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X'Pert³ MRD XL

薄膜単結晶解析X線回折装置

  • 最大 200 mm までのフルウェーハマッピング
  • 多用途の X 線散乱プラットフォーム
  • パフォーマンスと信頼性の向上

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概要

長い歴史と高い評価を誇るMalvern Panalyticalの薄膜単結晶解析X線回折装置(MRD)は、X’Pert³ MRD XL世代でも採用されています。 

新しいプラットフォームの向上したパフォーマンスと信頼性により、X線散乱法の分析能力と機能を強化し、次の分野に対応しています。

  • 最先端材料物性
  • 研究ならびに工業用薄膜技術
  • 半導体プロセス開発での計量特性評価

X’Pert³ MRD XLは、最大200mmまでの完全なウェハーマッピングにより広範なアプリケーションに対処します。

将来のニーズに対応する優れたシステムの柔軟性

X'Pert³ MRDシステムは、研究からプロセス開発やプロセス管理に至るまで、高度で革新的なX線回折ソリューションを提供します。 

使用されている技術により、すべてのシステムフィールドを既存のすべてのオプションと、今後のハードウェアとソフトウェの新しい機能に対応するようアップグレードできるようになります。

Extended MRD (XL)

X'Pert³ Extended MRD (XL)は、X'Pert³ MRDシステムの範囲に高い汎用性をもたらします。 追加のPreFIX取り付けプラットフォームにより、X線ミラーと高分解能単色光分光器をインラインで取り付けることができ、入射光の散乱強度が大幅に増強します。

データ品質を落とすことなくさまざまなアプリケーションでメリットを得ることができ、高い散乱強度の高分解能X線レーザ回析により、逆空間マッピング測定などの測定時間を短縮し、PreFIXコンセプトにより数分で標準設定から拡張設定に再構築できます。 第2世代のPreFIXにより、簡単に再設定し、光学装置の位置をこれまでになく正確に決定できます。

MRD (XL) In-plane

X'Pert³ MRD (XL)システムをIn-Plane回折に組み込むことで、サンプル表面に対して平行な格子面からの回折を測定できるようになります。

また、1つのシステムで標準配置とIn-Plane配置の分析が可能であるため、多結晶薄膜や単結晶薄膜でさまざまな回折測定を行うことができます。これらは、多数の利点の中の一部にすぎません。 

主な用途

Malvern PanalyticalのX’Pert³ MRDとMRD XLはオールインワンのX線ソリューションシステムで、次のように多くの産業用途に使用できます:

半導体と単結晶ウェハー

成長研究にしろ装置設計にしろ、高分解能XRDを使用した、層品質、厚さ、ひずみ、合金組成の測定が、エレクトロニクスと光エレクトロニクスの多層半導体デバイスでの研究開発の中心にありました。 X線ミラー、モノクロメータ、検出器の選択により、X’Pert3 MRDとMRD XLでは、格子整合半導体から弛緩バッファ層、非標準基盤の新規外来層まで、さまざまな材料システムに適合する高分解能構成が提供されます

多結晶固体と薄膜

多結晶の層とコーティングは、多くの薄膜と多層装置の重要要素です。 付着中の多結晶層形態学の進展は、機能材料の研究開発の主要研究分野です。 X’Pert3 MRDとX’Pert3 MRD XLには、さまざまなスリット、平行ビームX線ミラー、ポリキャピラリレンズ、交差スリット、モノキャピラリを完全装備でき、反射率法、応力、触感、相同定に入射ビーム光学系の完全な選択肢がもたらされます。

極薄膜、ナノマテリアル、非結晶層

機能装置には、不規則、非結晶、ナノ複合体のいずれかの薄膜を含めることができます。 X’Pert3 MRDシステムとMRD XLシステムの柔軟性により、複数の分析手法を組み込むことができます。 さまざまな高分解能光学系、スリット、パラレルプレートコリメータを使用でき、斜入射法、In-Plane回析、反射率法に最適なパフォーマンスがもたらされます。

非室温条件での測定

さまざまな条件下での材料の動作の研究は、材料の研究とプロセス開発の不可欠な部分です。 X’Pert3 MRDとMRD XLは、DHS1100非室温サンプルステージをAnton Paarから簡単に組み込むように設計され、さまざまな温度と不活性雰囲気で自動測定が可能です

Instrument gives excellent accuracy and is of good quality.Good intensity and rapid performance. It is easy to operate.

Yifan Zheng — Zhejiang University of Technology

仕様

一般的な

寸法
1370(幅)×1131(奥行き)×1972(高さ)mm
システムは車輪付きなので、設置や移動が簡単です。
重量
1150 kg

ゴニオメーター

Type
水平ゴニオメータ
Radius
420 mm
Range
-40°< 2θ <160° (付属品による)
精度
長距離精度 ±0.0025°
短距離 (0.5°) 精度 ±0.0004°
再現性(非連続測定時)
< 0.0002°

X線源・検出器・ステージ

Features
Malvern Panalytical の専門工場でクリーンルーム条件下で製造された完全セラミック X 線管
ツールを使わずに線と点のフォーカスを切り替え
現在および将来のすべての X 線管をサポートする 3 kW 発電機
市場で入手可能な最小のピクセル サイズ (55 x 55 µm2) のハイブリッド ピクセル検出器
5 軸クレードル、200 x 200 mm2 x、y 変換機能付き
Rotation
カイ回転±92°
ファイ回転 2 x 360°
Smallest addressable increment
0.0001°

アクセサリ

検出器

PIXcel3D

0D-1D-2Dおよび3Dデータを回析計に取り込む最初の検出器

PIXcel3Dは、独自の2D固体ハイブリッドピクセル検出器です。 各ピクセルは、55 ミクロン x 55 ミクロンで、検出器アレイは256 x 256 ピクセルです。 現在、Medipix3テクノロジーに基づく検出器は、1ピクセルの点像分布関数と、複数のエネルギー識別レベルにより、卓越した信号をノイズにもたらします。

一般的な

X'Pert³ MRD XL Automation

複雑な積層計測用完全自動化ソリューション

X'Pert3 MRD XL ツールの追加ソフトウェアソリューションとして、既存システムの自動化を可能にし、SECS/GEMに準拠したホストコントロールを提供します。

これらの新機能により、MRD XLシステムは、そのモジュール性と柔軟性をホスト制御されたファブ環境で発揮することができるようになりました。これにより、汚染のない研究環境や生産環境を確保できるようになります。 

X’Pert³ MRD XLクリーンルームパッケージ

測定環境が増えても、追加投資は最小限に抑えられます

X'Pert3 MRD XLクリーンルームパッケージは、ファンフィルターユニットなど、既存の機器に後付けしたり、新しい機器に追加したりできる、MRD XL用のスマートソリューションで構成されています。

MRD XLクリーンルームパッケージは、半導体ウェーハサンプルの周囲の空気をフィルタリングして、分析時の汚染を防止します。これにより、新しい機器に投資することなく、幅広い環境で測定することができます。

Smart Manager

データの可能性を引き出す

これまで装置のデータは、手作業の記録、スプレッドシート、またはサイト固有のサーバに引っかかっていることが多々ありました。

X'Pert3をSmart Managerに接続し、クラウド内の装置データを継続的に分析することで、その可能性を最大限に引き出すことができます。これは、Malvern PanalyticalのSmart Managerの一部である当社のデジタルソリューションの1つにすぎません。

ユーザーマニュアル

ソフトウェアのダウンロード

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サポート

設備

投資利益率を最大限にするソリューション

お客様の装置が最高の状態を保ち、最高レベルで機能するために、Malvern Panalyticalではさまざまなサービスを提供しています。 当社の専門知識とサポートサービスは、装置が最適に機能するよう保証します。

サポート

寿命終了までのサービス

  • 電話とリモートサポート
  • 予防メンテナンスと点検
  • 柔軟なカスタマーケア契約
  • パフォーマンス認定書
  • ハードウェアおよびソフトウェアアップグレード
  • ローカルおよびグローバルサポート

専門知識

工程に価値を付加する

  • サンプル調製の開発/最適化
  • 分析方法論 
  • XRD用ターンキーソリューション 
  • IQ/OQ/PQによるオペレーション、品質保証(GLP、ISO17025)、またはラウンドロビン/研究所間の連携
  • コンサルティングサービス

トレーニングと教育

  • オンサイトまたは当社の研修センターでのトレーニング
  • 製品、アプリケーションおよびソフトウェに関する広範な基本コースおよび上級コース
薄膜解析の未来。

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多用途の XRD 研究開発。高強度で測定時間を短縮します。ウェーハ分析のための新世代のツール。

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