過去数十年で、人類は原子スケールの材料を作り出し、以下のような私たちの生活を一変させる新しいデバイスを創造できるようになりました。

  • 半導体チップを使用したコンピュータやスマートフォン
  • 重量配分比に対して高い強度を持つ炭素複合材 
  • 特定の刺激に対して露出が変化する特性があるスマート材料
  • 希土類材料から作成した磁石により小型化したモーター 
  • エネルギー効率が良く、信頼性が高い航空エンジン
  • ユニークな特性と機能を持つナノマテリアル
  • 新しいセンサーと触媒を用いた汚染の少ない乗り物
  • 液晶技術を利用した高解像度フラットディスプレイ
  • Li イオン技術に基づいたコンパクトで長寿命の電池
  • 窒化ガリウム積層体を使用した高輝度の低電力照明

 まだまだ多くのものがあります!

ご存知ですか?食品のラップも多層材料です。 補強、防湿、UV 防御など、各層に特有の機能があります。 中間層は良好な接着のために必要です。 新型材料のおかげで、食べ物をより長く新鮮に保つことができます。  

3D プリントなどのより高度な加工技術が利用できるようになり、新型材料の開発と製造も発展してきました。3D プリントを利用すると、土台から一層ずつ材料を積み上げることができるので、構造、組成、材料特性の点で、さらに柔軟性が高くなりました。  

Advanced materials diagram.png

必要な機能と性能を備えた新型材料の開発と製造においては、材料構造と材料特性の関係を理解することが鍵となります。 材料特性評価により構造と特性を互いに関連付け、性能に与える影響を評価できるので、材料特性評価はこのプロセスの中心となっています。

研究開発

すべての新型材料は、研究所で生まれます。 特定の添加物、コーティング剤、処理を合成または開発し、十分なテストを重ね、性能を評価、改良します。 Malvern Panalytical のソリューションを使用すると、新型材料およびその成分の構造や特性を、原子・分子レベルから顕微鏡レベルで決定することができます。 化学組成分子量粒子サイズ結晶構造レオロジー特性の評価技術が含まれます。 弊社の技術と専門知識を利用すると、世界中の研究者が材料を理解、開発、最適化、製品化して、特化した用途で、幅広く応用することができるようになります。 ほんの少し例を挙げると、Li イオン電池のカソード材料および高輝度 LED は、弊社の装置を使用して開発されました。このことは、弊社の高品質材料特性評価ツールがインパクトを与えうることを実証しています。 弊社は、お客様向けにカスタマイズしたソリューションを開発し、最先端の研究のための特別な測定装置を作り出すことができます。

プロセス開発と制御

材料の構造と特性は組成だけでなく、プロセスにも影響を受けます。 したがって、従来の製造技術を用いる場合でも、付加製造つまり 3D プリントのような高度なプロセス技術を用いる場合でも、必要な性能を備えたばらつきのない製品を製造するためには、プロセスが鍵となります。 このように、新型材料が製品化されたら、オンラインで弊社の研究・ラボ用ツールの工業用タイプを使用して、最適収量と一貫した性能の達成を支援いたします。 粉体流のオンライン粒子サイズ解析、高輝度 LED のバッチ特性評価、またはエンジン部品の自動残留応力分析のいずれに対しても、プロセスソリューションを提供します。 特別なご要望も承ります。 お客様向けにカスタマイズされたプロセス制御ソリューションを開発できます。

マスターサイザーシリーズ

マスターサイザーシリーズ

世界で最もよく利用される粒度測定装置

詳細
測定 粒子サイズ
測定範囲 0.01µm - 3500µm
技術 レーザ回折
分散タイプ 湿式, 乾式, 湿式・乾式

Empyreanシリーズ

Empyreanシリーズ

分析ニーズに対応する多目的ソリューション

詳細
測定 粒子形状, 粒子サイズ, Crystal structure determination, 相同定, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Epitaxy analysis, Interface roughness, 3D structure / imaging
ゴニオメータ構成 試料水平型ゴニオメータ
技術 X-ray Diffraction (XRD)

Zetium

Zetium

卓越した機能

詳細
測定 薄膜測定, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification
元素範囲 Be-U
分解能(Mg-Ka) 35eV
LLD 0.1 ppm - 100%
サンプル処理 160per 8h day - 240per 8h day
技術 Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)

マスターサイザーシリーズ

マスターサイザーシリーズ

世界で最もよく利用される粒度測定装置

Empyreanシリーズ

Empyreanシリーズ

分析ニーズに対応する多目的ソリューション

Zetium

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卓越した機能

詳細 詳細 詳細
測定 粒子サイズ 粒子形状, 粒子サイズ, Crystal structure determination, 相同定, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Epitaxy analysis, Interface roughness, 3D structure / imaging 薄膜測定, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification
測定範囲 0.01µm - 3500µm    
ゴニオメータ構成   試料水平型ゴニオメータ  
元素範囲     Be-U
分解能(Mg-Ka)     35eV
LLD     0.1 ppm - 100%
サンプル処理     160per 8h day - 240per 8h day
技術 レーザ回折 X-ray Diffraction (XRD) Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
分散タイプ 湿式, 乾式, 湿式・乾式    

マスターサイザーシリーズ

Empyreanシリーズ

Zetium

マスターサイザーシリーズ Empyreanシリーズ Zetium

世界で最もよく利用される粒度測定装置

分析ニーズに対応する多目的ソリューション

卓越した機能

詳細 詳細 詳細
技術
レーザ回折
X-ray Diffraction (XRD)
X-ray Fluorescence (XRF)
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)