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Vous allez être surpris par notre système XRD extrêmement précis et rapide : Aeris. Des résultats précis prêts en moins de cinq minutes. Une acquisition si rapide de données de haute qualité n'a été réalisée que par de grands systèmes XRD posés au sol. L'Aeris compact est petit, puissant et le premier en la matière.
Le chargement de l'échantillon en une étape associé à son accès utilisateur contrôlé et la possibilité de concevoir des programmes de collecte de données hors ligne résultent en un système pratique et polyvalent pour tous les utilisateurs, des débutants aux experts.
Que votre application soit polyvalente ou spécialisée, Aeris peut vous aider.
Fonctionne avec OmniTrust : la solution de conformité de Malvern Panalytical pour les environnements réglementés
La conception modulaire du diffractomètre moderne et polyvalent* Aeris facilite les mises à niveau et ajouts optionnels. La disponibilité garantie des produits signifie une tranquillité d'esprit pour l'avenir.
*Environnement contrôlé, réflexion, transmission, incidence rasante, diffraction 2D.
Avec Aeris, vous n'avez pas besoin de l'expertise XRD.
Son interface intuitive, ses programmes de mesure préchargés et son positionnement facile des échantillons rendent des résultats reproductibles d'excellente qualité accessibles à tous.
Les porte-échantillons de précision et le système de chargement externe d'Aeris permettent à tous les utilisateurs de charger correctement les échantillons à chaque fois, et ce pour tout type d'échantillon, des poudres aux solides.
Grâce à un accès utilisateur contrôlé et à un logiciel de conformité, Aeris est prêt pour tous les flux de travail réglementés (conformément à la norme 21 CFR Part 11).
Plusieurs utilisateurs sont gérés facilement.
Avec son goniomètre classique et son ordinateur intégré, les composants haute performance et les supports d'échantillons de précision de l'Aeris fournissent des résultats précis en seulement cinq minutes.
Great value to purchase, fast and easy to use, fantastic data; it's a winner!
Damian G. Research
| Chargement d'échantillon | Chargement externe de l'échantillon |
|---|---|
| Sample holders | Divers grands porte-échantillons capables de répondre à toutes les exigences |
| Changement d'échantillon | Grand passeur d'échantillon à 6 positions
|
| Automatisation | Compatible avec l'intégration de l'automatisation
|
| Longueur d'onde | Cu / Co |
|---|---|
| Tube setting | Options de 300 W à 600 W réglé sur 30 kV ou 40 kV
|
| Tube housing | Conception brevetée avec technologie de trajectoire intelligente du faisceau incident résistante à la corrosion (CRISP)
La technologie CRISP empêche la corrosion dans la trajectoire du faisceau incident causée par l'air ionisé par les rayons X. Brevet n°US 8437451 B2.
|
| Base configuration | Goniomètre vertical, couplé et découplé θ-θ, échantillons toujours horizontaux
|
|---|---|
| Geometry | Bragg-Brentano, transmission, incidence rasante
|
| Radius | 145 mm |
| Maximum 2θ range | -4° < 2 θ ≤ 142° (avec détecteur à balayage et pleine longueur active)
|
| Angle positioning | Système de positionnement optique direct (DOPS3) avec précision de la position à vie
|
| Scan Speed | 2,17°/s max
|
| Résolution | < 0,04° 2 θ sur LaB6 (avec fentes Soller de 0,01 de rayon)
|
| 2θ linearity | < 0,04° 2 θ
|
| Smallest addressable increment | 0,001 ° |
| Spinning | Divers supports tournants
|
|---|---|
| Non-ambient | Option support chauffant (BTS-500, BTS-150)
|
| Exchange of stages | Échange de supports PreFIX sans alignement
|
| Special stages | Sur demande (manuel, MPSS, in situ)
|
| Détecteur | Choix entre les détecteurs PIXcel1D, PIXcel3D et 1Der
|
| Dimensions | 690 x 770 x 786 mm |
|---|---|
| Dust protection | Système fermé avec chargement externe des échantillons
|
| External cooling water supply | Inutile |
| Compressed air supply | Inutile |
| Alimentation électrique | 100 – 240 V, monophasé
|
| Ordinateur | PC de l'instrument interne
|
| Operation | Interface utilisateur intuitive avec écran tactile de 10,4 po
|
| Interface | LAN, USB, HDMI |
Polyvalence et clarté des données ultimes dans la détection 1D
Technologie Medipix comme détecteur de bande dédié
Le premier détecteur à apporter des données 0D-1D-2D et 3D à votre diffractomètre
Perfectionnements automatiques de Rietveld pour le contrôle de procédés industriels
Analyse XRD dans les environnements automatisés et réglementés
L'outil idéal pour l'analyse cristallographique et bien plus encore
Analyse de contrainte dans les revêtements polycristallins
Votre nouvelle solution pour l'analyse XRD sans surveillance à haut débit
Aeris facilite la caractérisation et l'analyse de tout échantillon dans les environnements de recherche et industriels. Mais parfois, votre application a besoin d'une solution spécialisée, ou vous avez besoin d'une alternative à un système XRD de paillasse étalonnée et prête à l'emploi.
Pour répondre à ce besoin, des éditions d'Aeris sur mesure et spécifiques à l'industrie sont également disponibles prêtes à l'emploi. Ces versions spécialisées pour l'industrie sont fournies avec des progiciels d'expertise personnalisables, pré-étalonnés pour vos méthodes d'analyse spécifiques ou votre matériau d'échantillonnage. Votre Aeris sera préparé pour la mesure et l'analyse automatisées grâce au logiciel RoboRiet intégré. Toujours prêt !
Trouvez votre édition ci-dessous :
Numéro de version: 8
Numéro de version: 8
Numéro de version: 8
Numéro de version: 6
Numéro de version: 7
Numéro de version: 8
Numéro de version: 8
Numéro de version: 8
Numéro de version: 8
Numéro de version: 6
Numéro de version: 6
Numéro de version: 6
Numéro de version: 2
Numéro de version: 4
Numéro de version: 4
Numéro de version: 3
Numéro de version: 2
Numéro de version: 4
Numéro de version: 2
Numéro de version: 3
OmniTrust software update v1.7a
OmniAccess
OmniTrail
More information can be found in the Release and Installation Notes.
OmniAccess
OmniTrail
More information can be found in the Release and Installation Notes.
Pour garantir que votre instrument reste en parfait état et qu'il fonctionne au plus haut niveau, Malvern Panalytical offre toute une gamme de services. Notre expertise et nos services d'assistance assurent un fonctionnement optimal de votre instrument.
Service à vie
Ajout de valeur à vos procédés
Vous allez être surpris par notre système XRD extrêmement précis et rapide : Aeris. Des résultats précis prêts en moins de cinq minutes. Une acquisition si rapide de données de haute qualité n'a été réalisée que par de grands systèmes XRD posés au sol. L'Aeris compact est petit, puissant et le premier en la matière.
Le chargement de l'échantillon en une étape associé à son accès utilisateur contrôlé et la possibilité de concevoir des programmes de collecte de données hors ligne résultent en un système pratique et polyvalent pour tous les utilisateurs, des débutants aux experts.
Que votre application soit polyvalente ou spécialisée, Aeris peut vous aider.
Fonctionne avec OmniTrust : la solution de conformité de Malvern Panalytical pour les environnements réglementés
La conception modulaire du diffractomètre moderne et polyvalent* Aeris facilite les mises à niveau et ajouts optionnels. La disponibilité garantie des produits signifie une tranquillité d'esprit pour l'avenir.
*Environnement contrôlé, réflexion, transmission, incidence rasante, diffraction 2D.
Avec Aeris, vous n'avez pas besoin de l'expertise XRD.
Son interface intuitive, ses programmes de mesure préchargés et son positionnement facile des échantillons rendent des résultats reproductibles d'excellente qualité accessibles à tous.
Les porte-échantillons de précision et le système de chargement externe d'Aeris permettent à tous les utilisateurs de charger correctement les échantillons à chaque fois, et ce pour tout type d'échantillon, des poudres aux solides.
Grâce à un accès utilisateur contrôlé et à un logiciel de conformité, Aeris est prêt pour tous les flux de travail réglementés (conformément à la norme 21 CFR Part 11).
Plusieurs utilisateurs sont gérés facilement.
Avec son goniomètre classique et son ordinateur intégré, les composants haute performance et les supports d'échantillons de précision de l'Aeris fournissent des résultats précis en seulement cinq minutes.
Great value to purchase, fast and easy to use, fantastic data; it's a winner!
Damian G. Research
| Chargement d'échantillon | Chargement externe de l'échantillon |
|---|---|
| Sample holders | Divers grands porte-échantillons capables de répondre à toutes les exigences |
| Changement d'échantillon | Grand passeur d'échantillon à 6 positions
|
| Automatisation | Compatible avec l'intégration de l'automatisation
|
| Longueur d'onde | Cu / Co |
|---|---|
| Tube setting | Options de 300 W à 600 W réglé sur 30 kV ou 40 kV
|
| Tube housing | Conception brevetée avec technologie de trajectoire intelligente du faisceau incident résistante à la corrosion (CRISP)
La technologie CRISP empêche la corrosion dans la trajectoire du faisceau incident causée par l'air ionisé par les rayons X. Brevet n°US 8437451 B2.
|
| Base configuration | Goniomètre vertical, couplé et découplé θ-θ, échantillons toujours horizontaux
|
|---|---|
| Geometry | Bragg-Brentano, transmission, incidence rasante
|
| Radius | 145 mm |
| Maximum 2θ range | -4° < 2 θ ≤ 142° (avec détecteur à balayage et pleine longueur active)
|
| Angle positioning | Système de positionnement optique direct (DOPS3) avec précision de la position à vie
|
| Scan Speed | 2,17°/s max
|
| Résolution | < 0,04° 2 θ sur LaB6 (avec fentes Soller de 0,01 de rayon)
|
| 2θ linearity | < 0,04° 2 θ
|
| Smallest addressable increment | 0,001 ° |
| Spinning | Divers supports tournants
|
|---|---|
| Non-ambient | Option support chauffant (BTS-500, BTS-150)
|
| Exchange of stages | Échange de supports PreFIX sans alignement
|
| Special stages | Sur demande (manuel, MPSS, in situ)
|
| Détecteur | Choix entre les détecteurs PIXcel1D, PIXcel3D et 1Der
|
| Dimensions | 690 x 770 x 786 mm |
|---|---|
| Dust protection | Système fermé avec chargement externe des échantillons
|
| External cooling water supply | Inutile |
| Compressed air supply | Inutile |
| Alimentation électrique | 100 – 240 V, monophasé
|
| Ordinateur | PC de l'instrument interne
|
| Operation | Interface utilisateur intuitive avec écran tactile de 10,4 po
|
| Interface | LAN, USB, HDMI |
Polyvalence et clarté des données ultimes dans la détection 1D
Technologie Medipix comme détecteur de bande dédié
Le premier détecteur à apporter des données 0D-1D-2D et 3D à votre diffractomètre
Perfectionnements automatiques de Rietveld pour le contrôle de procédés industriels
Analyse XRD dans les environnements automatisés et réglementés
L'outil idéal pour l'analyse cristallographique et bien plus encore
Analyse de contrainte dans les revêtements polycristallins
Votre nouvelle solution pour l'analyse XRD sans surveillance à haut débit
Aeris facilite la caractérisation et l'analyse de tout échantillon dans les environnements de recherche et industriels. Mais parfois, votre application a besoin d'une solution spécialisée, ou vous avez besoin d'une alternative à un système XRD de paillasse étalonnée et prête à l'emploi.
Pour répondre à ce besoin, des éditions d'Aeris sur mesure et spécifiques à l'industrie sont également disponibles prêtes à l'emploi. Ces versions spécialisées pour l'industrie sont fournies avec des progiciels d'expertise personnalisables, pré-étalonnés pour vos méthodes d'analyse spécifiques ou votre matériau d'échantillonnage. Votre Aeris sera préparé pour la mesure et l'analyse automatisées grâce au logiciel RoboRiet intégré. Toujours prêt !
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Numéro de version: 8
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Numéro de version: 6
Numéro de version: 7
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Numéro de version: 6
Numéro de version: 6
Numéro de version: 6
Numéro de version: 2
Numéro de version: 4
Numéro de version: 4
Numéro de version: 3
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OmniTrust software update v1.7a
OmniAccess
OmniTrail
More information can be found in the Release and Installation Notes.
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Pour garantir que votre instrument reste en parfait état et qu'il fonctionne au plus haut niveau, Malvern Panalytical offre toute une gamme de services. Notre expertise et nos services d'assistance assurent un fonctionnement optimal de votre instrument.
Service à vie
Ajout de valeur à vos procédés
La XRD rapide de haute qualité, adaptée à vos besoins. Prêt pour l'automatisation et l'intégration. Compact et moderne.
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