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2830 ZT

2830 ZT波長分散型蛍光X線(WDXRF)ウェハーアナライザは、膜厚・組成を測定するための究極の機能を提供します。 2830 ZTウェーハアナライザは半導体およびデータストレージ業界向けに開発されており、最大300 mmの各種ウェーハの層の組成、厚さ、ドーパントレベル、表面の均一性を測定できます。
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October 2019 | English

Elemental Analysis Masterclass 1 - the theory of X-ray Fluorescence (XRF)

製品:
Zetium, CNA 製品, Claisse range, 2830 ZT (XRF Wafer Analyzer), Epsilon range, Axios FAST
技術:
X-ray Fluorescence (XRF), Borate fusion
業界:
高度な製造, 電子機器/光学機器, 金属, 水処理, 医薬品, 法医学的分析, 食品および飲料, 建材, 石油、燃料および化学薬品, 化学薬品, 鉱業, 自動車, ポリマー
Elemental Analysis Masterclass 1 - the theory of X-ray Fluorescence (XRF)
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October 2019 | English

Elemental Analysis Masterclass 2 - Wavelength & Energy Dispersive XRF Explained

製品:
2830 ZT (XRF Wafer Analyzer), Axios FAST, Claisse range, CNA 製品, Epsilon range, Zetium
技術:
X-ray Fluorescence (XRF), Borate fusion
業界:
高度な製造, 電子機器/光学機器, 自動車, 建材, 食品および飲料, 金属, 鉱業, 法医学的分析, 石油、燃料および化学薬品, 化学薬品, 医薬品, 水処理, ポリマー
Elemental Analysis Masterclass 2 - Wavelength & Energy Dispersive XRF Explained

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