X線分析

X線回折 (XRD)とX線散乱は、サンプルの結晶構造の分析(X線結晶構造解析)またはサンプルの結晶相の同定と定量化(X線粉末回折/XRPD)などに使用できます。 

X線回折装 置はツールや付属品で拡張し、物体の内部構造を視覚化したり、X線散乱を使用してナノ粒度分布を判断したりすることもできます。    

蛍光X線 (XRF)は、広く使用されていて非破壊的で高速な技法で、材料の元素組成を判断でき、最小のサンプル調製しか必要になりません。 

XRF分析装置は、納入品の毒性元素のスクリーニングから、高スループットで生産に重要な環境の正確な分析まで、さまざまな用途に使用できます。 

Malvern Panalyticalでは幅広いXRF分析装置を取り揃えてお客様の課題に対応しています。

X-ray absorption spectroscopy (XAS) is a powerful element-specific technique used to investigate the local chemical environment, oxidation state, and atomic coordination of elements within a material.

By measuring how x-rays are absorbed as their energy is varied across an element’s absorption edge, XAS provides detailed information about electronic structure and short-range order, even in amorphous, disordered, or dilute systems where diffraction techniques may be limited.

XAS encompasses techniques such as X-ray Absorption Near Edge Structure (XANES) and Extended X-ray Absorption Fine Structure (EXAFS), making it valuable for research in catalysis, energy storage, environmental science, mining, advanced materials, and life sciences.

Malvern Panalytical offers XAS solutions that enable researchers to gain deeper insight into material chemistry and structure.

XRDとXRFは、X線源とX線検出器を使用するため、補完的な技法で類似点がありますが、この2つの技法によって提供される情報は非常に異なります。 

XRDでは、サンプルに存在する結晶相に関する情報が提供され、たとえばさまざまな酸化状態(Fe₂O₃/Fe₃O₄)や多形体(赤鉄鉱とマグヘマイト、両方とも酸化第二鉄Fe₂O₃)など、化合物を区別できます。 

XRFでは、存在する元素(Fe、O)およびその量など、サンプルの化学(元素)組成に関する情報が提供されます。XRFの主なメリットとして、化学元素の量を100 ppb (part per billion)まで検出できることが挙げられます。XRFサンプル調製も、代替技法と比較して、高速、容易、安全です。