2830 ZT 预安装手册
バージョン番号:: 4
2830 ZT
2830 ZT波長分散型蛍光X線(WDXRF)ウェハーアナライザは、膜厚・組成を測定するための究極の機能を提供します。 2830 ZTウェーハアナライザは半導体およびデータストレージ業界向けに開発されており、最大300 mmの各種ウェーハの層の組成、厚さ、ドーパントレベル、表面の均一性を測定できます。
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User manuals
2830 ZT Pre-installation manual
バージョン番号:: 4
2830 ZT User Guide
バージョン番号:: 2
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Elemental Analysis Masterclass 3 - The Basics of Sample Preparation for XRF
- 製品:
- 2830 ZT (XRF Wafer Analyzer), Axios FAST, Claisse range, イプシロン製品, CNA 製品, ゼティウム製品
- 技術:
- XRF分析, Borate fusion
Elemental Analysis Masterclass 2 - Wavelength & Energy Dispersive XRF Explained
- 製品:
- 2830 ZT (XRF Wafer Analyzer), Axios FAST, Claisse range, CNA 製品, イプシロン製品, ゼティウム製品
- 技術:
- XRF分析, Borate fusion
- 業界:
- 高度な製造, 半導体/エレクトロニクス, 自動車, 建材, 食品および飲料, 金属, 鉱業, 法医学的分析, 石油、燃料および化学薬品, 化学薬品, 医薬品, 水処理, ポリマー
Elemental Analysis Masterclass 1 - the theory of X-ray Fluorescence (XRF)
- 製品:
- ゼティウム製品, CNA 製品, Claisse range, 2830 ZT (XRF Wafer Analyzer), イプシロン製品, Axios FAST
- 技術:
- XRF分析, Borate fusion
- 業界:
- 高度な製造, 半導体/エレクトロニクス, 金属, 水処理, 医薬品, 法医学的分析, 食品および飲料, 建材, 石油、燃料および化学薬品, 化学薬品, 鉱業, 自動車, ポリマー
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