Epsilon 4

高速で正確なアットラインの元素分析

  • 多機能ベンチトップ XRF 分析装置 
  • Rからフッ素(F)からアメリシウム(Am)までの元素分析
  • 業界に合わせたエディションとソフトウェア

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概要

実績あるEpsilon 3シリーズのXRF分光計の経験と成功に基づいて設計されたEpsilon 4は、R&Dからプロセス管理の分野でフッ素(F)からアメリシウム(Am)まで元素分析が必要なあらゆる業界に対応する多機能装置です。

最新の励起/検出技術と完成された分析ソフトウェアが融合し、スマートにデザインされたEpsilon 4の分析性能は、強力な床置き型のXRF分光計に匹敵します。

業界エディション

Epsilon 4 Building materials

高品質で低コストな元素分析によりプロセス効率が向上します。
Epsilon 4 Building materials

機能

  • 柔軟な設定: Epsilon 4は、R&Dからプロセス管理の分野で、元素分析(F~Am)用の10ワットバージョンで使用できる高い柔軟性を誇る分析ツールです。 高サンプルスループットや拡張された軽元素機能が必要な場合や、より厳しい環境では、炭素、窒素、酸素も分析できる15ワットバージョンが使用できます。

  • 最新の開発: Epsilon 4分析装置では、最新の励起および検出技術と先進の分析ソフトウェアが組み合わされています。 高電流(3 mA)の15ワットX線管と最新のシリコンドリフト検出器SDD30の組み合わせ、さらには光学系のコンパクトな設計により、出力50ワットのEDXRFシステムおよびデスクトップタイプWDXRFシステムよりも優れた分析性能を発揮し、優れた出力効率が実現できます。

  • 高速で高感度: 非常に高い散乱強度を生成する最新のシリコンドリフト検出器を使用して高速測定を実現します。独自の検出器エレクトロニクスにより、線形カウントレート容量を1,500,000 cps (50%の不感時間)以上にして、カウントレートの独立分解能を通常135 eV以上にすることで、スペクトル内の分析ラインを適切に分離することができます。 これにより、Epsilon 4分光計を全出力で実行でき、従来のEDXRFベンチトップ装置よりもサンプルスループットが大幅に向上します。

  • ヘリウム消費の削減: 高性能を誇るEpsilon 4は、大気中でのさまざまな用途に使用できるため、ヘリウムや真空システムのメンテナンスにかかる時間が短縮し、コストを削減できます。 空気中で測定する場合、ナトリウム、マグネシウム、アルミニウムに固有の低エネルギーX線光子は、気圧や温度の変化に敏感です。 内蔵の温度および気圧センサは、これらの環境の変化を補償し、天候にかかわりなく優れた結果を提供します。

Universal and reliable device.

Jakub Nowak — ComerLab Dorota Nowak

仕様

サンプルハンドリング

サンプル容量 取り外し可能な10ポジションサンプルチェンジャ
サンプルサイズ 分光計は直径52 mm (2インチ)までのサンプルに対応できます
Features エアフィルター分析の精度を高めるためにスピナーが搭載されています
大型サンプル(高さ最大10 cm)対応の大量サンプルモード

X線管球

Features 金属セラミック製サイドウィンドウによる高い安定性
軽元素(Na、Mg、Al、Si)用高感度50マイクロメートル薄型ベリリウムウィンドウ
Tube setting 最高性能のAgアノードX線管によるP、S、およびCl分析

検出器

検出器の種類: 高分解能シリコンドリフト検出器(SDD) (通常135 eV @ Mn-Kα)
Features 最大カウントレート: 1,500,000カウント/秒(50%の不感時間)
高感度の薄型エントランス検出器ウィンドウ

ソフトウェア

ソフトウェア
  • Omnianスタンダードレス分析ソリューションによる元素スクリーニング
  • FingerPrintソリューションによる合格/不合格分析
  • 調節環境用のEnhanced Data Security
  • 多層サンプル用Stratos
  • 未使用および使用済み潤滑油中の摩耗金属用のOil-Traceを使用した柔軟なキャリブレーション

アクセサリ

ソフトウェア

Epsilonソフトウェア

Epsilonベンチトップシステム用分析EDXRFソフトウェアパッケージ

Epsilonソフトウェアは、XRF分析ソフトウェアのプラットフォームであり、PANalyticalのEpsilon 1およびEpsilon 4ベンチトップタイプEDXRFシステムシリーズで使用されています。このソフトウェアは、Epsilonベンチトップシステムの設定と操作に必要なすべての機能を備えています。分析プログラムの組み立ては、ソフトウェアに組み込まれた高度なインテリジェンスにより非常に容易に実行でき、ユーザーは半世紀にわたり蓄積されたアプリケーションの専門知識を活用できます。毎日実行するXRF分析は、経験の浅い作業者でも最小限のトレーニングで簡単に実行できるルーチンタスクです。ソフトウェアを簡単に使用できるようにする、多くの機能が用意されています。

Stratos

皮膜および多層膜の組成と厚さを測定

Stratosソフトウェアモジュールは、測定から得られた化学組成と層状材料の厚さを同時に測定できるアルゴリズムを採用しています。このソフトウェアは、迅速でシンプルな非破壊的な方法でコーティング、表面層、および多層構造を分析できます。Virtual Analystは、複雑なスタック用の測定プログラムの設定時に情報を提供します。 


Stratosは、Epsilon 4 EDXRF、およびZetium XRF分光計で使用可能で、サンプルタイプやマトリクスに関係なく、即座に信頼性の高い結果を得ることができます。

Omnian

あらゆる種類のサンプルのスタンダードレス分析

Omnianを使用すると、専用の分析方法や認定済み標準物質が存在しない場合に、最良の定量結果を導き出します。 主流となりつつあるスタンダードレス分析パッケージであるOmnianには、技術に対応する最先端のソフトウェアと設定サンプルが組み込まれています。 Omnianは、Epsilon 1、Epsilon 4、およびZetium分光計で使用可能で、サンプルタイプやマトリクスに関係なく、即座に信頼性の高い結果を得ることができます。

Oil-Trace

正確な微量元素分析

Oil-Traceは、WDXRFおよびEDXRFを使用して正確で信頼性の高い液体試料の元素分析が行える標準試料セットを含むソフトウェアパッケージです。Oil-Traceは、液体分析時に次の2つの問題を解決します。

1) CHON元素の混合物が不明な場合は、適切なマトリックス補正を行う

2) 分析するサンプル量の変動によるエラーの修正

Oil-Traceは、これらの問題に効果的に対処することで、石油分析に大きなメリットをもたらします。

異同識別(フィンガープリント)ソフトウェア

即時材料識別

Epsilon 4 EDXRFと組み合わされたFingerPrintソフトウェアモジュールは、分析速度が重要で実際の組成は重要ではない場合の材料テストに最適です。一般的にFingerPrintingは、サンプル調製をほとんど、またはまったく必要とせず非破壊的です。

優れたデータセキュリティ

データを保護し、監査に準拠する

Enhanced Data Security (EDS)モジュールは、Zetium XRF分光計(SuperQソフトウェアを使用)およびEpsilon XRF分光計を使用しているユーザーのために、信頼性の高い測定結果を提供するソフトウェアオプションです。EDSは高度なユーザー管理、アクションログ、データ保護、アプリケーションステータスの割り当てなどの機能を備えており、監査証跡を強化し、エラー発生リスクを最小限に抑え、XRF装置が期待どおりに動作することを保証します。

標準物質(参照物質)

ADPOL

XRFによる機能性ポリマー添加物の正確な元素分析

ポリマー、化合物、プラスチックの正確で信頼できる XRF 元素組成を数分で取得します。

詳細

WROXI

鉱物における正確で広範囲な濃度試料の酸化物の分析

WROXI CRM は、鉱石、岩石、地質物質などの幅広い酸化物物質をカバーする合成の高品質認定標準物質キットです。

詳細

LAS

Malvern Panalytical XRF分光装置による低合金鋼分析

逐次および同時 XRF 分光計 Zetium および Axios FAST 用の低合金鋼 (LAS) パッケージは、最大 21 個の元素をカバーする 90 を超える CRM と、ドリフトおよびサンプル前処理補正用の 4 つのモニター サンプルに基づいています。

詳細

RoHS

RoHS規制物質の正確な元素分析

RoHS 校正モジュールは、メーカーや研究機関が RoHS 2 法の要件に準拠するのに役立ちます。 RoHS 校正標準を使用した正確な元素分析により、コストを節約し、REACH などの国際規制への準拠をサポートできます。

詳細

TOXEL

XRFを使用したポリマーやプラスチックに含まれる有害元素の正確な分析

TOXEL モジュールを使用すると、さまざまな種類の PP や PE を含むポリオレフィン中の有毒元素の元素分析を簡単かつ正確に行うことができます。

詳細

認定参考資料

XRF 校正モジュールおよび標準物質を含む認定標準物質

詳細

サンプルの準備

Claisse LeNeo

融合におけるClaisseの知識と経験でつねに先を行く。

Claisse LeNeo融合装置は、XRF用のガラスディスクや、AAおよびICP分析用のホウ酸塩および過酸化物溶液を調製します。 1位置電気式装置です。

詳細
Claisse LeNeo

なぜEpsilon 4なのか?

場所を選ばないEpsilon 4

Epsilon 4は、構造上の要件がほとんどないため、場所を気にせずに生産ラインの近くに配置することができます。 

その高性能により、さまざまな環境条件でほとんどの用途に使用でき、ヘリウムや真空の保守費用を削減できます。

分析以上の価値

エネルギー分散型蛍光X線分析装置は、炭素(C)からアメリシウム(Am)までの元素分析を実行し、サブppmから100wt%までの濃度範囲に対応できます。 

Omnianではスタンダードレス分析、異同識別(フィンガープリント)ソフトウェアでは分析速度が重要な物質テスト、Stratosでは被膜、表面層および多層構造体の迅速かつシンプルな非破壊分析をそれぞれ行うことができます。 FDA 21 CFR Part 11などの規制に準拠しているEnhanced Data Securityを使用できます。また、未使用および使用済み潤滑油中の燃料とバイオ燃料混合物を定量化するためにOil-Traceを使用することもできます。

幅広いサンプル種類の測定が可能

Epsilon 4は、固体、粉末(加圧成形/粉体)、液体、フィルターなど、さまざまなタイプのサンプルを分析できます。 炭素(C)フッ素からアメリシウム(Am)までの元素の非破壊定量分析を実行します。濃度は100%からサブPPMレベル、重さは数ミリグラムから数キログラムまでのサンプルを分析できます。

Epsilon 4は、軽元素の分析が最も重要な場合でも、セメント製造、鉱業、鉱物選鉱、鉄、鉄鋼/非鉄金属、RoHSスクリーニング/定量、石油/石油化学製品、ポリマー/関連産業、ガラス製造、法医学、製薬、健康管理用品、環境、食品、化粧品などの幅広い業界や用途向けの従来のシステムに代わる堅牢で高い信頼性を誇るシステムです。

Universal and reliable device.

Jakub Nowak — ComerLab Dorota Nowak

ユーザーマニュアル

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サポート

設備

投資利益率を最大限にするソリューション

お客様の装置が最高の状態を保ち、最高レベルで機能するために、Malvern Panalyticalではさまざまなサービスを提供しています。 当社の専門知識とサポートサービスは、装置が最適に機能するよう保証します。

サポート

寿命終了までのサービス

  • 電話とリモートサポート
  • 予防メンテナンスと点検
  • 柔軟なカスタマーケア契約
  • パフォーマンス認定書
  • ハードウェアおよびソフトウェアアップグレード
  • ローカルおよびグローバルサポート

専門知識

工程に価値を付加する

  • サンプル調製の開発/最適化
  • 分析方法論 
  • XRD用ターンキーソリューション 
  • IQ/OQ/PQによるオペレーション、品質保証(GLP、ISO17025)、またはラウンドロビン/研究所間の連携
  • コンサルティングサービス

トレーニングと教育

  • オンサイトまたは当社の研修センターでのトレーニング
  • 製品、アプリケーションおよびソフトウェに関する広範な基本コースおよび上級コース
強力なアットライン元素分析。

強力なアットライン元素分析。

最新の XRF 分析技術。業界に合わせて事前に調整されています。生産ラインのすぐ隣で迅速な定量化が可能です。

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