粒子径または流体力学半径 RH は、2 つの方法で測定できます。 1 つ目は、動的光散乱 (DLS) です。この方法は一般的に、サンプル全体中の平均サイズを測定するバッチ技術として使用されますが、サイズ排除クロマトグラフィー (GPC/SEC) 用検出器として使用できます。

もう 1 つの方法は、サンプル中すべての成分の RH を得る非常に正確で精密な方法は、SEC による分離後のトリプル検出によるものです。

オンライン型光散乱と粘度計検出器を使用することで、高分子またはタンパク質の分子量と固有粘度を測定できます。従って、クロマトグラムの任意の位置で RH が計算されます。

これらの技法の両方の利点は、調査する物質に関して実質的にサイズの上限または下限がないことです。

分子サイズの測定値は、以下のような用途でご利用いただける場合があります。

  • 分子量を比較して、構造について調べる場合
  • 分子サイズを利用して DLS で、迅速に分子量を推定する場合
  • DLS でタンパク質純度を調べる場合
  • タンパク質の融点測定を行う場合

OmniSEC

OmniSEC

世界最先端のマルチ検出器GPC/SECシステム

詳細
測定 分子構造, 分子サイズ, 分子量
測定温度範囲 20°C - 65°C
技術 ゲル浸透クロマトグラフィー, サイズ排除クロマトグラフィー (SEC), 静的光散乱

ゼータサイザーシリーズ

ゼータサイザーシリーズ

ナノ粒子、コロイド、生体分子の粒子径、粒子荷電(ゼータ電位)の測定で世界で最も多く用いられているシステム

詳細
測定 分子サイズ, 分子量, 粒子サイズ, ゼータ電位
測定温度範囲 0°C - 120°C
測定範囲 0.3nm - 10µm
技術 光散乱, 動的光散乱法(DLS), 電気泳動光散乱, 静的光散乱
分散タイプ 湿式
サンプル セルタイプ Cuvette
Molecular Measurement Type Chromotography, Batch measurement

Empyrean Nanoエディション

Empyrean Nanoエディション

多目的X線散乱プラットフォーム

詳細
測定 分子量, 粒子形状, 粒子サイズ, 比表面積, タンパク質凝集, Protein stability, 相同定, Phase quantification, Pore size distribution
ゴニオメータ構成 Vertical goniometer, Θ-Θ
測定範囲 1 - 100 nm
技術 X-ray Diffraction (XRD), X-ray Scattering

OmniSEC

OmniSEC

世界最先端のマルチ検出器GPC/SECシステム

ゼータサイザーシリーズ

ゼータサイザーシリーズ

ナノ粒子、コロイド、生体分子の粒子径、粒子荷電(ゼータ電位)の測定で世界で最も多く用いられているシステム

Empyrean Nanoエディション

Empyrean Nanoエディション

多目的X線散乱プラットフォーム

詳細 詳細 詳細
測定 分子構造, 分子サイズ, 分子量 分子サイズ, 分子量, 粒子サイズ, ゼータ電位 分子量, 粒子形状, 粒子サイズ, 比表面積, タンパク質凝集, Protein stability, 相同定, Phase quantification, Pore size distribution
測定温度範囲 20°C - 65°C 0°C - 120°C  
測定範囲   0.3nm - 10µm 1 - 100 nm
ゴニオメータ構成     Vertical goniometer, Θ-Θ
技術 ゲル浸透クロマトグラフィー, サイズ排除クロマトグラフィー (SEC), 静的光散乱 光散乱, 動的光散乱法(DLS), 電気泳動光散乱, 静的光散乱 X-ray Diffraction (XRD), X-ray Scattering
分散タイプ   湿式  
サンプル セルタイプ   Cuvette  
Molecular Measurement Type   Chromotography, Batch measurement  

OmniSEC

ゼータサイザーアドバンスシリーズ

Empyrean Nanoエディション

OmniSEC ゼータサイザーアドバンスシリーズ Empyrean Nanoエディション

世界最先端のマルチ検出器GPC/SECシステム

あらゆる用途に対応する光散乱装置

多目的X線散乱プラットフォーム

詳細 詳細 詳細
測定タイプ
分子構造
分子サイズ
分子量
技術
ゲル浸透クロマトグラフィー
サイズ排除クロマトグラフィー (SEC)
動的光散乱法(DLS)
X-ray Diffraction (XRD)