薄膜精密量測
X 光薄膜分析
X 光薄膜分析
Zetium 系列智能 Zetium 提供可靠的結果與強而有力的運行 |
Axios FASTXRF 是實現最高通量或最短測量時間的首選 |
2830 ZT先進半導體薄膜的精密量測解決方案 |
Epsilon 4快速準確的在線 (at-line) 元素分析 |
X'Pert³ MRD新一代高分辨X射线衍射仪 |
X'Pert³ MRD XL能滿足研發與品管的自動化 XRD 系統 |
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| 量測類型 | ||||||
| 薄膜測量 | ||||||
| 技術類型 | ||||||
| 波长色散式 X 射线荧光 (WDXRF) | ||||||
| X光繞射(XRD) | ||||||
| 能量色散式 X 光螢光 (EDXRF) | ||||||
