X線分析

蛍光X線装置とX線回折装置で判る情報と使用する利点

生産や研究開発の多くの状況では、X線分析装置を使用すると、材料とサンプルの特性評価ができます。 X線は、その波長レンジ(0.01~10nm)から、原子レベルでの結晶構造と元素の分析に非常に適しています。 X線を使用してサンプルの特性を評価する主な技法は次のとおりです。 

XRD分析 

X線回折(XRD)とX線散乱は、サンプルの結晶構造の解析(X線結晶構造解析)またはサンプルの結晶相、化合物の同定と定量化(X線粉末回折/XRPD)などに使用できます。 XRD装置は付属品で機能を拡張でき、温度可変状態、In-Situ状態で解析したり、X線散乱を使用してナノ粒子の粒度分布を解析したりすることもできます。   

XRF分析 

蛍光X線(XRF)は、広く使用されていて非破壊的で高速な技法で、材料の元素組成を判断でき、最小のサンプル調製しか必要としません。 XRF分析装置は、納入品の毒性物質のスクリーニングから、高スループットで生産に重要な元素成分の正確な管理まで、さまざまな用途に使用できます。 Malvern Panalyticalでは幅広いXRF分析装置を取り揃えてお客様の課題に対応しています。

XRDとXRF - どちらが適しているか

XRDとXRFは、X線源とX線検出器を使用するため、補完的な技法で類似点がありますが、この2つの技法によって提供される情報は非常に異なります。 

XRDでは、サンプルに存在する結晶相に関する情報が提供され、たとえばさまざまな酸化状態(Fe2O3/Fe3O4)や結晶多形(赤鉄鉱とマグヘマイト、両方とも酸化第二鉄Fe2O3)など、化合物を区別できます。 

XRFでは、存在する元素(Fe、O)およびその量など、サンプルの化学(元素)組成に関する情報が提供されます。 XRFの主なメリットとして、化学元素の量を100 ppb (part per billion)オーダーまで検出できることが挙げられます。 XRFサンプル調製も、代替技法と比較して、高速、容易、安全です。 

Malvern PanalyticalのX線分析ソリューション

Malvern Panalyticalは、X線分析装置の世界有数のプロバイダーであり、数十年の経験があります。 当社では、XRFとXRDの両方で、使いやすいベンチトップシステムからフルパワーで総合的な床置き型システムまで、幅広いソリューションを提供しています。 これらの技法は補完的で、多くの生産管理環境では、両方のタイプの装置を使用して品質保証を最適にしています。