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蛍光X線分析装置(XRF)には、鉱業および鉱物業界において重要で確立された分析的役割があります。 探査、等級管理、プロセス監視に幅広く使用され、廃棄物の組成が環境基準や規制の範囲内を維持するようにします。
Epsilon 4ベンチトップ分光計は、採掘作業で使用され、遠隔地であっても鉱石、鉱物、および岩石の元素分析を高速で行うことができます。 構造上の要件がほとんどなく、高い分析性能を備えていることで、設備が制限されている鉱山での運用戦略を迅速に決定することができます。
XRF分析の可能性を広げ、鉱山や処理工場のそばにXRF分光計を設置することでフィードバックにかかる時間を、時間単位から分単位に短縮することができます。
強力なベンチトップXRF: 最新の励起/検出技術とスマートなデザインが組み合わされたEpsilon 4の分析性能は、強力な床置き型分光計に匹敵します。 選択励起と、検出システムの機能へのX線管出力の慎重な適合がシステムの卓越した性能の基盤となっています。
無人操作: 10箇所の取り外し可能なサンプルチェンジャとスピナーを組み合わせることにより、オペレータが不在でもサンプルを一括で自動的に処理することができます。 測定時にサンプルが回転し続けることにより、個々のサンプル中の不均質性や表面のむらによるエラーの発生が可能なかぎり抑えられ、正確な結果を得ることができます。データを自動的に中央位置に転送することにより、最新の結果にアクセスできます。
高速で高感度: 非常に高い散乱強度を生成する最新のシリコンドリフト検出器を使用して高速測定を実現します。独自の検出器エレクトロニクスにより、線形カウントレート容量を1,500,000 cps (50%の不感時間)以上にして、カウントレートの独立分解能を通常135 eV以上にすることで、スペクトル内の分析ラインを適切に分離することができます。 これにより、Epsilon 4分光計を全出力で実行でき、従来のEDXRFベンチトップ装置よりもサンプルスループットが大幅に向上します。
ヘリウム消費の削減: 高性能を誇るEpsilon 4は、大気中でのさまざまな用途に使用できるため、ヘリウムや真空システムのメンテナンスにかかる時間が短縮し、コストを削減できます。 空気中で測定する場合、ナトリウム、マグネシウム、アルミニウムに固有の低エネルギーX線光子は、気圧や温度の変化に敏感です。 内蔵の温度および気圧センサは、これらの環境の変化を補償し、天候にかかわりなく優れた結果を提供します。
Malvern Panalyticalは、 独自の15種類の複数元素のワイドレンジ酸化物(WROXI)規格を開発しました。 Epsilon 4とともに、WROXIは溶融ビーズ中の主要元素と微小元素の分析に使用されます。
EpsilonソフトウェアのFPアルゴリズムにより、WROXIアプリケーションは、さまざまな岩石、鉱石、鉱物中に含まれる最大11種類の酸化物の濃度を判別できます。
蛍光X線分析装置(XRF)は、鉱業および鉱物業界で確立されている安全でコスト効率のよい、信頼性の高い方法です。
アットラインの鉱物処理作業でEpsilon 4を使用することにより、鉱物選鉱工場で迅速で効率的な処理を行うことができます。
Epsilon 4分光計は、さまざまなタイプのサンプルに対応します。数ミリグラムから大量のサンプルまで計量できます。サンプルは次の要素として測定されます。
Great tool. Quick analysis, easy-to-use repeatable. Very helpful and competent assistance.
Omar Scaccabarozzi — Analyst
| サンプル容量 | 取り外し可能な10ポジションサンプルチェンジャ |
|---|---|
| サンプルサイズ | 分光計は直径52 mm (2インチ)までのサンプルに対応できます |
| Features | エアフィルター分析の精度を高めるためにスピナーが搭載されています |
| Features | 金属セラミック製サイドウィンドウによる高い安定性
軽元素(Na、Mg、Al、Si)用高感度50マイクロメートル薄型ベリリウムウィンドウ |
|---|---|
| Tube setting | 最高性能のAgアノードX線管によるP、S、およびCl分析 |
| 検出器の種類: | 高分解能(通常135 eV @ Mn-Kα) |
|---|---|
| Features | 最大カウントレート: 1,500,000カウント/秒(50%の不感時間)
高感度の薄型エントランス検出器ウィンドウ |
| ソフトウェア |
|
|---|
Epsilonソフトウェアは、XRF分析ソフトウェアのプラットフォームであり、PANalyticalのEpsilon 1およびEpsilon 4ベンチトップタイプEDXRFシステムシリーズで使用されています。このソフトウェアは、Epsilonベンチトップシステムの設定と操作に必要なすべての機能を備えています。分析プログラムの組み立ては、ソフトウェアに組み込まれた高度なインテリジェンスにより非常に容易に実行でき、ユーザーは半世紀にわたり蓄積されたアプリケーションの専門知識を活用できます。毎日実行するXRF分析は、経験の浅い作業者でも最小限のトレーニングで簡単に実行できるルーチンタスクです。ソフトウェアを簡単に使用できるようにする、多くの機能が用意されています。
Stratosソフトウェアモジュールは、測定から得られた化学組成と層状材料の厚さを同時に測定できるアルゴリズムを採用しています。このソフトウェアは、迅速でシンプルな非破壊的な方法でコーティング、表面層、および多層構造を分析できます。Virtual Analystは、複雑なスタック用の測定プログラムの設定時に情報を提供します。
Stratosは、Epsilon 4 EDXRF、およびZetium XRF分光計で使用可能で、サンプルタイプやマトリクスに関係なく、即座に信頼性の高い結果を得ることができます。
Omnianを使用すると、専用の分析方法や認定済み標準物質が存在しない場合に、最良の定量結果を導き出します。 主流となりつつあるスタンダードレス分析パッケージであるOmnianには、技術に対応する最先端のソフトウェアと設定サンプルが組み込まれています。 Omnianは、Epsilon 1、Epsilon 4、およびZetium分光計で使用可能で、サンプルタイプやマトリクスに関係なく、即座に信頼性の高い結果を得ることができます。
Epsilon 4 EDXRFと組み合わされたFingerPrintソフトウェアモジュールは、分析速度が重要で実際の組成は重要ではない場合の材料テストに最適です。一般的にFingerPrintingは、サンプル調製をほとんど、またはまったく必要とせず非破壊的です。
Enhanced Data Security (EDS)モジュールは、Zetium XRF分光計(SuperQソフトウェアを使用)およびEpsilon XRF分光計を使用しているユーザーのために、信頼性の高い測定結果を提供するソフトウェアオプションです。EDSは高度なユーザー管理、アクションログ、データ保護、アプリケーションステータスの割り当てなどの機能を備えており、監査証跡を強化し、エラー発生リスクを最小限に抑え、XRF装置が期待どおりに動作することを保証します。
Malvern Panalytical XRF分光装置による低合金鋼分析
逐次および同時 XRF 分光計 Zetium および Axios FAST 用の低合金鋼 (LAS) パッケージは、最大 21 個の元素をカバーする 90 を超える CRM と、ドリフトおよびサンプル前処理補正用の 4 つのモニター サンプルに基づいています。
詳細RoHS規制物質の正確な元素分析
RoHS 校正モジュールは、メーカーや研究機関が RoHS 2 法の要件に準拠するのに役立ちます。 RoHS 校正標準を使用した正確な元素分析により、コストを節約し、REACH などの国際規制への準拠をサポートできます。
詳細XRFを使用したポリマーやプラスチックに含まれる有害元素の正確な分析
TOXEL モジュールを使用すると、さまざまな種類の PP や PE を含むポリオレフィン中の有毒元素の元素分析を簡単かつ正確に行うことができます。
詳細融合におけるClaisseの知識と経験でつねに先を行く。
Claisse LeNeo融合装置は、XRF用のガラスディスクや、AAおよびICP分析用のホウ酸塩および過酸化物溶液を調製します。 1位置電気式装置です。
詳細
バージョン番号:: 4
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バージョン番号:: 4
バージョン番号:: 3
バージョン番号:: 3
バージョン番号:: 3
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バージョン番号:: 3
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バージョン番号:: 3
バージョン番号:: 1
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