Using Computed Tomography to investigate internal sample structure

コンピュータ断層撮影法(CT)を使用すると、薬剤、薄くスライスされた地質材料や建材のサンプルなどX線を透過する材料サンプルの3D画像を生成できます。 この技法の背後にある基本原理は、対象のX線写真を所定の角度方向範囲で複数回撮影することです。 一連のX線写真はエリアディテクタで撮影され、撮影された写真を用いた体積再構成により3D画像を生成します。 一般に、ディテクタの視野に全て収まり、回転軸と垂直のあらゆる方向にX線を透過させるサンプルであれば、この技法で画像を生成できます。

Malvern Panalytical solution for Computed Tomography

Empyreanは、コンピュータ断層撮影測定もできる唯一のラボ用多目的XRD回折装置です。 この両立は、当社のPreFIX光学系と高性能ハイブリッドピクセルディテクタによって実現されています。

Empyreanシリーズ

Empyreanシリーズ

分析ニーズに対応する多目的ソリューション

詳細
測定 粒子形状, 粒子サイズ, Crystal structure determination, 相同定, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Epitaxy analysis, Interface roughness, 3D structure / imaging
ゴニオメータ構成 試料水平型ゴニオメータ
技術 X-ray Diffraction (XRD)

Empyreanシリーズ

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分析ニーズに対応する多目的ソリューション

詳細
測定 粒子形状, 粒子サイズ, Crystal structure determination, 相同定, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Epitaxy analysis, Interface roughness, 3D structure / imaging
ゴニオメータ構成 試料水平型ゴニオメータ
技術 X-ray Diffraction (XRD)

Empyreanシリーズ

Empyreanシリーズ

分析ニーズに対応する多目的ソリューション

詳細
技術
X-ray Imaging
X-ray Diffraction (XRD)
測定タイプ
粒子サイズ
粒子形状
Crystal structure determination
相同定
Phase quantification
Contaminant detection and analysis
Epitaxy analysis
Interface roughness
3D structure / imaging