X線分析

X線回折 (XRD)とX線散乱は、サンプルの結晶構造の分析(X線結晶構造解析)またはサンプルの結晶相の同定と定量化(X線粉末回折/XRPD)などに使用できます。 

X線回折装 置はツールや付属品で拡張し、物体の内部構造を視覚化したり、X線散乱を使用してナノ粒度分布を判断したりすることもできます。    

蛍光X線 (XRF)は、広く使用されていて非破壊的で高速な技法で、材料の元素組成を判断でき、最小のサンプル調製しか必要になりません。 

XRF分析装置は、納入品の毒性元素のスクリーニングから、高スループットで生産に重要な環境の正確な分析まで、さまざまな用途に使用できます。 

Malvern Panalyticalでは幅広いXRF分析装置を取り揃えてお客様の課題に対応しています。

XRDとXRFは、X線源とX線検出器を使用するため、補完的な技法で類似点がありますが、この2つの技法によって提供される情報は非常に異なります。 

XRDでは、サンプルに存在する結晶相に関する情報が提供され、たとえばさまざまな酸化状態(Fe₂O₃/Fe₃O₄)や多形体(赤鉄鉱とマグヘマイト、両方とも酸化第二鉄Fe₂O₃)など、化合物を区別できます。 

XRFでは、存在する元素(Fe、O)およびその量など、サンプルの化学(元素)組成に関する情報が提供されます。XRFの主なメリットとして、化学元素の量を100 ppb (part per billion)まで検出できることが挙げられます。XRFサンプル調製も、代替技法と比較して、高速、容易、安全です。