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Claisseにより常にニーズが満たされます
Claisseは、世界中の高品質の認定参照資料(CRM)と、参照資料(RM)を競争力のある価格でお客さまに提供いたします。 Claisseは、お客さまのニーズに関わらず、XRF、AA、ICP分光分析に最適なソリューションを取得するため、必要なあらゆるサービスをご提供できるよう努めております。
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研究と教育のために操作が簡単で柔軟な分析装置をお探しですか?
Epsilon 1はあらゆる組織の分析装置にとって理想的な装置です。 非常に高度な分析機能により単純元素を特定し定量化できます。製造および品質コントロールのために広く業界で使用されていますが、多くの場合、授業では扱われない分析技術を学生に紹介できます。
大学の活性化や、最先端の研究の強化を求めるのであれば、Epsilon 1は、簡単に操作できる小型の安全なX線装置です。化学物質も使用する必要はありません。
Epsilon 1は、化学、地質学、考古学、環境科学、物質科学、法医学など、さまざまな学問での実習や研究活動で学生を教育するために使用できます。
最大感度
Malvern Panalyticalが設計、製造した薄型ウィンドウのAgアノードX線管は、高い品質と感度を誇ります。 アノード材質としてAgを選択することは、リンや硫黄の正確な定量化に最適であり、XRFスペクトルのラインオーバーラップが干渉することなく、信頼度の高い結果を得ることができます。 50 kV X線チュープとジェネレータは、亜鉛などの高エネルギー元素の励起に最適であり、分析時間が短縮し、精度が向上します。
内蔵装置
強力なCPUと120 GBのハードドライブを搭載している内蔵コンピュータにはMicrosoft Windows 7がインストールされており、数千もの分析結果を保存して処理できる柔軟性があります。 高解像度の10.4インチLCDタッチスクリーンは、ウォークアップ操作に最適です。
簡単な通信方法
標準的なコンピュータの周辺機器をUSBやネットワーク接続することで、拡張使用やアプリケーション開発に使用したり、操作中のオペレータをサポートしたりします。
漏出保護
システムの繊細な中心部を保護するために、漏出保護ホイルが取り付けられています。漏出が発生した場合、オペレータは簡単にホイルを交換できます。
| サンプルの装填 | 高い再現性を誇るサンプル配置 |
|---|---|
| サンプルサイズ | サンプルの最大寸法: 15 x 12 x 10 cm (WxDxH) |
| Safety | 液体の漏出保護 |
| Features | 高い安定性を誇るセラミックサイドウィンドウ
50μmの薄型ウィンドウ(Be) 銀アノード、リンと硫黄の分析に最適 |
|---|---|
| 電源 | 最大電圧: 50 kV、重元素の分析に最適 |
| 分解能 | 高分解能(通常135 eV) |
|---|---|
| Features | 8μmの薄型ウィンドウ(Be)
高カウントレート検出器容量 |
| ソフトウェア | 要件に応じてオプション:
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|---|---|
| インターフェース | 大きなボタンを使用するオペレータモードでの簡単操作
多数の機能が使用できるアドバンストモード
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Claisseは、世界中の高品質の認定参照資料(CRM)と、参照資料(RM)を競争力のある価格でお客さまに提供いたします。 Claisseは、お客さまのニーズに関わらず、XRF、AA、ICP分光分析に最適なソリューションを取得するため、必要なあらゆるサービスをご提供できるよう努めております。
Epsilonソフトウェアは、XRF分析ソフトウェアのプラットフォームであり、PANalyticalのEpsilon 1およびEpsilon 4ベンチトップタイプEDXRFシステムシリーズで使用されています。このソフトウェアは、Epsilonベンチトップシステムの設定と操作に必要なすべての機能を備えています。分析プログラムの組み立ては、ソフトウェアに組み込まれた高度なインテリジェンスにより非常に容易に実行でき、ユーザーは半世紀にわたり蓄積されたアプリケーションの専門知識を活用できます。毎日実行するXRF分析は、経験の浅い作業者でも最小限のトレーニングで簡単に実行できるルーチンタスクです。ソフトウェアを簡単に使用できるようにする、多くの機能が用意されています。
Stratosソフトウェアモジュールは、測定から得られた化学組成と層状材料の厚さを同時に測定できるアルゴリズムを採用しています。このソフトウェアは、迅速でシンプルな非破壊的な方法でコーティング、表面層、および多層構造を分析できます。Virtual Analystは、複雑なスタック用の測定プログラムの設定時に情報を提供します。
Stratosは、Epsilon 4 EDXRF、およびZetium XRF分光計で使用可能で、サンプルタイプやマトリクスに関係なく、即座に信頼性の高い結果を得ることができます。
Omnianを使用すると、専用の分析方法や認定済み標準物質が存在しない場合に、最良の定量結果を導き出します。 主流となりつつあるスタンダードレス分析パッケージであるOmnianには、技術に対応する最先端のソフトウェアと設定サンプルが組み込まれています。 Omnianは、Epsilon 1、Epsilon 4、およびZetium分光計で使用可能で、サンプルタイプやマトリクスに関係なく、即座に信頼性の高い結果を得ることができます。
Epsilon 4 EDXRFと組み合わされたFingerPrintソフトウェアモジュールは、分析速度が重要で実際の組成は重要ではない場合の材料テストに最適です。一般的にFingerPrintingは、サンプル調製をほとんど、またはまったく必要とせず非破壊的です。
Enhanced Data Security (EDS)モジュールは、Zetium XRF分光計(SuperQソフトウェアを使用)およびEpsilon XRF分光計を使用しているユーザーのために、信頼性の高い測定結果を提供するソフトウェアオプションです。EDSは高度なユーザー管理、アクションログ、データ保護、アプリケーションステータスの割り当てなどの機能を備えており、監査証跡を強化し、エラー発生リスクを最小限に抑え、XRF装置が期待どおりに動作することを保証します。
新しいEpsilon 1を正しく設置すれば、信頼性の高い分析結果が得られます。 Epsilon 1の設置は簡単です。システムを開梱し、プラグを差し込んで、ガイドの設置手順に従います。 最後に簡単な放射線テストを実施して設置は完了です。システムが安全に動作していることが確認できます。 はい、Epsilon 1を使い始めることは非常に簡単です。 また、必要な安全認証がシステムに付属しているため、安心してご利用いただけます。
セルフ設置により、予期しない状況や遠隔地でエンジニアを派遣できない場合でも、新しい機器を確実に立ち上げ、稼働させることができます。 Epsilon 1はガイド付きのセルフ設置が用意されており、システムを自分で設置し、装置の完全性と安全認証を維持できます。
ガイド付きセルフ設置の利点:
バージョン番号:: 1
バージョン番号:: 5
バージョン番号:: 5
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