprogrammen für komplizierte Stapel. 


Er ist für Epsilon 4-EDRFA und Zetium-RFA-Spektrometer erhältlich und liefert schnelle und zuverlässige Ergebnisse, unabhängig vom Probentyp oder der Matrix.

Benutzerhandbücher

Bitte wenden Sie sich an den Support, um die neuesten Benutzerhandbücher zu erhalten.

Software-Downloads

Bitte kontaktieren Sie den Support um die neueste Software Version zu bekommen.

Support

Service und Support

Renditeoptimierte Lösungen

Um den einwandfreien Zustand und die höchstmögliche Leistung Ihres Gerätes zu gewährleisten, bietet Malvern Panalytical eine große Bandbreite an Dienstleistungen an. Unser Know-how und unsere Support-Dienstleistungen gewährleisten einen optimalen Betrieb Ihres Geräts.

Support

Lebenslanger Kundendienst

  • Hilfe am Telefon und Fernwartung
  • Präventive Wartung und Checkups
  • Flexible Kundendienstverträge
  • Leistungszertifikate
  • Software- und Hardware-Upgrades
  • Lokaler und globaler Support

Know-how

Wertschöpfung für Ihre Prozesse 

  • Entwicklung/Optimierung der Probenvorbereitung
  • Analytische Methoden 
  • Schlüsselfertige Lösungen für XRD 
  • Qualifizierung über IQ/OQ/PQ, Qualitätssicherung (GLP, ISO17025) oder Untersuchungen nacheinander in verschiedenen Labors/im Vergleich zwischen Labors
  • Beratungsservices

Schulung und Weiterbildung

  • Schulung vor Ort oder in unseren Kompetenzzentren
  • Breites Angebot an Basis- und Aufbaukursen zu Produkten, Anwendungen und Software
Inline-Steuerung leicht gemacht.

Inline-Steuerung leicht gemacht.

Erweiterte Elementaranalyse für die Inline-Produktinspektion. Kontinuierliche, zuverlässige Überwachung ganz einfach.

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