X 射线薄膜分析
![]() Zetium 系列 WDXRF 光譜儀元素分析 |
![]() Axios FAST 高通量同時式WDXRF 光譜儀高样品处理量 |
![]() 2830 ZT先進半導體薄膜的精密量測解決方案 |
![]() Epsilon 4快速準確的線下 (at-line) 元素分析 |
![]() X'Pert³ MRD新一代高分辨X射线衍射仪 |
![]() X'Pert³ MRD XL能滿足研發與品管的自動化 XRD 系統 |
|
---|---|---|---|---|---|---|
更多细节 | 更多细节 | 更多细节 | 更多细节 | 更多细节 | 更多细节 | |
量測類型 | ||||||
薄膜测量 | ||||||
技術類型 | ||||||
波长色散式 X 射线荧光 (WDXRF) | ||||||
X 射线衍射 (XRD) | ||||||
能量色散式 X 射线荧光 (EDXRF) |