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人口の増加により、地球資源をより適切に扱う必要性が高まっています。 エネルギー分散型蛍光X線分析装置(EDXRF)であるEpsilon 4は、作物の育成を最大限に高め、製品と環境の安全を保証するための有益な元素情報を取得することができる強力な分析ツールです。
Epsilon 4の最新の高度な励起および検出技術により、これまでICPやAASで実施されていた厳しい用途に可能性を開きます。 ICPからEDXRFに切り替えると、消耗品、光熱費、時間が大幅に削減されます。
オプションの EPA IO-3.3 工場校正: XRF メソッドの採用と実装を容易にするために、Malvern Panalytical は Epsilon 4 ベンチトップに対して EPA IO-3.3 規制に準拠した工場校正を提供しています。分光計は、Na から U までの 46 種類の元素を分析するためにセットアップされます。高価で壊れやすい標準品に投資したり入手したりする必要はありません。
強力なベンチトップXRF: 最新の励起/検出技術とスマートなデザインが組み合わされたEpsilon 4の分析性能は、強力な床置き型分光計に匹敵します。 選択励起と、検出システムの機能へのX線管出力の慎重な適合がシステムの卓越した性能の基盤となっています。
高速で高感度: 非常に高い散乱強度を生成する最新のシリコンドリフト検出器を使用して高速測定を実現します。独自の検出器エレクトロニクスにより、線形カウントレート容量を1,500,000 cps (50%の不感時間)以上にして、カウントレートの独立分解能を通常135 eV以上にすることで、スペクトル内の分析ラインを適切に分離することができます。 これにより、Epsilon 4分光計を全出力で実行でき、従来のEDXRFベンチトップ装置よりもサンプルスループットが大幅に向上します。
ヘリウム消費の削減: 高性能を誇るEpsilon 4は、大気中でのさまざまな用途に使用できるため、ヘリウムや真空システムのメンテナンスにかかる時間が短縮し、コストを削減できます。 空気中で測定する場合、ナトリウム、マグネシウム、アルミニウムに固有の低エネルギーX線光子は、気圧や温度の変化に敏感です。 内蔵の温度および気圧センサは、これらの環境の変化を補償し、天候にかかわりなく優れた結果を提供します。
Epsilon 4は、飼料中の栄養素を管理して、家畜の健康を維持し、肥料の温室効果ガスを最小限に抑えるために使用されます。
その他の用途には、大気中(EPA IO3-3)の粒子物質の元素組成の監視や、食品中の栄養素や塩分の監視があります。
土壌や肥料は、育成状態を最適に保ち、ISO 18227、ISO 15309、およびASTM C1255に従って有毒物質が含まれていないことを保証するために分析されます。
Epsilon 4分光計は、さまざまなタイプのサンプルに対応します。数ミリグラムから大量のサンプルまで計量できます。サンプルは次の要素として測定されます。
| サンプル容量 | 取り外し可能な10ポジションサンプルチェンジャ |
|---|---|
| サンプルサイズ | 分光計は直径52 mmまでのサンプル(土壌、液体、固体およびエアフィルター)に対応できます |
| Features | スピナーが搭載されており、液体や土壌のより正確な分析結果を得ることができます |
| Features | 金属セラミック製サイドウィンドウによる高い安定性
軽元素(Na、Mg、Al、Si)用高感度50マイクロメートル薄型ベリリウムウィンドウ |
|---|---|
| Tube setting | 最高性能のAgアノードX線管によるP、S、およびCl分析 |
| 検出器の種類: | 高分解能シリコンドリフト検出器(SDD) (通常135 eV @ Mn-Kα) |
|---|---|
| Features | 最大 カウントレート: 1,500,000カウント/秒(50%の不感時間)
高感度の薄型エントランス検出器ウィンドウ |
| ソフトウェア |
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|---|
Epsilonソフトウェアは、XRF分析ソフトウェアのプラットフォームであり、PANalyticalのEpsilon 1およびEpsilon 4ベンチトップタイプEDXRFシステムシリーズで使用されています。このソフトウェアは、Epsilonベンチトップシステムの設定と操作に必要なすべての機能を備えています。分析プログラムの組み立ては、ソフトウェアに組み込まれた高度なインテリジェンスにより非常に容易に実行でき、ユーザーは半世紀にわたり蓄積されたアプリケーションの専門知識を活用できます。毎日実行するXRF分析は、経験の浅い作業者でも最小限のトレーニングで簡単に実行できるルーチンタスクです。ソフトウェアを簡単に使用できるようにする、多くの機能が用意されています。
Omnianを使用すると、専用の分析方法や認定済み標準物質が存在しない場合に、最良の定量結果を導き出します。 主流となりつつあるスタンダードレス分析パッケージであるOmnianには、技術に対応する最先端のソフトウェアと設定サンプルが組み込まれています。 Omnianは、Epsilon 1、Epsilon 4、およびZetium分光計で使用可能で、サンプルタイプやマトリクスに関係なく、即座に信頼性の高い結果を得ることができます。
Enhanced Data Security (EDS)モジュールは、Zetium XRF分光計(SuperQソフトウェアを使用)およびEpsilon XRF分光計を使用しているユーザーのために、信頼性の高い測定結果を提供するソフトウェアオプションです。EDSは高度なユーザー管理、アクションログ、データ保護、アプリケーションステータスの割り当てなどの機能を備えており、監査証跡を強化し、エラー発生リスクを最小限に抑え、XRF装置が期待どおりに動作することを保証します。
Epsilon 4 EDXRFと組み合わされたFingerPrintソフトウェアモジュールは、分析速度が重要で実際の組成は重要ではない場合の材料テストに最適です。一般的にFingerPrintingは、サンプル調製をほとんど、またはまったく必要とせず非破壊的です。
バージョン番号:: 4
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バージョン番号:: 3
バージョン番号:: 3
バージョン番号:: 3
バージョン番号:: 3
バージョン番号:: 3
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バージョン番号:: 3
バージョン番号:: 1
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