概要
コンプライアンス以上の価値
蛍光X線分析装置(XRF)には、セメント業界において重要で確立された分析の役割があります。 完全に自動化された融合システムのEagon 2
と組み合わせることにより、Epsilon 4は、わずか10分間でASTM C114-15およびISO 29581-2の両方のセメントテスト方法に対応できます。
わずかな投資でEpsilon 4によりもたらされる付加価値は次のとおりです。
機能
強力なベンチトップXRF
最新の励起/検出技術とスマートなデザインが組み合わされたEpsilon 4の分析性能は、強力な床置き型分光計に匹敵します。 選択励起と、検出システムの機能へのX線管出力の慎重な適合がシステムの卓越した性能の基盤となっています。
正確な結果
Malvern Panalyticalにより特別に設計、製造された独自の高性能な金属セラミック製のX線管により、高品質なデータと信頼性の高い結果を得ることができます。 4.0～50 kVの柔軟な電圧設定と最大電流を3.0 mAまで設定できるため、周期表でのパフォーマンスが最適化されます。
無人操作
10箇所の取り外し可能なサンプルチェンジャとスピナーを組み合わせることにより、オペレータが不在でもサンプルを一括で自動的に処理することができます。 測定時にサンプルが回転し続けることにより、個々のサンプル中の不均質性や表面のむらによるエラーの発生が可能なかぎり抑えられ、正確な結果を得ることができます。データを自動的に中央位置に転送することにより、最新の結果にアクセスできます。
高速で高感度
非常に高い散乱強度を生成する最新のシリコンドリフト検出器を使用して高速測定を実現します。
独自の検出器エレクトロニクスにより、線形カウントレート容量を1,500,000 cps (50%の不感時間)以上にして、カウントレートの独立分解能を通常135 eV以上にすることで、スペクトル内の分析ラインを適切に分離することができます。 これにより、Epsilon 4分光計を全出力で実行でき、従来のEDXRFベンチトップ装置よりもサンプルスループットが大幅に向上します。
ヘリウム消費の削減
高性能を誇るEpsilon 4は、大気中でのさまざまな用途に使用できるため、ヘリウムや真空システムのメンテナンスにかかる時間が短縮し、コストを削減できます。 空気中で測定する場合、ナトリウム、マグネシウム、アルミニウムに固有の低エネルギーX線光子は、気圧や温度の変化に敏感です。 内蔵の温度および気圧センサは、これらの環境の変化を補償し、天候にかかわりなく優れた結果を提供します。
仕様
| サンプルハンドリング | X線管球 | 検出器 | ソフトウェア |
|---|---|---|---|
| 取り外し可能な10ポジションサンプルチェンジャ | 金属セラミック製サイドウィンドウによる高い安定性 | 高分解能シリコンドリフト検出器(SDD) (通常135 eV @ Mn-Kα) | Omnianスタンダードレス分析ソリューションによる代替燃料の元素スクリーニング |
| 分光計は直径52 mm (2インチ)までのサンプルに対応できます | 軽元素(Na、Mg、Al、Si)用高感度50マイクロメートル薄型ベリリウムウィンドウ | 最大 カウントレート: 1,500,000カウント/秒(50%の不感時間) | FingerPrintソリューションによる合格/不合格分析 |
| エアフィルター分析の精度を高めるためにスピナーが搭載されています | 最高性能のAgアノードX線管によるP、S、およびCl分析 | 高感度の薄型エントランス検出器ウィンドウ | 未使用および使用済み潤滑油中の摩耗金属用のOil-Traceを使用した柔軟なキャリブレーション |
アクセサリ
標準物質(参照物質)
ソフトウェア
イプシロンソフトウェア
イプシロンソフトウェアは、XRF分析ソフトウェアのプラットフォームであり、PANalyticalのEpsilon 1およびEpsilon 4ベンチトップタイプEDXRFシステムシリーズで使用されています。
異同識別(フィンガープリント)ソフトウェア
Epsilon EDXRFと組み合わされたFingerPrintソフトウェアモジュールは、分析速度が重要で実際の組成は重要ではない場合の材料テストに最適です。
サポート
設備
投資利益率を最大限にするソリューション
お客様の装置が最高の状態を保ち、最高レベルで機能するために、Malvern Panalyticalではさまざまなサービスを提供しています。 当社の専門知識とサポートサービスは、装置が最適に機能するよう保証します。
サポート
寿命終了までのサービス
- 電話とリモートサポート
- 予防メンテナンスと点検
- 柔軟なカスタマーケア契約
- パフォーマンス認定書
- ハードウェアおよびソフトウェアアップグレード
- ローカルおよびグローバルサポート
専門知識
工程に価値を付加する
- サンプル調製の開発/最適化
- 分析方法論
- XRD用ターンキーソリューション
- IQ/OQ/PQによるオペレーション、品質保証(GLP、ISO17025)、またはラウンドロビン/研究所間の連携
- ラボ工程の自動化
- コンサルティングサービス
トレーニングと教育
- オンサイトまたは当社の研修センターでのトレーニング
- 製品、アプリケーションおよびソフトウェに関する広範な基本コースおよび上級コース
分析サービスとキャリブレーション材料
- 専門(XRF)分析サービス
- 酸化物と微量元素の分析
- カスタマイズされたキャリブレーション材料
主な用途
Epsilon 4分光計は、さまざまなタイプのサンプルに対応します。数ミリグラムから大量のサンプルまで計量できます。
サンプルは次の要素として測定されます。
- 固体
- 圧粉
- 粉末
- 液体
- 溶融ビーズ
- 懸濁液
- 顆粒
- フィルタ
- フィルム・コーティング