Epsilon 4

快速準確的在線 (at-line) 元素分析

  • 多功能桌上型XRF分析儀
  • R 區域中從氟 (F) 到镅 (Am) 的元素分析
  • 業界客製化的版本和軟體

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概覽

以 Epsilon 3 系列 XRF 光譜儀的成功經驗為基礎打造而成的 Epsilon 4,是一款多功能的桌上型 XRF 分析儀,從研發到製程控制,需要分析從氟 (F) 到鋂 (Am) 元素的各個工業領域都適用。

結合了最先進的 X 光偵測器科技,再加上成熟的軟體和智慧型的設計,Epsilon 4 的分析效能足以媲美更強大的立地型 XRF 光譜儀。

工業版本

Epsilon 4 建筑材料

通过高质量、低成本的元素分析提升您的流程效率。
Epsilon 4 建筑材料

產品特色

  • 彈性的配置選擇: Epsilon 4 是高度相容性的分析工具,提供用於元素分析 (F – Am) 的 10 W 版本,從研發到製程控制等各種領域皆可適用。如果需要更快速的樣品分析或是更多的輕元素資訊以及在更具挑戰性的環境中使用,也有提供相應的 15 W 版本,甚至能夠進行碳、氮及氧的分析。

  • 最先進的科技: Epsilon 4 結合了最新的 X 光激發及偵測技術,並搭配完備的分析軟體。15 W 功率 X 光管搭配高電流 (3 mA) 以及最新的矽漂移偵測器 SDD30,再加上精巧的光路設計,讓 Epsilon 4 不只能提供優於 50 W 功率 EDXRF 甚至桌上型 WDXRF 系統的分析效能,而且還具有用電效率這項額外的效益。

  • 快速而敏銳: 使用最新 silicon drift 偵測器技術可以達成快速測量結果,並獲得更高的強度。獨特的偵測器電子裝置可提供 1,500,000 cps 以上的線性計數率 (at 50% dead time),及在不受計數率影響下的能量解析度可小於 135 eV,可提供您更佳的光譜解析度。可讓 Epsilon 4 X光螢光光譜儀在全功率之下進行量測,進而相較於傳統 EDXRF 可實現更快速的樣品分析速度。

  • 減少氦氣的使用: Epsilon 4 的高效能可讓使用者在大氣環境下完成許多量測分析,減少了氦氣或真空系統維護所需的額外時間與成本。在大氣環境下測量時,鈉、鎂和鋁所產生了的低能量 X 光螢光訊號對氣壓與溫度的變化十分敏感。設備內建溫度與氣壓感測器會自動補償這些環境變化,無論天候如何變化,都能確保獲得最佳結果。

Universal and reliable device.

Jakub Nowak — ComerLab Dorota Nowak

規格

樣品處理

样品容量 具備 10 個位置的可移動樣品交換器
样品尺寸 光譜儀可容納最大 52 mm (2 吋) 直徑的樣品
Features 包含旋轉器,以獲得更佳的空氣過濾器分析精確度
大樣品模式可用於分析高達 10 cm 高度的較大樣品

X 光管

Features 可提供最高穩定性的金屬陶瓷側窗
50 微米細型鈹窗可對輕元素 (Na、Mg、Al、Si) 提供高靈敏度
Tube setting Ag 陽極 X 光管,可帶來最佳的 P、S 與 Cl 分析效能

偵測器

偵測器類型 高解析度矽漂移偵測器 (SDD),在 Mn-Kα 下一般為 135 eV
Features 在 50% 空檔時間下可達最高計數率為 1,500,000 counts/s
細型入口的偵測器窗,可提供高靈敏度

軟體

软件
  • 透過 Omnian 無標樣分析解決方案,進行元素篩選
  • 採用 FingerPrint 解決方案,進行合格/不合格分析
  • 在受管制環境下,提高數據安全性
  • 適用於多層樣品的 Stratos
  • 使用 Oil-Trace,在新潤滑油與已使用的潤滑油中,對磨損金屬進行靈活地校準

配件

應用軟體

Epsilon software

適用於 Epsilon 桌上型系統的分析 EDXRF 軟體包

Epsilon 軟體是 XRF 分析軟體平台,與帕納科的 Epsilon 1 和 Epsilon 4 桌上型 EDXRF 系統系列搭配使用。該軟體提供設定和操作 Epsilon 桌上型系統所需的所有功能。軟體內建的高度智慧極大地促進了分析程序的組裝,使用戶能夠從半個世紀的應用專業知識中受益。每日 XRF 分析是一項常規任務,沒有經驗的人員只需經過最少的指導即可輕鬆完成。許多功能都可以增強軟體的可用性。

Stratos

塗層和多層的成分和厚度的測定

Stratos 軟體模組具有演算法,可根據測量結果同時確定層狀材料的化學成分和厚度。該軟體提供了一種快速、簡單且非破壞性的分析塗層、表面層和多層結構的方法。虛擬分析師在為複雜堆疊設定測量程序期間提供智慧。 

Stratos 可用於 Epsilon 4 EDXRF 和 Zetium XRF 光譜儀,無論樣品類型或基質如何,都能提供快速可靠的結果。

Omnian

对所有样品类型进行无标分析

当不存在专用方法或同类型标准样品时,Omnian 可帮助用户实现尽可能好的分析。 作为引领潮流的无标分析软件包,Omnian 融合了先进的软件和超越技术限制的设置样品。 Omnian 可用于 Epsilon 1、Epsilon 4 和 Zetium 光谱仪,无论是什么样品类型或基体,均可提供快速可靠的分析结果。

Oil-Trace

準確的微量元素分析

Oil-Trace 是一個由一套標準組成的軟體包,使用戶能夠使用 WDXRF 和 EDXRF 對液體進行準確可靠的元素分析。 Oil-Trace 解決了分析液體時的兩個問題:

  1. 在存在未知 CHON 元素混合的情況下進行充分的矩陣校正
  2. 修正因分析樣品體積變化而產生的錯誤

透過有效解決這些問題,Oil-Trace 為石油分析帶來了顯著的好處。

FingerPrint

即時材料識別

當分析速度很重要但實際成分並不重要時,FingerPrint 軟體模組與 Epsilon 4 EDXRF 系統結合,是材料測試的理想選擇。指紋辨識通常幾乎不需要樣品製備,且是非破壞性的。

Enhanced Data Security

保護您的資料並滿足審核員的要求

增強資料安全 (EDS) 模組是一個軟體選項,可為 Zetium XRF 光譜儀(透過 SuperQ 軟體)和 Epsilon XRF 光譜儀的使用者提供增強的結果信任。憑藉高級用戶管理、操作記錄、資料保護和應用程式狀態分配等功能,EDS 可以幫助您加強審核追蹤、最大限度地降低錯誤風險,並證明您的 XRF 儀器按預期工作。

標準品 (參考物質)

ADPOL

只需幾分鐘即可獲得聚合物、化合物和塑膠的準確且值得信賴的 XRF 元素組成。

更多資訊

WROXI

準確的多種礦物氧化物分析

WROXI CRM 是一種合成的高品質認證標準物質套件,涵蓋多種氧化物材料,例如礦石、岩石和地質材料。

更多資訊

LAS

使用 Malvern Panalytical XRF 光譜儀進行低合金鋼分析。

用於順序和同步 XRF 光譜儀 Zetium 和 Axios FAST 的低合金鋼 (LAS) 套件基於超過 90 個 CRM,涵蓋多達 21 種元素,以及 4 個用於漂移和樣品製備校正的監測樣品。

更多資訊

RoHS

RoHS 限製材料的準確元素分析。

RoHS 校準模組可協助製造商和研究實驗室遵守 RoHS 2 法規的要求。使用 RoHS 校準標準進行準確的元素分析可以節省您的資金並支持遵守 REACH 等國際法規。

更多資訊

TOXEL

透過 XRF 準確分析聚合物和塑膠中的有毒元素

TOXEL 模組可以輕鬆、準確地對聚烯烴(包括多種 PP 和 PE)中的有毒元素進行元素分析。

更多資訊

經過認證的參考材料

經過認證的標準物質,包括 XRF 校準模組和標準物質

更多資訊

樣品製備

Claisse LeNeo

Claisse LeNeo 熔融仪器可制备用于 XRF 的玻璃熔片,以及用于 AA 和 ICP 分析的硼酸和过氧化物溶液。

Claisse LeNeo 熔融仪器可制备用于 XRF 的玻璃熔片,以及用于 AA 和 ICP 分析的硼酸和过氧化物溶液。 这是一款单熔位电子仪器。

更多資訊
Claisse LeNeo

為什麼選擇 Epsilon 4?

Epsilon 4 隨處可用

由於 Epsilon 4 無須特殊基礎設施的搭配,所以可直接放在生產線旁,也可置於您製程中的任何地方。

其高效能設計能在一般環境中進行大多數的量測應用,從而降低氦氣或使用真空的成本。

提供您分析之外的更多價值

能量分散式 X 光螢光光譜儀適用於從碳 (C) 到鋂 (Am) 的元素分析及從低至 ppm 到 100 wt% 的濃度範圍。 

使用 Omnian 以進行無標樣分析,當您需要更快的分析速度時可使用 FingerPrint 以進行材料比對分析,或使用 Stratos 以進行塗層、表面層及多層結構的簡單非破壞性分析。

搭配強化資料安全性 (Enhanced Data Security) 配件,便可支援如 FDA 21 CFR Part 11 等的法規規範,也可使用 Oil-Trace 以對新啟用或使用過的潤滑油進行燃料-生質燃料混合物的定量。

對所有的樣品類型做好準備

Epsilon 4 能處理各式各樣的樣品類型,包括固體、壓餅、粉體、液體及過濾物。它能執行從碳 (C) 到鋂 (Am) 的非破壞性元素定量分析,分析濃度從 100% 到低至 ppm 等級,樣品量從數毫克到整塊的樣品都可進行分析處理。

Epsilon 4 是傳統系統可靠的替代方案,可適用於各式各樣的產業及應用,即使是具有極高重要性的輕元素分析應用也能勝任,包括:黏合劑生產、採礦、礦物提煉、鐵、鋼及非鐵礦物、RoHS 篩檢及定量、油品及石化、聚合物及相關產業、氣體生產、鑑識科學、製藥、保健產品、環境、食品及化妝品。

Universal and reliable device.

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使用者手冊

軟體下載

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客技術支援

產品服務

效益最大化的解決方案

Malvern Panalytical 提供多項產品服務,以確保您的儀器保持在最佳狀態,發揮一流的性能。我們的應用專家和技術支援服務能確保您的儀器在最佳狀態下運作。

客技術支援

完整維修

  • 電話與線上支援
  • 設備保養與定期檢查
  • 彈性的客戶維護合約
  • 效能認證證書
  • 軟體和硬體相關升級
  • 台灣當地與全球支援

專業技術

為您的作業流程增加更多價值 

  • 樣品製備方法開發與最佳化
  • 分析方法 
  • XRD 的整合式解決方案 
  • 透過 IQ/OQ/PQ 操作驗證、品質保證 (GLP,ISO17025) 或循環測試/實驗室測試
  • 諮詢服務

教育訓練

  • 提供現場教育訓練或訓練中心培訓
  • 包含各種產品、應用分析與軟體的基礎課程及進階課程
強大的線上元素分析。

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