Epsilon 4 Pre-installation manual
バージョン番号:: 4
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蛍光X線分析装置(XRF)には、セメント業界において重要で確立された分析の役割があります。 原材料、代替燃料、および完成品の元素分析を行い、製造および品質管理のために幅広く使用されています。
Malvern Panalyticalの評価を得ている実証済みのベンチトップ分光計シリーズであるEpsilon 4は最先端のXRF分析を行います。 Epsilon 4の優れた分析性能は、床置き型のXRF装置に匹敵しながら所有コストが大幅に削減できます。
XRF分析の可能性を広げ、生産ラインのそばにXRF分光計を設置することでフィードバックにかかる時間を、時間単位から分単位に短縮することができます。
強力なベンチトップXRF: 最新の励起/検出技術とスマートなデザインが組み合わされたEpsilon 4の分析性能は、強力な床置き型分光計に匹敵します。 選択励起と、検出システムの機能へのX線管出力の慎重な適合がシステムの卓越した性能の基盤となっています。
無人操作: 10箇所の取り外し可能なサンプルチェンジャとスピナーを組み合わせることにより、オペレータが不在でもサンプルを一括で自動的に処理することができます。 測定時にサンプルが回転し続けることにより、個々のサンプル中の不均質性や表面のむらによるエラーの発生が可能なかぎり抑えられ、正確な結果を得ることができます。データを自動的に中央位置に転送することにより、最新の結果にアクセスできます。
高速で高感度: 非常に高い散乱強度を生成する最新のシリコンドリフト検出器を使用して高速測定を実現します。独自の検出器エレクトロニクスにより、線形カウントレート容量を1,500,000 cps (50%の不感時間)以上にして、カウントレートの独立分解能を通常135 eV以上にすることで、スペクトル内の分析ラインを適切に分離することができます。 これにより、Epsilon 4分光計を全出力で実行でき、従来のEDXRFベンチトップ装置よりもサンプルスループットが大幅に向上します。
ヘリウム消費の削減: 高性能を誇るEpsilon 4は、大気中でのさまざまな用途に使用できるため、ヘリウムや真空システムのメンテナンスにかかる時間が短縮し、コストを削減できます。 空気中で測定する場合、ナトリウム、マグネシウム、アルミニウムに固有の低エネルギーX線光子は、気圧や温度の変化に敏感です。 内蔵の温度および気圧センサは、これらの環境の変化を補償し、天候にかかわりなく優れた結果を提供します。
Malvern Panalyticalにより特別に設計、製造された独自の高性能な金属セラミック製のX線管により、高品質なデータと信頼性の高い結果を得ることができます。
4.0~50 kVの柔軟な電圧設定と最大電流を3.0 mAまで設定できるため、周期表でのパフォーマンスが最適化されます。
蛍光X線分析装置(XRF)には、セメント業界において重要で確立された分析の役割があります。
完全に自動化された融合システムのEagon 2と組み合わせることにより、Epsilon 4は、わずか10分間でASTM C114-15およびISO 29581-2の両方のセメントテスト方法に対応できます。
Epsilon 4分光計は、さまざまなタイプのサンプルに対応します。数ミリグラムから大量のサンプルまで計量できます。サンプルは次の要素として測定されます。
| サンプル容量 | 取り外し可能な10ポジションサンプルチェンジャ |
|---|---|
| サンプルサイズ | 分光計は直径52 mm (2インチ)までのサンプルに対応できます |
| Features | エアフィルター分析の精度を高めるためにスピナーが搭載されています |
| Features | 金属セラミック製サイドウィンドウによる高い安定性
軽元素(Na、Mg、Al、Si)用高感度50マイクロメートル薄型ベリリウムウィンドウ |
|---|---|
| Tube setting | 最高性能のAgアノードX線管によるP、S、およびCl分析 |
| 検出器の種類: | 高分解能シリコンドリフト検出器(SDD) (通常135 eV @ Mn-Kα) |
|---|---|
| Features | 最大 カウントレート: 1,500,000カウント/秒(50%の不感時間)
高感度の薄型エントランス検出器ウィンドウ |
| ソフトウェア |
|
|---|
バージョン番号:: 4
バージョン番号:: 4
バージョン番号:: 4
バージョン番号:: 3
バージョン番号:: 3
バージョン番号:: 3
バージョン番号:: 3
バージョン番号:: 3
バージョン番号:: 3
バージョン番号:: 3
バージョン番号:: 1
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蛍光X線分析装置(XRF)には、セメント業界において重要で確立された分析の役割があります。 原材料、代替燃料、および完成品の元素分析を行い、製造および品質管理のために幅広く使用されています。
Malvern Panalyticalの評価を得ている実証済みのベンチトップ分光計シリーズであるEpsilon 4は最先端のXRF分析を行います。 Epsilon 4の優れた分析性能は、床置き型のXRF装置に匹敵しながら所有コストが大幅に削減できます。
XRF分析の可能性を広げ、生産ラインのそばにXRF分光計を設置することでフィードバックにかかる時間を、時間単位から分単位に短縮することができます。
強力なベンチトップXRF: 最新の励起/検出技術とスマートなデザインが組み合わされたEpsilon 4の分析性能は、強力な床置き型分光計に匹敵します。 選択励起と、検出システムの機能へのX線管出力の慎重な適合がシステムの卓越した性能の基盤となっています。
無人操作: 10箇所の取り外し可能なサンプルチェンジャとスピナーを組み合わせることにより、オペレータが不在でもサンプルを一括で自動的に処理することができます。 測定時にサンプルが回転し続けることにより、個々のサンプル中の不均質性や表面のむらによるエラーの発生が可能なかぎり抑えられ、正確な結果を得ることができます。データを自動的に中央位置に転送することにより、最新の結果にアクセスできます。
高速で高感度: 非常に高い散乱強度を生成する最新のシリコンドリフト検出器を使用して高速測定を実現します。独自の検出器エレクトロニクスにより、線形カウントレート容量を1,500,000 cps (50%の不感時間)以上にして、カウントレートの独立分解能を通常135 eV以上にすることで、スペクトル内の分析ラインを適切に分離することができます。 これにより、Epsilon 4分光計を全出力で実行でき、従来のEDXRFベンチトップ装置よりもサンプルスループットが大幅に向上します。
ヘリウム消費の削減: 高性能を誇るEpsilon 4は、大気中でのさまざまな用途に使用できるため、ヘリウムや真空システムのメンテナンスにかかる時間が短縮し、コストを削減できます。 空気中で測定する場合、ナトリウム、マグネシウム、アルミニウムに固有の低エネルギーX線光子は、気圧や温度の変化に敏感です。 内蔵の温度および気圧センサは、これらの環境の変化を補償し、天候にかかわりなく優れた結果を提供します。
Malvern Panalyticalにより特別に設計、製造された独自の高性能な金属セラミック製のX線管により、高品質なデータと信頼性の高い結果を得ることができます。
4.0~50 kVの柔軟な電圧設定と最大電流を3.0 mAまで設定できるため、周期表でのパフォーマンスが最適化されます。
蛍光X線分析装置(XRF)には、セメント業界において重要で確立された分析の役割があります。
完全に自動化された融合システムのEagon 2と組み合わせることにより、Epsilon 4は、わずか10分間でASTM C114-15およびISO 29581-2の両方のセメントテスト方法に対応できます。
Epsilon 4分光計は、さまざまなタイプのサンプルに対応します。数ミリグラムから大量のサンプルまで計量できます。サンプルは次の要素として測定されます。
| サンプル容量 | 取り外し可能な10ポジションサンプルチェンジャ |
|---|---|
| サンプルサイズ | 分光計は直径52 mm (2インチ)までのサンプルに対応できます |
| Features | エアフィルター分析の精度を高めるためにスピナーが搭載されています |
| Features | 金属セラミック製サイドウィンドウによる高い安定性
軽元素(Na、Mg、Al、Si)用高感度50マイクロメートル薄型ベリリウムウィンドウ |
|---|---|
| Tube setting | 最高性能のAgアノードX線管によるP、S、およびCl分析 |
| 検出器の種類: | 高分解能シリコンドリフト検出器(SDD) (通常135 eV @ Mn-Kα) |
|---|---|
| Features | 最大 カウントレート: 1,500,000カウント/秒(50%の不感時間)
高感度の薄型エントランス検出器ウィンドウ |
| ソフトウェア |
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バージョン番号:: 4
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バージョン番号:: 3
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バージョン番号:: 1
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