X線回折装置（XRD）
マルバーン・パナリティカルのX線回折装置は、品質が非常に高い回折データを取得するように設計され、別のアプリケーションにすばやく切り替えられる柔軟性を備えています。
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Download nowマルバーン・パナリティカルのX線回折装置は、品質が非常に高い回折データを取得するように設計され、別のアプリケーションにすばやく切り替えられる柔軟性を備えています。
X線回折装置（XRD）は、波長が約0.1～10nmの電磁波であるX線の回折現象を利用して物質の構造を解析する装置です。この波長は、原子の間隔と同程度であるため、X線を物質に照射すると、X線は原子によって散乱されます。特に、原子が規則的に配列した結晶構造を持つ物質にX線を照射すると、散乱されたX線は特定の方向で強め合う回折という現象を起こします。この回折を示すX線の散乱方向と強度を解析することで、物質の結晶構造を調べることができます。
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X線回折装置は、大きく分けて以下の3種類があります。
| 種類 | 特性 | 適用範囲 | 詳細 |
|---|---|---|---|
| 粉末X線回折装置 | 高精度粉末解析 |
|
粉末状の試料にX線を照射して分析する方法です。試料の結晶構造や格子定数、結晶子サイズ、ひずみなど、さまざまな情報を高精度で測定できます。 |
| 単結晶X線回折装置 | 詳細な結晶構造構造解析 | 単結晶材料 | 単結晶の試料にX線を照射して分析する方法です。粉末X線回折装置よりも詳細な結晶構造解析が可能です。 |
| 薄膜X線回折装置 | 薄膜分析 |
|
薄膜試料にX線を照射して分析する方法です。薄膜の厚さや結晶構造、界面構造などを分析できます。 |
X線回折装置は、大きく分けて以下の3つの部分で構成されています。
X線回折法(XRD) は汎用性の高い非破壊分析手法であり、粉末サンプル、固体サンプル、液体サンプルの相組成、結晶構造、配向などの物性を分析するために使用します。
相の同定は、未知のサンプルから得られたX線回折パターンとリファレンスデータベースのパターンを比較することで実行できます。
このプロセスは、事件現場の捜査で指紋を照合するようなものです。最も包括的な化合物データベースは、ICDD (International Centre of Diffraction Data) によって維持管理されています。
また、実測による純粋相の回折パターン、または科学技術文献で公開されているパターンや独自の測定で得られたパターンからリファレンスデータベースを構築することもできます。
マルバーン・パナリティカルのEmpyreanなどの最新のコンピュータ制御のXRDシステムは、定性分析ソフトウェア(HighScoreなど) と組み合わせて使用します。このようなシステムでは自動ルーチンを使用することで、複雑な複合混合物による回折パターンであっても、個々の成分を分析および解釈することができます。
卓上型のX線回折装置（XRD）
多目的 X 線回折装置
多目的研究開発用 XRD システム
高速・高精度結晶方位測定
