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X線回折装置(XRD)

1世紀以上にわたりX線回折コミュニティに貢献

Malvern PanalyticalのX線回折装置は、クオリティが非常に高い回折データを取得するように設計され、使いやすさとともに、別のアプリケーションにすばやく切り替えられる柔軟性を備えています。

パナリティカルのX線回折装置は、大学や研究機関から、産業プロセス管理ラボラトリーまで、多くの環境で使用されています。 X線回折(XRD)で必要なものがあれば、当社から適切な装置を提供し、世界中の販売およびサービス組織でバックアップします。

当社の多目的回折装置には (Aeris、Empyrean、X’Pert3 MRD XL)、すべてPreFIX (アライメント調整済み、迅速な交換が可能なX線)モジュールが装備されており、ユーザーの手間なしに光学系を変更できます。 このため、ほとんどのアプリケーションを単一の回折装置プラットフォームで提供しています。 当社の装置で使用できる既存の豊富なXRDアプリケーションについては、ナレッジセンターでご確認ください。

卓上型・XRD Aeris

Prepare to be surprised by our highly accurate, fast XRD system. Precise results can be ready in less than five minutes.

卓上型・XRD Aeris

X線回折装置(XRD)Empyreanシリーズ

Our newly designed MultiCore Optics enable the largest variety of measurements without any manual intervention.

X線回折装置(XRD)Empyreanシリーズ

X'Pert³シリーズ

The long and successful history of our Materials Research Diffractometers continues with a new generation of X'Pert³.

X'Pert³シリーズ

Crystal orientation range

Our Crystal Orientation solutions are designed with boule, ingot, puck and wafer applications in mind.

Crystal orientation range
卓上型・XRD Aeris

卓上型・XRD Aeris

Compact X-ray diffractometer

X線回折装置(XRD)Empyreanシリーズ

X線回折装置(XRD)Empyreanシリーズ

Multipurpose X-ray diffractometer

X'Pert³シリーズ

X'Pert³シリーズ

Thin Film Analysis XRD Systems

Crystal orientation range

Crystal orientation range

Fast and accurate orientation of wafers and ingots

技術
XRD分析
測定タイプ
粒子形状
粒子径
結晶構造の解析
相同定
位相の定量化
汚染物質の検出と分析
エピタキシー分析
界面粗さ
3D構造/画像処理
薄膜測定
残留応力
Crystal orientation
Cleanroom ISO 4
SECS/GEM