Epsilon 4 Mining & minerals

プロセス効率と回収率の向上

蛍光X線分析装置(XRF)には、鉱業および鉱物業界において重要で確立された分析的役割があります。 探査、等級管理、プロセス監視に幅広く使用され、廃棄物の組成が環境基準や規制の範囲内を維持するようにします。

Epsilon 4ベンチトップ分光計は、採掘作業で使用され、遠隔地であっても鉱石、鉱物、および岩石の元素分析を高速で行うことができます。 構造上の要件がほとんどなく、高い分析性能を備えていることで、設備が制限されている鉱山での運用戦略を迅速に決定することができます。
XRF分析の可能性を広げ、鉱山や処理工場のそばにXRF分光計を設置することでフィードバックにかかる時間を、時間単位から分単位に短縮することができます。

カタログダウンロード
見積依頼 デモ依頼 お問い合わせ

概要

コンプライアンス以上の価値

蛍光X線分析装置(XRF)は、鉱業および鉱物業界で確立されている安全でコスト効率のよい、信頼性の高い方法です。
アットラインの鉱物処理作業でEpsilon 4を使用することにより、鉱物選鉱工場で迅速で効率的な処理を行うことができます。
わずかな投資でEpsilon 4によりもたらされる付加価値は次のとおりです。

The mining process.jpg

機能

強力なベンチトップXRF

最新の励起/検出技術とスマートなデザインが組み合わされたEpsilon 4の分析性能は、強力な床置き型分光計に匹敵します。 選択励起と、検出システムの機能へのX線管出力の慎重な適合がシステムの卓越した性能の基盤となっています。

強力なベンチトップXRF

柔軟なワイドレンジ酸化物ソリューション(WROXI)

Malvern Panalyticalは、 独自の15種類の複数元素のワイドレンジ酸化物(WROXI)規格を開発しました。 Epsilon 4とともに、WROXIは溶融ビーズ中の主要元素と微小元素の分析に使用されます。 EpsilonソフトウェアのFPアルゴリズムにより、WROXIアプリケーションは、さまざまな岩石、鉱石、鉱物中に含まれる最大11種類の酸化物の濃度を判別できます。

柔軟なワイドレンジ酸化物ソリューション(WROXI)

無人操作

10箇所の取り外し可能なサンプルチェンジャとスピナーを組み合わせることにより、オペレータが不在でもサンプルを一括で自動的に処理することができます。 測定時にサンプルが回転し続けることにより、個々のサンプル中の不均質性や表面のむらによるエラーの発生が可能なかぎり抑えられ、正確な結果を得ることができます。
データを自動的に中央位置に転送することにより、最新の結果にアクセスできます。
無人操作

高速で高感度

非常に高い散乱強度を生成する最新のシリコンドリフト検出器を使用して高速測定を実現します。

独自の検出器エレクトロニクスにより、線形カウントレート容量を1,500,000 cps (50%の不感時間)以上にして、カウントレートの独立分解能を通常135 eV以上にすることで、スペクトル内の分析ラインを適切に分離することができます。 これにより、Epsilon 4分光計を全出力で実行でき、従来のEDXRFベンチトップ装置よりもサンプルスループットが大幅に向上します。

高速で高感度

ヘリウム消費の削減

高性能を誇るEpsilon 4は、大気中でのさまざまな用途に使用できるため、ヘリウムや真空システムのメンテナンスにかかる時間が短縮し、コストを削減できます。 空気中で測定する場合、ナトリウム、マグネシウム、アルミニウムに固有の低エネルギーX線光子は、気圧や温度の変化に敏感です。 内蔵の温度および気圧センサは、これらの環境の変化を補償し、天候にかかわりなく優れた結果を提供します。

ヘリウム消費の削減

仕様

サンプルハンドリング X線管球 検出器 ソフトウェア
取り外し可能な10ポジションサンプルチェンジャ 金属セラミック製サイドウィンドウによる高い安定性 高分解能(通常135 eV @ Mn-Kα) Omnianスタンダードレス分析ソリューションによる元素スクリーニング
分光計は直径52 mm (2インチ)までのサンプルに対応できます 軽元素(Na、Mg、Al、Si)用高感度50マイクロメートル薄型ベリリウムウィンドウ 最大カウントレート: 1,500,000カウント/秒(50%の不感時間) FingerPrintソリューションによる合格/不合格分析
エアフィルター分析の精度を高めるためにスピナーが搭載されています 最高性能のAgアノードX線管によるP、S、およびCl分析 高感度の薄型エントランス検出器ウィンドウ 未使用および使用済み潤滑油中の摩耗金属用のOil-Traceを使用した柔軟なキャリブレーション

アクセサリ

標準物質(参照物質)

WROXI

鉱物における正確で広範囲な濃度試料の酸化物の分析
WROXI

LAS

Malvern Panalytical XRF分光装置による低合金鋼分析
LAS

認定参照資料CRM

Claisseはいつでもお客さまのご要望にお応えします。
認定参照資料CRM

ソフトウェア

イプシロンソフトウェア

イプシロンソフトウェアは、XRF分析ソフトウェアのプラットフォームであり、PANalyticalのEpsilon 1およびEpsilon 4ベンチトップタイプEDXRFシステムシリーズで使用されています。

イプシロンソフトウェア

Omnian

Omnianソフトウェアを使用すると、専用の分析方法や認定済み標準物質が存在しない場合でも、最適な分析を実現することができます。

Omnian

Stratos

このソフトウェアは、迅速でシンプルな非破壊的な方法でコーティング、表面層、および多層構造を分析できます。
Stratos

Oil-Trace

Oil-Traceは、WDXRFおよびEDXRFを使用して正確で信頼性の高い液体試料の元素分析が行える標準物質セットを含むソフトウェアパッケージです。
Oil-Trace

異同識別(フィンガープリント)ソフトウェア

Epsilon EDXRFと組み合わされたFingerPrintソフトウェアモジュールは、分析速度が重要で実際の組成は重要ではない場合の材料テストに最適です。

異同識別(フィンガープリント)ソフトウェア

サポート

設備

投資利益率を最大限にするソリューション

お客様の装置が最高の状態を保ち、最高レベルで機能するために、Malvern Panalyticalではさまざまなサービスを提供しています。 当社の専門知識とサポートサービスは、装置が最適に機能するよう保証します。

サポート

寿命終了までのサービス

  • 電話とリモートサポート
  • 予防メンテナンスと点検
  • 柔軟なカスタマーケア契約
  • パフォーマンス認定書
  • ハードウェアおよびソフトウェアアップグレード
  • ローカルおよびグローバルサポート

専門知識

工程に価値を付加する

  • サンプル調製の開発/最適化
  • 分析方法論 
  • XRD用ターンキーソリューション 
  • IQ/OQ/PQによるオペレーション、品質保証(GLP、ISO17025)、またはラウンドロビン/研究所間の連携
  • ラボ工程の自動化
  • コンサルティングサービス

トレーニングと教育

  • オンサイトまたは当社の研修センターでのトレーニング
  • 製品、アプリケーションおよびソフトウェに関する広範な基本コースおよび上級コース

分析サービスとキャリブレーション材料

  • 専門(XRF)分析サービス
  • 酸化物と微量元素の分析
  • カスタマイズされたキャリブレーション材料

主な用途

Epsilon 4分光計は、さまざまなタイプのサンプルに対応します。数ミリグラムから大量のサンプルまで計量できます。

サンプルは次の要素として測定されます。

  • 固体
  • 圧粉
  • 粉末
  • 液体
  • 溶融ビーズ
  • 懸濁液
  • 顆粒
  • フィルタ
  • フィルム・コーティング

Great tool. Quick analysis, easy-to-use repeatable. Very helpful and competent assistance.

Omar Scaccabarozzi — Analyst