汚染物質の検出と分析

処理の問題を特定、理解し、製品の品質と安全性を確保する

汚染は製品品質とプロセスの効率に悪影響を与えるだけでなく、公衆衛生や環境の安全に重大な問題を発生させる可能性があります。 

このため、電気機器と消費者向け製品の有害成分のレベルは、健康および安全上の規制で制限されています。 汚染物質や異物は、腐食または損傷した装置の部品、触媒、プロセスの交差汚染、梱包、または生体など、さまざまなものに由来します。

私たちの楽器

汚染物質の検出、列挙、場合によっては汚染物質の識別により、プロセスの問題を正確に特定し、製品の安全性と品質を確保することができます。 

Malvern Panalyticalは、プロセスと製品の両方を理解し監視できる汚染物質分析のソリューションを提供します。これらは、科学捜査、水処理、3Dプリント、製薬とバイオファーマ、建設資材食品と飲料、燃料および化学品などのさまざまな業界で使用されています。

全自動、画像式粒度分布測定装置モフォロギシリーズ

全自動、画像式粒度分布測定装置モフォロギシリーズ

次次世代型を見据えた画像式粒度分布測定装置です。数万個以上の大量の粒子観察画像から、全自動で粒子径と形状を処理し、統計的に有意な分析結果を提供します。

技術
画像分析
波長分散型蛍光X線
エネルギー分散型X線分析
XRD分析
パルス高速熱中性子活性化
Raman Spectroscopy
Zetium

Zetium

ハイエンド波長分散蛍光X線分析装置

技術
画像分析
波長分散型蛍光X線
エネルギー分散型X線分析
XRD分析
パルス高速熱中性子活性化
Raman Spectroscopy
高性能卓上XRF分析装置 Epsilonシリーズ

高性能卓上XRF分析装置 Epsilonシリーズ

次世代を見据えた「元素分析の新時代」を切り開く、高機能・高感度の卓上型エネルギー分散型蛍光X線(EDXRF)装置です。

技術
画像分析
波長分散型蛍光X線
エネルギー分散型X線分析
XRD分析
パルス高速熱中性子活性化
Raman Spectroscopy
X線回折装置(XRD)Empyreanシリーズ

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分析ニーズに対応する多目的ソリューション

技術
画像分析
波長分散型蛍光X線
エネルギー分散型X線分析
XRD分析
パルス高速熱中性子活性化
Raman Spectroscopy
2830 ZT

2830 ZT

先進の半導体薄膜測定ソリューション

技術
画像分析
波長分散型蛍光X線
エネルギー分散型X線分析
XRD分析
パルス高速熱中性子活性化
Raman Spectroscopy
CNA製品

CNA製品

多くの産業プロセスを効果的に制御するオンライン元素分析装置

技術
画像分析
波長分散型蛍光X線
エネルギー分散型X線分析
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パルス高速熱中性子活性化
Raman Spectroscopy
全自動、画像式粒度分布測定装置モフォロギシリーズ

全自動、画像式粒度分布測定装置モフォロギシリーズ

次次世代型を見据えた画像式粒度分布測定装置です。数万個以上の大量の粒子観察画像から、全自動で粒子径と形状を処理し、統計的に有意な分析結果を提供します。

Zetium

Zetium

ハイエンド波長分散蛍光X線分析装置

高性能卓上XRF分析装置 Epsilonシリーズ

高性能卓上XRF分析装置 Epsilonシリーズ

次世代を見据えた「元素分析の新時代」を切り開く、高機能・高感度の卓上型エネルギー分散型蛍光X線(EDXRF)装置です。

X線回折装置(XRD)Empyreanシリーズ

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分析ニーズに対応する多目的ソリューション

2830 ZT

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先進の半導体薄膜測定ソリューション

CNA製品

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多くの産業プロセスを効果的に制御するオンライン元素分析装置

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