Malvern PanalyticalのX線回折装置は、クオリティが非常に高い回折データを取得するように設計され、使いやすさとともに、別のアプリケーションにすばやく切り替えられる柔軟性を備えています。

パナリティカルのX線回折装置は、大学や研究機関から、産業プロセス管理ラボラトリーまで、多くの環境で使用されています。 X線回折(XRD)で必要なものがあれば、当社から適切な装置を提供し、世界中の販売およびサービス組織でバックアップします。

当社の多目的回折装置には、すべてPreFIX (アライメント調整済み、迅速な交換が可能なX線)モジュールが装備されており、ユーザーの手間なしに光学系を変更できます。 このため、ほとんどのアプリケーションを単一の回折装置プラットフォームで提供しています。 当社の装置で使用できる既存の豊富なXRDアプリケーションについては、ナレッジセンターでご確認ください。

Empyreanシリーズ

Empyreanシリーズ

分析ニーズに対応する多目的ソリューション

詳細
測定 粒子形状, 粒子サイズ, Crystal structure determination, 相同定, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Epitaxy analysis, Interface roughness, 3D structure / imaging
ゴニオメータ構成 試料水平型ゴニオメータ
技術 X-ray Diffraction (XRD)

Aeris

Aeris

卓上型・粉末XRD

詳細
測定 Crystal structure determination, 相同定, Phase quantification
X線管アノード材質 Cu /Co (option)
技術 X-ray Diffraction (XRD)

Empyreanシリーズ

Empyreanシリーズ

分析ニーズに対応する多目的ソリューション

Aeris

Aeris

卓上型・粉末XRD

詳細 詳細
測定 粒子形状, 粒子サイズ, Crystal structure determination, 相同定, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Epitaxy analysis, Interface roughness, 3D structure / imaging Crystal structure determination, 相同定, Phase quantification
ゴニオメータ構成 試料水平型ゴニオメータ  
X線管アノード材質   Cu /Co (option)
技術 X-ray Diffraction (XRD) X-ray Diffraction (XRD)

Aeris

Empyreanシリーズ

X'Pert³ MRD

X'Pert³ MRD XL

Aeris Empyreanシリーズ X'Pert³ MRD X'Pert³ MRD XL

Benchtop X-ray diffractometer

分析ニーズに対応する多目的ソリューション

多目的研究開発XRDシステム

薄膜単結晶解析X線回折装置

詳細 詳細 詳細 詳細
技術
X-ray Diffraction (XRD)
測定タイプ
粒子形状
粒子サイズ
Crystal structure determination
相同定
Phase quantification
Contaminant detection and analysis
Epitaxy analysis
Interface roughness
3D structure / imaging
薄膜測定
Residual stress