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立即申請我們的學術資助計劃以 Epsilon 3 系列 XRF 光譜儀的成功經驗為基礎打造而成的 Epsilon 4，是一款多功能的桌上型 XRF 分析儀，從研發到製程控制，需要分析從氟 (F) 到鋂 (Am) 元素的各個工業領域都適用。
結合了最先進的 X 光偵測器科技，再加上成熟的軟體和智慧型的設計，Epsilon 4 的分析效能足以媲美更強大的立地型 XRF 光譜儀。
彈性的配置選擇: Epsilon 4 是高度相容性的分析工具，提供用於元素分析 (F – Am) 的 10 W 版本，從研發到製程控制等各種領域皆可適用。如果需要更快速的樣品分析或是更多的輕元素資訊以及在更具挑戰性的環境中使用，也有提供相應的 15 W 版本，甚至能夠進行碳、氮及氧的分析。
最先進的科技: Epsilon 4 結合了最新的 X 光激發及偵測技術，並搭配完備的分析軟體。15 W 功率 X 光管搭配高電流 (3 mA) 以及最新的矽漂移偵測器 SDD30，再加上精巧的光路設計，讓 Epsilon 4 不只能提供優於 50 W 功率 EDXRF 甚至桌上型 WDXRF 系統的分析效能，而且還具有用電效率這項額外的效益。
快速而敏銳: 使用最新 silicon drift 偵測器技術可以達成快速測量結果，並獲得更高的強度。獨特的偵測器電子裝置可提供 1,500,000 cps 以上的線性計數率 (at 50% dead time)，及在不受計數率影響下的能量解析度可小於 135 eV，可提供您更佳的光譜解析度。可讓 Epsilon 4 X光螢光光譜儀在全功率之下進行量測，進而相較於傳統 EDXRF 可實現更快速的樣品分析速度。
減少氦氣的使用: Epsilon 4 的高效能可讓使用者在大氣環境下完成許多量測分析，減少了氦氣或真空系統維護所需的額外時間與成本。在大氣環境下測量時，鈉、鎂和鋁所產生了的低能量 X 光螢光訊號對氣壓與溫度的變化十分敏感。設備內建溫度與氣壓感測器會自動補償這些環境變化，無論天候如何變化，都能確保獲得最佳結果。
Universal and reliable device.
Jakub Nowak — ComerLab Dorota Nowak
| 样品容量 | 具備 10 個位置的可移動樣品交換器 |
|---|---|
| 样品尺寸 | 光譜儀可容納最大 52 mm (2 吋) 直徑的樣品 |
| Features | 包含旋轉器，以獲得更佳的空氣過濾器分析精確度
大樣品模式可用於分析高達 10 cm 高度的較大樣品 |
| Features | 可提供最高穩定性的金屬陶瓷側窗
50 微米細型鈹窗可對輕元素 (Na、Mg、Al、Si) 提供高靈敏度 |
|---|---|
| Tube setting | Ag 陽極 X 光管，可帶來最佳的 P、S 與 Cl 分析效能 |
| 偵測器類型 | 高解析度矽漂移偵測器 (SDD)，在 Mn-Kα 下一般為 135 eV |
|---|---|
| Features | 在 50% 空檔時間下可達最高計數率為 1,500,000 counts/s
細型入口的偵測器窗，可提供高靈敏度 |
| 软件 |
|
|---|
適用於 Epsilon 桌上型系統的分析 EDXRF 軟體包
塗層和多層的成分和厚度的測定
对所有样品类型进行无标分析
準確的微量元素分析
即時材料識別
保護您的資料並滿足審核員的要求
Accurate elemental analysis by XRF of functional polymer additives
测定各种材料中氧化物的完美解决方案
用于低合金钢的元素分析
用于对 RoHS 限制材料进行分析
用于对聚合物中的有毒元素进行准确分析
Claisse 随时准备满足您的需求！
Epsilon 4 隨處可用
由於 Epsilon 4 無須特殊基礎設施的搭配，所以可直接放在生產線旁，也可置於您製程中的任何地方。
其高效能設計能在一般環境中進行大多數的量測應用，從而降低氦氣或使用真空的成本。
能量分散式 X 光螢光光譜儀適用於從碳 (C) 到鋂 (Am) 的元素分析及從低至 ppm 到 100 wt% 的濃度範圍。
使用 Omnian 以進行無標樣分析，當您需要更快的分析速度時可使用 FingerPrint 以進行材料比對分析，或使用 Stratos 以進行塗層、表面層及多層結構的簡單非破壞性分析。
搭配強化資料安全性 (Enhanced Data Security) 配件，便可支援如 FDA 21 CFR Part 11 等的法規規範，也可使用 Oil-Trace 以對新啟用或使用過的潤滑油進行燃料-生質燃料混合物的定量。
Epsilon 4 能處理各式各樣的樣品類型，包括固體、壓餅、粉體、液體及過濾物。它能執行從碳 (C) 到鋂 (Am) 的非破壞性元素定量分析，分析濃度從 100% 到低至 ppm 等級，樣品量從數毫克到整塊的樣品都可進行分析處理。
Epsilon 4 是傳統系統可靠的替代方案，可適用於各式各樣的產業及應用，即使是具有極高重要性的輕元素分析應用也能勝任，包括：黏合劑生產、採礦、礦物提煉、鐵、鋼及非鐵礦物、RoHS 篩檢及定量、油品及石化、聚合物及相關產業、氣體生產、鑑識科學、製藥、保健產品、環境、食品及化妝品。
Universal and reliable device.
Jakub Nowak — ComerLab Dorota Nowak
版本号: 3
版本号: 4
版本号: 3
版本号: 2
版本号: 2
版本号: 1
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以 Epsilon 3 系列 XRF 光譜儀的成功經驗為基礎打造而成的 Epsilon 4，是一款多功能的桌上型 XRF 分析儀，從研發到製程控制，需要分析從氟 (F) 到鋂 (Am) 元素的各個工業領域都適用。
結合了最先進的 X 光偵測器科技，再加上成熟的軟體和智慧型的設計，Epsilon 4 的分析效能足以媲美更強大的立地型 XRF 光譜儀。
彈性的配置選擇: Epsilon 4 是高度相容性的分析工具，提供用於元素分析 (F – Am) 的 10 W 版本，從研發到製程控制等各種領域皆可適用。如果需要更快速的樣品分析或是更多的輕元素資訊以及在更具挑戰性的環境中使用，也有提供相應的 15 W 版本，甚至能夠進行碳、氮及氧的分析。
最先進的科技: Epsilon 4 結合了最新的 X 光激發及偵測技術，並搭配完備的分析軟體。15 W 功率 X 光管搭配高電流 (3 mA) 以及最新的矽漂移偵測器 SDD30，再加上精巧的光路設計，讓 Epsilon 4 不只能提供優於 50 W 功率 EDXRF 甚至桌上型 WDXRF 系統的分析效能，而且還具有用電效率這項額外的效益。
快速而敏銳: 使用最新 silicon drift 偵測器技術可以達成快速測量結果，並獲得更高的強度。獨特的偵測器電子裝置可提供 1,500,000 cps 以上的線性計數率 (at 50% dead time)，及在不受計數率影響下的能量解析度可小於 135 eV，可提供您更佳的光譜解析度。可讓 Epsilon 4 X光螢光光譜儀在全功率之下進行量測，進而相較於傳統 EDXRF 可實現更快速的樣品分析速度。
減少氦氣的使用: Epsilon 4 的高效能可讓使用者在大氣環境下完成許多量測分析，減少了氦氣或真空系統維護所需的額外時間與成本。在大氣環境下測量時，鈉、鎂和鋁所產生了的低能量 X 光螢光訊號對氣壓與溫度的變化十分敏感。設備內建溫度與氣壓感測器會自動補償這些環境變化，無論天候如何變化，都能確保獲得最佳結果。
Universal and reliable device.
Jakub Nowak — ComerLab Dorota Nowak
| 样品容量 | 具備 10 個位置的可移動樣品交換器 |
|---|---|
| 样品尺寸 | 光譜儀可容納最大 52 mm (2 吋) 直徑的樣品 |
| Features | 包含旋轉器，以獲得更佳的空氣過濾器分析精確度
大樣品模式可用於分析高達 10 cm 高度的較大樣品 |
| Features | 可提供最高穩定性的金屬陶瓷側窗
50 微米細型鈹窗可對輕元素 (Na、Mg、Al、Si) 提供高靈敏度 |
|---|---|
| Tube setting | Ag 陽極 X 光管，可帶來最佳的 P、S 與 Cl 分析效能 |
| 偵測器類型 | 高解析度矽漂移偵測器 (SDD)，在 Mn-Kα 下一般為 135 eV |
|---|---|
| Features | 在 50% 空檔時間下可達最高計數率為 1,500,000 counts/s
細型入口的偵測器窗，可提供高靈敏度 |
| 软件 |
|
|---|
適用於 Epsilon 桌上型系統的分析 EDXRF 軟體包
塗層和多層的成分和厚度的測定
对所有样品类型进行无标分析
準確的微量元素分析
即時材料識別
保護您的資料並滿足審核員的要求
Accurate elemental analysis by XRF of functional polymer additives
测定各种材料中氧化物的完美解决方案
用于低合金钢的元素分析
用于对 RoHS 限制材料进行分析
用于对聚合物中的有毒元素进行准确分析
Claisse 随时准备满足您的需求！
Epsilon 4 隨處可用
由於 Epsilon 4 無須特殊基礎設施的搭配，所以可直接放在生產線旁，也可置於您製程中的任何地方。
其高效能設計能在一般環境中進行大多數的量測應用，從而降低氦氣或使用真空的成本。
能量分散式 X 光螢光光譜儀適用於從碳 (C) 到鋂 (Am) 的元素分析及從低至 ppm 到 100 wt% 的濃度範圍。
使用 Omnian 以進行無標樣分析，當您需要更快的分析速度時可使用 FingerPrint 以進行材料比對分析，或使用 Stratos 以進行塗層、表面層及多層結構的簡單非破壞性分析。
搭配強化資料安全性 (Enhanced Data Security) 配件，便可支援如 FDA 21 CFR Part 11 等的法規規範，也可使用 Oil-Trace 以對新啟用或使用過的潤滑油進行燃料-生質燃料混合物的定量。
Epsilon 4 能處理各式各樣的樣品類型，包括固體、壓餅、粉體、液體及過濾物。它能執行從碳 (C) 到鋂 (Am) 的非破壞性元素定量分析，分析濃度從 100% 到低至 ppm 等級，樣品量從數毫克到整塊的樣品都可進行分析處理。
Epsilon 4 是傳統系統可靠的替代方案，可適用於各式各樣的產業及應用，即使是具有極高重要性的輕元素分析應用也能勝任，包括：黏合劑生產、採礦、礦物提煉、鐵、鋼及非鐵礦物、RoHS 篩檢及定量、油品及石化、聚合物及相關產業、氣體生產、鑑識科學、製藥、保健產品、環境、食品及化妝品。
Universal and reliable device.
Jakub Nowak — ComerLab Dorota Nowak
版本号: 3
版本号: 4
版本号: 3
版本号: 2
版本号: 2
版本号: 1
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