粒子径、粒子形状およびゼータ電位の測定は、電子工学産業、特にコンピュータ、携帯電話、デジタル家電など、ほとんどの電子機器で使用されている集積回路の原材料の製造過程において重要です。 オーバーサイズの粒子が 1 つあるだけで、ウェハーの損傷や LCD の不良の原因となります。
研究と設計のプロセス全体、また電子部品の製造と品質管理において、マルバーンの分析装置は、マルバーンが持つアプリケーションの知識と組み合わせて、以下のような材料の特性評価をサポートします。
マスターサイザー製品世界で最もよく利用される粒度測定装置 |
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| 詳細 | |
| 測定 | 粒子サイズ |
| 測定範囲 | 0.01µm - 3500µm |
| 技術 | レーザ回折 |
| 分散タイプ | 湿式, 乾式, 湿式・乾式 |
ゼータサイザーシリーズナノ粒子、コロイド、タンパク質のサイズ、電荷の測定に世界で最も広く用いられているシステム |
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| 詳細 | |
| 測定 | 分子サイズ, 分子量, 粒子サイズ, ゼータ電位 |
| 測定温度範囲 | 0°C - 120°C |
| 測定範囲 | 0.3nm - 10µm |
| 技術 | サイズ排除クロマトグラフィー (SEC), 動的光散乱法（DLS）, 電気泳動光散乱, 静的光散乱 |
| 分散タイプ | 湿式 |
| サンプル セルタイプ | Cuvette |
| Molecular Measurement Type | Chromotography, Batch measurement |
モフォロギシリーズ自動画像解析による高度な粒子特性評価 |
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| 詳細 | |
| 測定 | 化合的同定, 粒子形状, 粒子サイズ |
| 測定範囲 | 0.5µm - 1000µm |
| 技術 | 画像分析 |
2830 ZT先進の半導体薄膜測定ソリューション |
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| 詳細 | |
| 測定 | 化合的同定, 薄膜測定, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification |
| 元素範囲 | Be-U |
| 分解能(Mg-Ka) | 35eV |
| サンプル処理 | up to 25 wafers per hour |
| LLD | 0.1 ppm - 100% |
| 技術 | Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) |
Epsilon 1 for Small Spot Analysis細部に焦点を当て、大局的に判断する |
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| 詳細 | |
| 測定 | Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification |
| 元素範囲 | Na-Am |
| 分解能(Mg-Ka) | 145eV |
| LLD | 1 ppm - 100% |
| サンプル処理 | 40per 8h day - 80per 8h day |
| 技術 | X-ray Fluorescence (XRF) |
Epsilon 4高速で正確なアットラインの元素分析 |
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| 詳細 | |
| 測定 | Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification |
| 元素範囲 | C-Am |
| 分解能(Mg-Ka) | 135eV |
| LLD | 1 ppm - 100% |
| サンプル処理 | 80per 8h day - 160per 8h day |
| 技術 | Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) |
Epsilon 4 Building materials高品質で低コストな元素分析によりプロセス効率が向上します。 |
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| 詳細 | |
| 測定 | Elemental analysis, Elemental quantification |
| 技術 | Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) |
Epsilon 4 Food & environment製品品質の信頼性を高める |
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| 詳細 | |
| 測定 | Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification |
| 技術 | Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) |
Epsilon 4 Lubricating oilsコンプライアンス以上の価値 |
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| 詳細 | |
| 測定 | Elemental analysis, Elemental quantification |
| 技術 | Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) |
Epsilon 4 Mining & mineralsプロセス効率と回収率の向上 |
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| 詳細 | |
| 測定 | Elemental analysis, Elemental quantification |
| 技術 | Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) |
Epsilon 4 Oils & fuelsオイルおよび燃料製造費を最大€190,000節約 |
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| 詳細 | |
| 測定 | Elemental analysis, Elemental quantification |
| 技術 | Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) |
Epsilon 4 Pharmaceuticals & cosmetics製品品質の信頼性を高める |
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| 詳細 | |
| 測定 | Elemental analysis, Elemental quantification |
| 技術 | Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) |
Epsilon 4 Polymers plastics and paintsIncrease your polymer product consistency |
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| 詳細 | |
| 測定 | Elemental analysis, Elemental quantification |
| 技術 | Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) |
マスターサイザー製品世界で最もよく利用される粒度測定装置 |
ゼータサイザーシリーズナノ粒子、コロイド、タンパク質のサイズ、電荷の測定に世界で最も広く用いられているシステム |
モフォロギシリーズ自動画像解析による高度な粒子特性評価 |
2830 ZT先進の半導体薄膜測定ソリューション |
Epsilon 1 for Small Spot Analysis細部に焦点を当て、大局的に判断する |
Epsilon 4高速で正確なアットラインの元素分析 |
Epsilon 4 Building materials高品質で低コストな元素分析によりプロセス効率が向上します。 |
Epsilon 4 Food & environment製品品質の信頼性を高める |
Epsilon 4 Lubricating oilsコンプライアンス以上の価値 |
Epsilon 4 Mining & mineralsプロセス効率と回収率の向上 |
Epsilon 4 Oils & fuelsオイルおよび燃料製造費を最大€190,000節約 |
Epsilon 4 Pharmaceuticals & cosmetics製品品質の信頼性を高める |
Epsilon 4 Polymers plastics and paintsIncrease your polymer product consistency |
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| 詳細 | 詳細 | 詳細 | 詳細 | 詳細 | 詳細 | 詳細 | 詳細 | 詳細 | 詳細 | 詳細 | 詳細 | 詳細 | |
| 測定 | 粒子サイズ | 分子サイズ, 分子量, 粒子サイズ, ゼータ電位 | 化合的同定, 粒子形状, 粒子サイズ | 化合的同定, 薄膜測定, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification | Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification | Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification | Elemental analysis, Elemental quantification | Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification | Elemental analysis, Elemental quantification | Elemental analysis, Elemental quantification | Elemental analysis, Elemental quantification | Elemental analysis, Elemental quantification | Elemental analysis, Elemental quantification |
| 測定範囲 | 0.01µm - 3500µm | 0.3nm - 10µm | 0.5µm - 1000µm | ||||||||||
| 測定温度範囲 | 0°C - 120°C | ||||||||||||
| 元素範囲 | Be-U | Na-Am | C-Am | ||||||||||
| 分解能(Mg-Ka) | 35eV | 145eV | 135eV | ||||||||||
| サンプル処理 | up to 25 wafers per hour | 40per 8h day - 80per 8h day | 80per 8h day - 160per 8h day | ||||||||||
| LLD | 0.1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% | ||||||||||
| 技術 | レーザ回折 | サイズ排除クロマトグラフィー (SEC), 動的光散乱法（DLS）, 電気泳動光散乱, 静的光散乱 | 画像分析 | Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) | X-ray Fluorescence (XRF) | Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) |
| 分散タイプ | 湿式, 乾式, 湿式・乾式 | 湿式 | |||||||||||
| サンプル セルタイプ | Cuvette | ||||||||||||
| Molecular Measurement Type | Chromotography, Batch measurement |
マスターサイザーシリーズ |
ゼータサイザーシリーズ |
モフォロギシリーズ |
Epsilon 1 for Small Spot Analysis |
Epsilon 4 |
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世界で最もよく利用される粒度測定装置 |
ナノ粒子、コロイド、タンパク質のサイズ、電荷の測定に世界で最も広く用いられているシステム |
自動画像解析による高度な粒子特性評価 |
細部に焦点を当て、大局的に判断する |
高速で正確なアットラインの元素分析 |
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| 詳細 | 詳細 | 詳細 | 詳細 | 詳細 | |
| 技術 | |||||
| レーザ回折 | |||||
| 動的光散乱法（DLS） | |||||
| 電気泳動光散乱 | |||||
| 静的光散乱 | |||||
| 画像分析 | |||||
| X-ray Fluorescence (XRF) | |||||
| Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | |||||
| 詳細 見積依頼 | 詳細 見積依頼 | 詳細 見積依頼 | 詳細 見積依頼 | 詳細 見積依頼 | |
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