The non-ferrous metals industry includes the production of different metals for a very wide range of applications. Important non-ferrous metals are aluminium, copper, lead, nickel, tin, titanium and zinc, and their alloys.

Use of these materials is widespread in industries from automotive manufacturing to construction, in the manufacture of advanced specification, high-technology goods for high temperature, corrosion resistance, as well as for high strength to weight ratio (e.g. titanium and its alloys).   

Highly accurate chemical analysis of major, minor and trace elements at concentrations from sub-ppm to % in the industry is necessary to satisfy the strict requirements for critical process and quality control. XRF for element analysis, XRD for phase characterization and particle size distribution and particle shape analysis are techniques proven to meet these demands as well as to streamline production. 

インシテックシリーズ

インシテックシリーズ

堅牢で信頼性の高いリアルタイム粒度分布測定

詳細
測定 粒子サイズ
測定範囲 0.1µm - 2500µm
技術 レーザ回折
分散タイプ 湿式, 乾式, スプレー, 湿式・乾式

湿式、乾式対応レーザ回折式粒子測定装置 マスターサイザーシリーズ

湿式、乾式対応レーザ回折式粒子測定装置 マスターサイザーシリーズ

マスターサイザーは、世界が認めたレーザ回折式粒子径(粒度)分布測定装置です。ナノサイズからミリメータオーダーまで、湿式、乾式問わず各種試料測定に対応します。

詳細
測定 粒子サイズ
測定範囲 0.01µm - 3500µm
技術 レーザ回折
分散タイプ 湿式, 乾式, 湿式・乾式

Aeris Metalsエディション

Aeris Metalsエディション

製鋼工程の最適化

詳細
測定 Crystal structure determination, 相同定, Phase quantification
X線管アノード材質 Co / Cu (option)
検出器 PIXcel1D
技術 X-ray Diffraction (XRD)

Zetiumの金属エディション

Zetiumの金属エディション

金属中の新しい元素

詳細
測定 薄膜測定, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification
サンプル処理 160per 8h day - 240per 8h day
電源 2,4-4 kW
技術 Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)

インシテックシリーズ

インシテックシリーズ

堅牢で信頼性の高いリアルタイム粒度分布測定

湿式、乾式対応レーザ回折式粒子測定装置 マスターサイザーシリーズ

湿式、乾式対応レーザ回折式粒子測定装置 マスターサイザーシリーズ

マスターサイザーは、世界が認めたレーザ回折式粒子径(粒度)分布測定装置です。ナノサイズからミリメータオーダーまで、湿式、乾式問わず各種試料測定に対応します。

Aeris Metalsエディション

Aeris Metalsエディション

製鋼工程の最適化

Zetiumの金属エディション

Zetiumの金属エディション

金属中の新しい元素

詳細 詳細 詳細 詳細
測定 粒子サイズ 粒子サイズ Crystal structure determination, 相同定, Phase quantification 薄膜測定, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification
測定範囲 0.1µm - 2500µm 0.01µm - 3500µm    
X線管アノード材質     Co / Cu (option)  
検出器     PIXcel1D  
サンプル処理       160per 8h day - 240per 8h day
電源       2,4-4 kW
技術 レーザ回折 レーザ回折 X-ray Diffraction (XRD) Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
分散タイプ 湿式, 乾式, スプレー, 湿式・乾式 湿式, 乾式, 湿式・乾式    

インシテックシリーズ

湿式、乾式対応レーザ回折式粒子測定装置 マスターサイザーシリーズ

Aeris Metalsエディション

Zetiumの金属エディション

インシテックシリーズ 湿式、乾式対応レーザ回折式粒子測定装置 マスターサイザーシリーズ Aeris Metalsエディション Zetiumの金属エディション

堅牢で信頼性の高いリアルタイム粒度分布測定

マスターサイザーは、世界が認めたレーザ回折式粒子径(粒度)分布測定装置です。ナノサイズからミリメータオーダーまで、湿式、乾式問わず各種試料測定に対応します。

製鋼工程の最適化

金属中の新しい元素

詳細 詳細 詳細 詳細
技術
レーザ回折
X-ray Diffraction (XRD)
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)